一种用于内存测试的内存条及其内存测试方法与流程

本发明属于内存测试，具体涉及一种用于内存测试的内存条及其内存测试方法。

背景技术：

1、内存芯片通常上设置有一ten(test enable，测试使能)引脚，当对ten引脚接入高电平时，可使内存芯片进入ct模式(connectivity test mode，连接性测试模式)。当内存芯片处于ct模式时，可对内存芯片与soc(system on chip，系统级芯片)上内存控制器(memory controller)之间的电连接连续性进行测试。

2、目前，内存芯片生产厂商在内存芯片出厂前，通常会使用ate(auto testequipment，自动测试设备)测试仪通过ten引脚使内存芯片进入ct模式，以对内存芯片进行电连接开短路测试(continuity testing，用于确认在内存芯片进行测试时所有的信号引脚都与测试系统相应的通道在电性能上完成了连接，并且没有信号引脚与其他信号引脚、电源或地发生短路)，该测试仅可以对内存芯片内部的电连接连续性进行测试。

3、对于ddr(double data rate，双倍数据速率)内存芯片，普遍需要将多颗内存芯片与pcb(printed circuit board，印刷电路板)组合成内存条，再将该内存条插接到主板上使用。但是，在使用现有技术过程中，发明人发现现有技术中至少存在如下问题：

4、目前内存条上均未将内存芯片的ten引脚连接至内存条的金手指，使得使用内存条时，无法通过ten引脚使内存芯片进入ct模式，进而无法在内存条出厂后，实现对内存芯片与cpu上内存控制器之间的电连接连续性等测试。

技术实现思路

1、本发明旨在至少在一定程度上解决上述技术问题，本发明提供了一种用于内存测试的内存条及其内存测试方法。

2、为了实现上述目的，本发明采用以下技术方案：

3、第一方面，本发明提供了一种用于内存测试的内存条，包括基板和设置在所述基板上的若干内存芯片，所述基板上还设置有连接电路和金手指，所述连接电路的一端分别与若干内存芯片的ten引脚电连接，所述连接电路的另一端与所述金手指的测试触点电连接，所述金手指的测试触点为所述金手指的任一金属触片。

4、在一个可能的设计中，所述内存条采用udimm内存条、sodimm内存条、rdimm内存条或lrdimm内存条；对应地，选用udimm内存条、sodimm内存条、rdimm内存条或lrdimm内存条的任一rfu引脚作为测试触点。

5、在一个可能的设计中，所述内存条采用udimm内存条，udimm内存条共有18个rfu引脚，分别为2、3、7、70、75、76、81、143、144、149、152、213、214、219、220、225、226、288号引脚；选用udimm内存条的144号rfu引脚作为测试触点。

6、在一个可能的设计中，所述内存条采用sodimm内存条，sodimm内存条共有3个rfu引脚，分别为5、128、143号引脚；选用sodimm内存条的5号rfu引脚作为测试触点。

7、在一个可能的设计中，所述内存条采用rdimm内存条，rdimm内存条共有7个rfu引脚，分别为2、144、149、150、220、231、232号引脚；选用rdimm内存条的144号rfu引脚作为测试触点。

8、在一个可能的设计中，所述内存条采用lrdimm内存条，lrdimm内存条共有7个rfu引脚，分别为2、144、149、150、220、231、232号引脚；选用lrdimm内存条的144号rfu引脚作为测试触点。

9、第二方面，本发明提供了一种用于内存测试的内存条的内存测试方法，由预设的主板控制单元执行，所述主板控制单元依次通过所述金手指和所述连接电路与若干内存芯片电连接；所述方法包括：

10、所述主板控制单元生成芯片测试指令，并通过所述金手指和所述连接电路将若干内存芯片的ten引脚置高位，以使所述内存条进入测试模式；

11、所述主板控制单元向若干内存芯片输送预设输入数据，并读取若干内存芯片的输出数据；

12、所述主板控制单元计算所述预设输入数据对应的预期输出值，并根据所述预期输出值与所述输出数据对若干内存芯片进行分析，得到若干内存芯片的测试结果。

13、在一个可能的设计中，所述芯片测试指令包括开短路测试指令，所述测试模式包括ct模式；对应地，所述主板控制单元生成开短路测试指令后，所述主板控制单元依次通过所述金手指和所述连接电路将若干内存芯片的ten引脚置高位，以使若干内存芯片进入ct模式。

