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气体吸附量测量装置及气体吸附量测量方法与流程

2022-03-31 11:11:50 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种气体吸附量测量装置,至少包括一个样品管,向所述样品管供给吸附气体,并测量所述样品管内容纳的样品的气体吸附量,且包括:参照管,用于确定所述样品管的可用空间的容积;配管部,用于连接所述样品管、所述参照管及所述吸附气体的供给管;压力计,用于计测所述配管部、所述样品管及所述参照管的压力;用于将所述样品管及所述参照管的温度维持在规定温度的装置;以及,控制部;所述控制部在校准条件下,使用所述吸附气体分别测量未装入样品的所述样品管的可用空间的基准容积vd
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及所述参照管的可用空间的基准容积vd
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,根据所述基准容积vd
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及气体吸附量的实测条件下的所述参照管的可用空间的容积vd
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,来计算容积变化量δvd
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及所述基准容积vd
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,来计算所述实测条件下的所述样品管的可用空间的容积vd
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,并根据所述容积vd
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及所述实测条件下的装有样品的所述样品管的可用空间的容积vd
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,来计算所述实测条件下的该样品的气体吸附量。2.根据权利要求1所述的气体吸附量测量装置,其中,所述样品管设有多个,所述控制部使用一个所述参照管而分别计算多个所述样品管的基准容积vd
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。3.根据权利要求1或2所述的气体吸附量测量装置,其中,所述控制部从所述气体吸附量的计算过程中求出的所述样品管的可用空间的容积中,排除预先求出的所述样品的体积来计算表面过剩吸附量。4.一种气体吸附量测量方法,使用了至少一个样品管及参照管,所述参照管用于确定所述样品管的可用空间的容积,所述方法,在校准条件下,使用吸附气体分别测量未装入样品的所述样品管的可用空间的基准容积vd
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及所述参照管的可用空间的基准容积vd
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及气体吸附量的实测条件下的所述参照管的可用空间的容积vd
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及所述基准容积vd
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及所述实测条件下的装有样品的所述样品管的可用空间的容积vd
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,来计算所述实测条件下的该样品的气体吸附量。

技术总结
作为本发明一个实施方式示例的气体吸附量测量装置包括至少一个样品管、参照管及控制部。控制部使用吸附气体分别测量未装入样品的样品管的可用空间的基准容积Vd


技术研发人员:仲井和之
受保护的技术使用者:麦奇克拜尔有限公司
技术研发日:2020.08.19
技术公布日:2022/3/29
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