一种自动测试验证装置的制作方法

2021-04-23 15:51:00 来源：中国专利 TAG：测试装置芯片验证

技术总结
本实用新型公开了一种自动测试验证装置，包括上位机、MCU模块、FPGA模块和测试模块；MCU模块的第一输入端与上位机的输出端连接；FPGA模块的输入端与MCU模块的第一输出端连接；测试模块内部放置待测芯片，且测试模块的第一输入端与FPGA模块的输出端连接，第二输入端与MCU模块的第二输出端连接，输出端与MCU模块的第二输入端连接；MCU模块的第三输出端与上位机的输入端连接。此实用新型解决了传统测试技术存在测试效率低，操作困难的问题，通过设置上位机自动编码测试脚本，实现了自动化的高效测试，保证了测试的产品质量和开发进度，方便了试验可操作性。了试验可操作性。了试验可操作性。

技术研发人员：袁家龙
受保护的技术使用者：聚辰半导体股份有限公司
技术研发日：2020.08.18
技术公布日：2021/4/23

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