14、在一个可能的设计中，所述主板控制单元根据jedec标准计算所述预设输入数据对应的预期输出值。

15、本发明可将内存芯片的ten引脚接出，可便于主板或其他测试设备通过金手指的测试触点控制各内存芯片的ten引脚，进而在内存条出厂后也可对内存条进行开短路测试等测试，有助于在主板级全面测试内存条的金手指接触情况。具体地，本发明中，金手指的测试触点可为预设的任一rfu引脚，金手指的测试触点可通过连接电路连接各内存芯片的ten引脚，进而可便于在将本发明中的内存条安装在主板或其他测试设备上时，主板或其他测试设备可通过金手指和连接电路，驱动各内存芯片进入如ct模式等测试模式，进而实现对内存条的开短路测试等测试功能，由此在内存条出厂后，也可实现对内存条的自主测试，利于内存条的应用端用户有效把控内存条的质量，具备推广应用的价值。

技术特征：

1.一种用于内存测试的内存条，其特征在于：包括基板和设置在所述基板上的若干内存芯片，所述基板上还设置有连接电路和金手指，所述连接电路的一端分别与若干内存芯片的ten引脚电连接，所述连接电路的另一端与所述金手指的测试触点电连接，所述金手指的测试触点为所述金手指的任一金属触片。

2.根据权利要求1所述的一种用于内存测试的内存条，其特征在于：所述内存条采用udimm内存条、sodimm内存条、rdimm内存条或lrdimm内存条；对应地，选用udimm内存条、sodimm内存条、rdimm内存条或lrdimm内存条的任一rfu引脚作为测试触点。

3.根据权利要求1所述的一种用于内存测试的内存条，其特征在于：所述内存条采用udimm内存条，udimm内存条共有18个rfu引脚，分别为2、3、7、70、75、76、81、143、144、149、152、213、214、219、220、225、226、288号引脚；选用udimm内存条的144号rfu引脚作为测试触点。

4.根据权利要求1所述的一种用于内存测试的内存条，其特征在于：所述内存条采用sodimm内存条，sodimm内存条共有3个rfu引脚，分别为5、128、143号引脚；选用sodimm内存条的5号rfu引脚作为测试触点。

5.根据权利要求1所述的一种用于内存测试的内存条，其特征在于：所述内存条采用rdimm内存条，rdimm内存条共有7个rfu引脚，分别为2、144、149、150、220、231、232号引脚；选用rdimm内存条的144号rfu引脚作为测试触点。

6.根据权利要求1所述的一种用于内存测试的内存条，其特征在于：所述内存条采用lrdimm内存条，lrdimm内存条共有7个rfu引脚，分别为2、144、149、150、220、231、232号引脚；选用lrdimm内存条的144号rfu引脚作为测试触点。

7.一种如权利要求1至6任一项所述的用于内存测试的内存条的内存测试方法，其特征在于：由预设的主板控制单元执行，所述主板控制单元依次通过所述金手指和所述连接电路与若干内存芯片电连接；所述方法包括：

8.根据权利要求7所述的一种用于内存测试的内存条的内存测试方法，其特征在于：所述芯片测试指令包括开短路测试指令，所述测试模式包括ct模式；对应地，所述主板控制单元生成开短路测试指令后，所述主板控制单元依次通过所述金手指和所述连接电路将若干内存芯片的ten引脚置高位，以使若干内存芯片进入ct模式。

9.根据权利要求7所述的一种用于内存测试的内存条的内存测试方法，其特征在于：所述主板控制单元根据jedec标准计算所述预设输入数据对应的预期输出值。

技术总结本发明属于内存测试技术领域，其目的在于提供一种用于内存测试的内存条及其内存测试方法。本发明公开了一种用于内存测试的内存条，包括基板和设置在所述基板上的若干内存芯片，所述基板上还设置有连接电路和金手指，所述连接电路的一端分别与若干内存芯片的TEN引脚电连接，所述连接电路的另一端与所述金手指的测试触点电连接，所述金手指的测试触点为所述金手指的任一金属触片。本发明可将内存芯片的TEN引脚接出，可便于主板或其他测试设备通过金手指的测试触点控制各内存芯片的TEN引脚，进而在内存条出厂后也可对内存条进行开短路测试等测试，有助于在主板级全面测试内存条的金手指接触情况。技术研发人员：张黎明,蔡书文受保护的技术使用者：皇虎测试科技（深圳）有限公司技术研发日：技术公布日：2024/5/8