一种自动测试验证装置的制作方法

技术特征：
1.一种自动测试验证装置，其特征在于，包括：mcu模块，第一输入端与上位机的输出端连接，用于对所述上位机发出的测试指令进行指令解析，生成第一解析信息或者第二解析信息；fpga模块，输入端与所述mcu模块的第一输出端连接，用于对所述第一解析信息进行指令封装，获得封装测试信息；测试模块，内部放置待测芯片，且其第一输入端与所述fpga模块的输出端连接，第二输入端与所述mcu模块的第二输出端连接，输出端与所述mcu模块的第二输入端连接，根据所述封装测试信息或者所述第二解析信息，对待测芯片进行测试验证，生成测试结果，并传输回所述mcu模块进行解析；所述mcu模块的第三输出端与所述上位机的输入端连接，将解析后的测试结果反馈回所述上位机；所述上位机根据解析后的测试结果，生成测试报告并呈现给用户，完成待测芯片的自动测试验证。2.如权利要求1所述的自动测试验证装置，其特征在于，该自动测试验证装置还包括采集模块，设置于所述测试模块与所述mcu模块之间，用于采集所述测试结果并传输至所述mcu模块。3.如权利要求1所述的自动测试验证装置，其特征在于，该自动测试验证装置还包括电源模块，分别与所述上位机、mcu模块、fpga模块、测试模块和采集模块连接，为各个模块提供电源。4.如权利要求3所述的自动测试验证装置，其特征在于，该自动测试验证装置还包括电平转换模块，设置于所述fpga模块与所述测试模块之间，用于对所述封装测试信息的电平进行自动匹配，使得所述封装测试信息的电平符合所述测试模块的电平要求。5.如权利要求4所述的自动测试验证装置，其特征在于，该自动测试验证装置还包括pmu，输入端与所述电源模块连接，第一输出端与所述电平转换模块连接，第二输出端与所述测试模块连接，用于对所述电源模块提供的电源信息进行处理，分别生成第一电源信息和第二电源信息，并分别传输至所述电平转换模块和所述测试模块。6.如权利要求1所述的自动测试验证装置，其特征在于，所述mcu模块包括：收发模块，第一输入端与所述上位机的输出端连接，第二输入端与所述测试模块的第一输出端连接，第一输出端与所述上位机的输入端连接，用于接收所述测试指令，并接收所述测试结果反馈回所述上位机；adc，第一输入端与所述测试模块的第二输出端连接，第二输入端与所述收发模块的第一输出端连接，用于采集待测芯片的电压信息，并根据所述测试指令，对待测芯片的电压信息进行微调，获得供电电压信息；解析模块，输入端与所述收发模块的第二输出端连接，对所述测试指令的指令类型进行解析判断，生成指令判定信息；控制模块，第一输入端与所述adc的输出端连接，第二输入端与所述解析模块的输出端连接，第一输出端与所述fpga模块连接，第二输出端与所述测试模块的第二输入端连接，根据所述供电电压信息和指令判定信息，生成所述第一解析信息或者所述第二解析信息，并对应传输至所述fpga模块或者所述测试模块。7.如权利要求1所述的自动测试验证装置，其特征在于，所述fpga模块内部包括：
iic处理核，与所述mcu模块的第一输出端连接，对指令类型为iic指令的第一解析信息进行数据封装；i3c处理核，与所述mcu模块的第二输出端连接，对指令类型为i3c指令的第一解析信息进行数据封装。8.如权利要求1所述的自动测试验证装置，其特征在于，所述测试结果包括供电电压信息、运行速率、电流信息、温度信息以及湿度信息。9.如权利要求1所述的自动测试验证装置，其特征在于，该自动测试验证装置还包括寄存器，设置于所述mcu模块与所述fpga模块之间，用于测量两者之间的慢速静态的电气特性。