M.2固态内存零插拔测试座的制作方法

本技术涉及一种测试座，具体为m.2固态内存零插拔测试座，属于测试装置。

背景技术：

1、固态内存即固态硬盘，是固态电子存储芯片阵列制成的硬盘，由控制单元和存储单元组成，固态硬盘在接口的规范和定义、功能及使用方法上与普通硬盘的完全相同，在产品外形和尺寸上基本与普通硬盘一致，新兴的u.2，m.2等形式的固态硬盘尺寸和外形与sata机械硬盘完全不同，固态硬盘在生产出之后，需要使用测试装置对其进行测试。

2、目前固态内存标准的m.2插槽是由上下两排弹片组成，m.2固态内存测试时插入测试座的插槽内进行测试，插入时固态内存的金手指与测试座内的弹片接触，而弹片压缩时会与金手指产生摩擦，进而在金手指上留下擦痕，而且现有测试座中的插槽弹片寿命短，更换起来麻烦，为此，提出m.2固态内存零插拔测试座。

技术实现思路

1、有鉴于此，本实用新型希望提供m.2固态内存零插拔测试座，以解决或缓解现有技术中存在的技术问题，至少提供一种有益的选择。

2、本实用新型实施例的技术方案是这样实现的：m.固态内存零插拔测试座，包括主体组件，所述主体组件包括上盖、斜面、弹片一、安装座、装针板一、安装板、弹片二、安装槽、装针板二、滑槽、四个限位柱、四个导柱、四个导向孔和弹簧；

3、所述弹片一均匀安装于所述装针板一的内部，所述装针板一和所述安装座均安装于所述安装板的上表面，所述装针板一安装于所述安装座的内部，所述安装槽均匀开设于所述装针板二靠近所述装针板一的一侧，所述弹片二安装于所述安装槽的内部，所述斜面开设于所述上盖的内顶壁，四个所述滑槽对称开设于所述上盖的前表面和后表面，所述限位柱滑动连接于所述滑槽的内侧壁，所述弹簧套接于所述导柱的外侧壁，四个所述导向孔对称开设于所述安装座的上表面。

4、进一步优选的，所述弹片一的顶端位于所述安装座的上方，所述弹片二顶部靠近所述弹片一的一端与所述弹片一的位置相对应，所述装针板二与所述安装座固定连接。

5、进一步优选的，所述弹片二顶部远离所述弹片一的一端与所述斜面贴合，所述弹片二的底部与所述安装座卡接。

6、进一步优选的，四个所述限位柱对称固定连接于所述安装座的前表面和后表面，四个所述导柱对称固定连接于所述上盖的内顶壁。

7、进一步优选的，所述导柱滑动连接于所述导向孔的内部，所述弹簧的两端对称固定连接于所述上盖的内顶壁和所述安装座的上表面。

8、进一步优选的，所述安装板的下表面安装有定位组件，所述定位组件包括pcb板、固态内存本体、定位座、卡扣和限位块；

9、所述安装板的下表面安装于所述pcb板的上表面，所述弹片一和所述弹片二的底端均与所述pcb板连通。

10、进一步优选的，所述定位座安装于所述pcb板的上表面，所述固态内存本体的一侧通过所述卡扣卡接于所述定位座的上表面。

11、进一步优选的，所述固态内存本体的另一侧通过所述限位块卡接于所述安装座的上表面。

12、本实用新型实施例由于采用以上技术方案，其具有以下优点：本实用新型通过向下按压上盖，斜面向下按压弹片二，进而可以使弹片二靠近弹片一的一端向上翘起，弹片一与固态内存底面的金手指接触，松开上盖后，上盖带动斜面复位，弹片二回弹复位，弹片二与固态内存表面的金手指接触，进而实现了对固态内存的零插拔，而且弹片一、弹片二与固态内存的金手指不存在相对摩擦，从而不会对产品金手指造成损伤，弹片一和弹片二均采用一体化设计，有相对较大的横截面，测试阻抗小，使用寿命长。

13、上述概述仅仅是为了说明书的目的，并不意图以任何方式进行限制。除上述描述的示意性的方面、实施方式和特征之外，通过参考附图和以下的详细描述，本实用新型进一步的方面、实施方式和特征将会是容易明白的。

技术特征：

1.m.2固态内存零插拔测试座，包括主体组件（101），其特征在于：所述主体组件（101）包括上盖（11）、斜面（12）、弹片一（13）、安装座（14）、装针板一（15）、安装板（16）、弹片二（17）、安装槽（18）、装针板二（19）、滑槽（20）、四个限位柱（21）、四个导柱（22）、四个导向孔（23）和弹簧（24）；

2.根据权利要求1所述的m.2固态内存零插拔测试座，其特征在于：所述弹片一（13）的顶端位于所述安装座（14）的上方，所述弹片二（17）顶部靠近所述弹片一（13）的一端与所述弹片一（13）的位置相对应，所述装针板二（19）与所述安装座（14）固定连接。

3.根据权利要求2所述的m.2固态内存零插拔测试座，其特征在于：所述弹片二（17）顶部远离所述弹片一（13）的一端与所述斜面（12）贴合，所述弹片二（17）的底部与所述安装座（14）卡接。

4.根据权利要求1所述的m.2固态内存零插拔测试座，其特征在于：四个所述限位柱（21）对称固定连接于所述安装座（14）的前表面和后表面，四个所述导柱（22）对称固定连接于所述上盖（11）的内顶壁。

5.根据权利要求4所述的m.2固态内存零插拔测试座，其特征在于：所述导柱（22）滑动连接于所述导向孔（23）的内部，所述弹簧（24）的两端对称固定连接于所述上盖（11）的内顶壁和所述安装座（14）的上表面。

6.根据权利要求1所述的m.2固态内存零插拔测试座，其特征在于：所述安装板（16）的下表面安装有定位组件（301），所述定位组件（301）包括pcb板（31）、固态内存本体（32）、定位座（33）、卡扣（34）和限位块（36）；

7.根据权利要求6所述的m.2固态内存零插拔测试座，其特征在于：所述定位座（33）安装于所述pcb板（31）的上表面，所述固态内存本体（32）的一侧通过所述卡扣（34）卡接于所述定位座（33）的上表面。

8.根据权利要求7所述的m.2固态内存零插拔测试座，其特征在于：所述固态内存本体（32）的另一侧通过所述限位块（36）卡接于所述安装座（14）的上表面。

技术总结本技术提供了M.2固态内存零插拔测试座，包括主体组件，所述主体组件包括上盖、斜面、弹片一、安装座、装针板一、安装板、弹片二、安装槽、装针板二、滑槽、四个限位柱、四个导柱、四个导向孔和弹簧；所述弹片一均匀安装于所述装针板一的内部。本技术通过向下按压上盖，斜面向下按压弹片二，进而可以使弹片二靠近弹片一的一端向上翘起，弹片一与固态内存底面的金手指接触，松开上盖后，弹片二与固态内存表面的金手指接触，进而实现了对固态内存的零插拔，而且弹片与金手指不存在相对摩擦，从而不会对产品金手指造成损伤，弹片采用一体化设计，有相对较大的横截面，测试阻抗小，使用寿命长。技术研发人员：王国华,李泽林受保护的技术使用者：深圳市斯纳达科技有限公司技术研发日：20230309技术公布日：2024/1/15