一种存储器件的测试方法、测试系统及测试设备与流程

技术特征：

1.一种存储器件的测试方法，其特征在于，包括：

获取第一逻辑单元与第二逻辑单元的坏块信息；

利用同一使能信号对存储器件中的第一逻辑单元和第二逻辑单元进行老化测试；

根据所述坏块信息，编码所述使能信号得到所述第一逻辑单元与所述第二逻辑单元的掩码；

输出所述掩码。

2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述老化测试包括循环进行的数据擦除、数据读取、数据写入和数据读取的过程；

还包括：

上一次对所述第一逻辑单元与所述第二逻辑单元进行老化测试得到的坏块信息进行存储；

所述获取第一逻辑单元与第二逻辑单元的坏块信息包括：

获取上一次老化测试存储的所述第一逻辑单元与所述第二逻辑单元的坏块信息。

3.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述掩码对应有波形。

4.根据权利要求3所述的测试方法，其特征在于，所述输出所述掩码包括：

若所述第一逻辑单元存在坏块，则所述掩码在对应所述第一逻辑单元的位置输出为高电平，若所述第一逻辑单元不存在坏块，则所述掩码在对应所述第一逻辑单元的位置输出为低电平；

若所述第二逻辑单元存在坏块，则所述掩码在对应所述第二逻辑单元的位置输出为高电平，若所述第二逻辑单元不存在坏块，则所述掩码在对应所述第二逻辑单元的位置输出为低电平。

5.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述掩码和所述使能信号共同驱动所述第一逻辑单元与所述第二逻辑单元进行工作。

6.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述存储器件为nand器件。

7.一种存储器件的测试系统，其特征在于，包括：掩码单元、控制单元、坏块信息存储单元、第一逻辑单元与第二逻辑单元；

所述掩码单元用于提供使能信号为所述第一逻辑单元与所述第二逻辑单元提供同一使能信号，以及进行所述同一使能信号的编码得到所述同一使能信号的掩码；

所述控制单元用于根据所述同一使能信号和所述掩码控制所述第一逻辑单元与所述第二逻辑单元进行工作；

所述坏块信息存储单元用于存储上一次老化测试得到的所述第一逻辑单元和所述第二逻辑单元的坏块信息。

8.根据权利要求7所述的测试系统，其特征在于，所述掩码单元具体用于根据所述坏块信息存储单元存储的所述第一逻辑单元和所述第二逻辑单元的坏块信息，对所述同一使能信号编码得到所述第一逻辑单元和所述第二逻辑单元的掩码。

9.根据权利要求7所述的测试系统，其特征在于，所述坏块信息存储单元具体用于存储所述第一逻辑单元的地址和坏块信息，存储所述第二逻辑单元的地址和坏块信息。

10.根据权利要求9所述的测试系统，其特征在于，所述掩码的数量等于所述地址的数量。

11.一种存储器件的测试设备，其特征在于，采用权利要求7-10任意一项的测试系统对所述存储器件进行测试。

技术总结
本申请提供一种存储器件的测试方法、测试系统及测试设备，包括：获取第一逻辑单元与第二逻辑单元的坏块信息；利用同一使能信号对存储器件中的第一逻辑单元和第二逻辑单元进行老化测试；根据所述坏块信息，编码所述使能信号得到所述第一逻辑单元与所述第二逻辑单元的掩码；输出所述掩码。由此可见，本申请实施例提供的存储器件的测试方法，能够利用同一使能信号和坏块信息对使能信号进行编码，得到分别对应第一逻辑单元与第二逻辑单元的掩码，以掩码输出的结果就能直观的了解到是否第一逻辑单元与第二逻辑单元中存在坏点。

技术研发人员：彭聪
受保护的技术使用者：长江存储科技有限责任公司
技术研发日：2021.05.24
技术公布日：2021.08.24