一种微波辐射计辅助监测系统和方法与流程

本说明书涉及环境监测，特别涉及一种微波辐射计辅助监测系统和方法。

背景技术：

1、地基微波辐射计是基于大气微波遥感技术的气象观测设备，测量多通道大气氧气、水汽吸收谱段的微波辐射亮温，反演实时连续对流层大气温湿廓线等多种大气参数，可作为常规高空观测的有益补充，为天气监测、预警、数值预报、人影指挥及作业效果评估提供连续的观测数据和决策依据。

2、微波辐射计在工作时会受到温度变化和自身噪声的干扰影响，导致监测精度可能发生波动；现有技术通过加装散热装置和周期性地进行定标来尽量保证微波辐射计监测精度可控，但是没有考虑其自身的噪声源和低温源等因素对仪器精度的影响，从而导致仪器的定标周期不能符合实际需要，造成定标不准确，影响监测精度。

3、因此，需要提供一种微波辐射计辅助监测系统和方法，可以辅助微波辐射计进行监测，进一步提高微波辐射计在复杂环境条件下监测精度的稳定性，使微波辐射计的监测结果更具可靠性。

技术实现思路

1、本说明书一个或多个实施例提供一种微波辐射计辅助监测系统。所述系统包括：辅助信息采集模块、干燥模块、调温模块、辅助分析模块和定标管理模块。信息采集模块被配置为采集辅助监测信息；干燥模块被配置为干燥微波辐射计内部；调温模块被配置为控制微波辐射计内部温度；辅助分析模块被配置为基于辅助监测信息确定调控参数，所述调控参数用于调控所述干燥模块和/或所述调温模块；基于定标周期生成定标指令，所述定标周期包括固定定标周期，所述固定定标周期基于所述微波辐射计周围环境的环境恶劣程度确定；定标管理模块被配置为基于定标指令，执行定标操作。

2、本说明书实施例之一提供一种微波辐射计辅助监测方法，所述方法基于微波辐射计辅助监测系统的辅助分析模块执行，包括：基于辅助监测信息确定调控参数，所述调控参数用于调控干燥模块和/或调温模块；基于定标周期生成定标指令；基于所述定标指令，执行定标操作，所述定标操作包括亮温定标和/或噪声定标。

3、本说明书一个或多个实施例提供一种微波辐射计辅助监测装置，所述装置包括至少一个存储器和至少一个处理器，所述至少一个存储器用于存储计算机指令，所述至少一个处理器执行所述计算机指令或部分指令，以实现所述的微波辐射计辅助监测方法。

4、本说明书一个或多个实施例提供一种计算机可读存储介质，所述存储介质存储计算机指令，当计算机读取所述计算机指令时，所述计算机执行所述的微波辐射计辅助监测方法。

5、有益效果：本说明书的一个或多个实施例中，基于环境恶劣程度来确定定标周期，进一步生成定标指令并对微波辐射计进行定标操作；可以实现确保系统能根据实际环境条件对定标周期进行灵活调整，在恶劣环境下更频繁地进行定标校正，以补偿因环境等因素导致的测量偏差。有助于提高微波辐射计在各种复杂环境下的适应能力和精度。

技术特征：

1.一种微波辐射计辅助监测系统，包括：

2.根据权利要求1所述的系统，所述辅助监测信息包括机内温度序列、机内湿度序列、外部温度序列和外部湿度序列；

3.根据权利要求2所述的系统，所述辅助监测特征包括历史辅助监测特征和未来辅助监测特征；

4.根据权利要求1所述的系统，所述定标周期还包括波动定标周期；

5.一种微波辐射计辅助监测方法，其特征在于，基于如权利要求1所述的微波辐射计辅助监测系统的辅助分析模块执行，包括：

6.根据权利要求5所述的方法，所述辅助监测信息包括机内温度序列、机内湿度序列、外部温度序列和外部湿度序列；所述基于辅助监测信息确定调控参数包括：

7.根据权利要求6所述的方法，所述辅助监测特征包括历史辅助监测特征和未来辅助监测特征；所述方法还包括：

8.根据权利要求5所述的方法，所述定标周期还包括波动定标周期；所述方法还包括：

9.一种微波辐射计辅助监测装置，其特征在于，所述装置包括至少一个存储器和至少一个处理器，所述至少一个存储器用于存储计算机指令，所述至少一个处理器执行所述计算机指令或部分指令，以实现权利要求5-8中任一项所述的微波辐射计辅助监测方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述存储介质存储计算机指令，当计算机读取所述计算机指令时，所述计算机执行如权利要求5-8中任一项所述的微波辐射计辅助监测方法。

技术总结本说明书实施例提供一种微波辐射计辅助监测系统和方法，所述系统包括：采集辅助监测信息的信息采集模块；干燥微波辐射计内部的干燥模块；控制微波辐射计内部温度的调温模块；基于辅助监测信息确定调控参数，及基于定标周期生成定标指令的辅助分析模块；定标周期包括固定定标周期，固定定标周期基于微波辐射计所在环境的环境恶劣程度确定；环境恶劣程度基于微波辐射计周边区域的环境温、湿度特征和/或环境生物特征确定；以及，执行定标操作的定标管理模块。该系统可以根据实际环境条件对定标周期进行灵活调整，在恶劣环境下更频繁地进行定标校正，以补偿因环境等因素导致的测量偏差。技术研发人员：徐小伟,晏秋生,胡勇受保护的技术使用者：上海联赣光电科技有限公司技术研发日：技术公布日：2024/7/25