一种双面下针设备的制作方法

1.本发明涉及电路板测试技术领域，尤其涉及一种双面下针设备。


背景技术：

2.电路板是重要的电子部件，是电子元器件的支撑体，是电子元器件线路连接的提供者。电路板经过组装后需要对其性能进行测试，以防止制造过程中电子元器件有错、漏、反、短、虚等情况导致电路板出现故障，以确定电路板是否合格。
3.在对电路板进行检测时需要对电路板的两面进行测试，现有技术中，通常使用检测设备先对电路板的一面进行测试，然后，再对另一面进行测试，该测试设备不能实现两面同时对电路板进行检测，效率低下。


技术实现要素：

4.本发明的目的在于提供一种双面下针设备，能够同时对工件的两面进行测试，有效提高测试效率。
5.为达此目的，本发明采用以下技术方案：
6.一种双面下针设备，包括：
7.支架；
8.下针模组，包括下框架、下探针装置以及下探针，所述下框架固定设置于所述支架上，所述下探针装置设置于所述下框架上并用于承载工件，所述下探针设置于所述下探针装置上；
9.上针模组，包括上框架、上探针装置以及上探针，所述上探针装置设置于所述上框架上，所述上探针设置于所述上探针装置上，且所述上框架能够与所述下框架相互扣合，以使所述下探针伸出所述下探针装置与所述工件的底面抵接以及使所述上探针伸出所述上探针装置与所述工件的顶面抵接，以对所述工件的性能进行检测。
10.作为优选，所述下探针装置包括下固定组件、下弹性件和下载板，所述下固定组件与所述下框架固定连接，所述下载板通过所述下弹性件设置于所述下固定组件上，所述下探针与所述下固定组件固定连接，所述下载板被配置为能够在所述工件的反作用力下朝向所述下固定组件移动，所述下探针能够伸出所述下载板。
11.作为优选，所述下固定组件包括下针尾板和下针板，所述下针板与所述下框架固定连接，所述下针尾板固定设置于所述下针板背离所述下载板的一侧，所述下探针的底端穿过所述下针尾板设置，所述下探针的顶端穿过所述下针板设置。
12.作为优选，所述下针尾板上设置有第一阶梯孔，所述下针板上设置有第二阶梯孔，所述下探针包括下中间部和连接于所述下中间部两端的下延伸部，所述下中间部限位于所述第一阶梯孔的台阶处和所述第二阶梯孔的台阶处之间，两个所述下延伸部分别凸出所述下针尾板和所述下针板。
13.作为优选，所述下探针装置还包括下螺栓，所述下螺栓能够限位所述下载板与所
述下固定组件的最远距离。
14.作为优选，所述上框架包括上固定框架、上浮动弹性件和上浮动框架，所述上浮动框架沿竖直方向滑动设置于所述上固定框架上，所述上浮动弹性件夹设于所述上固定框架和所述上浮动框架之间，所述上探针装置设置于所述上浮动框架上，所述上固定框架能够与所述下框架相互扣合，通过按压所述上浮动框架能够使所述上探针伸出所述上探针装置。
15.作为优选，所述上探针装置包括上固定组件、上弹性件以及上载板，所述上固定组件与所述上浮动框架固定连接，所述上载板通过所述上弹性件设置于所述上固定组件上，所述上探针设置于所述上固定组件上，所述上载板被配置为在所述工件的反作用力下朝向所述上固定组件移动，所述上探针能够伸出所述上载板。
16.作为优选，所述上固定组件包括上针尾板和上针板，所述上针板与所述上浮动框架固定连接，所述上针尾板固定设置于所述上针板背离所述上载板的一侧，所述上探针的顶端穿过所述上针尾板设置，所述上探针的底端穿过所述上针板设置。
17.作为优选，所述上针尾板设置有第三阶梯孔，所述上针板设置有第四阶梯孔，所述上探针包括上中间部和连接于所述上中间部的上延伸部，所述上中间部限位于所述第三阶梯孔的台阶处和所述第四阶梯孔的台阶处之间，两个所述上延伸部分别凸出所述上针尾板和所述上针板。
18.作为优选，所述上探针装置还包括上螺栓，所述上螺栓能够限位所述上载板与所述上固定组件的最远距离。
19.本发明的有益效果：
20.本发明提供的一种双面下针设备，能够同时对工件的两面进行测试，有效提高测试效率。该双面下针设备包括支架、下针模组和上针模组。其中，下针模组包括下框架、下探针装置以及下探针，下框架固定设置于支架上，下探针装置设置于下框架上，下探针设置于下探针装置上；上针模组包括上框架、上探针装置以及上探针，上探针装置设置于上框架上，上探针设置于上探针装置上。当需要对工件进行测试时，将工件放置于下探针装置上，通过将上框架与下框架相互扣合，通过上探针装置和下探针装置同时对工件的两面压紧，以使上探针能够伸出上探针装置与工件的顶面抵接和下探针能够伸出下探针装置与工件的底面抵接，以对工件的性能进行测试。该双面下针设备结构简单，使用方便，且能够同时对工件的两面进行测试，有效提高了测试效率。
附图说明
21.图1是本发明实施例所述的双面下针设备的整体结构示意图；
22.图2是本发明实施例所述的下针模组的结构示意图一；
23.图3是本发明实施例所述的下针模组的结构示意图二；
24.图4是本发明实施例所述的下探针与下固定组件的安装示意图；
25.图5是本发明实施例所述的上针模组的结构示意图；
26.图6是本发明实施例所述的上探针与上固定组件的安装示意图。
27.图中：
28.1-支架；
29.2-下针模组；21-下框架；211-第一锁扣；22-下探针装置；221-下固定组件；2211-下针尾板；2211a-第一阶梯孔；2212-下针板；2212a-第二阶梯孔；222-下载板；23-下探针；231-下中间部；232-下延伸部；24-下功能板；
30.3-上针模组；31-上框架；311-上固定框架；312-上浮动弹性件；313-上浮动框架；314-第二锁扣；315-上浮动导向柱；32-上探针装置；321-上固定组件；3211-上针尾板；3211a-第三阶梯孔；3212-上针板；3212a-第四阶梯孔；322-上载板；323-上螺栓；33-上探针；34-上功能板；
31.4-旋转装置；
32.100-电路板。
具体实施方式
33.下面详细描述本发明的实施例，实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的零部件或具有相同或类似功能的零部件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。
34.在本发明的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”、“固定”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，可以是机械连接，也可以是电连接，可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
35.在本发明的描述中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一特征和第二特征直接接触，也可以包括第一特征和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
36.下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本发明的技术方案。
37.电路板是重要的电子部件，是电子元器件的支撑体，是电子元器件线路连接的提供者。电路板经过组装后需要对其性能进行测试，以防止制造过程中电子元器件有错、漏、反、短、虚等情况导致电路板出现故障，以确定电路板是否合格。
38.如图1-图6所示，本发明实施例提供了一种双面下针设备，该双面下针设备用于对手表、手环等电子产品中的电路板100进行针点测试，以保证电路板100合格。由于电路板100的两个侧面均需要进行检测，现有技术中大多数的电路板100检测设备只能对电路板100的一侧面检测后再对另一侧面进行检测，效率较低。该双面下针设备能够同时对工件(即电路板100)的两面同时进行测试，能够有效提高检测效率。
39.该双面下针设备包括支架1、下针模组2和上针模组3。其中，下针模组2包括下框架21、下探针装置22以及下探针23，下框架21固定设置于支架1上，下探针装置22设置于下框架21上并用于承载电路板100，下探针23设置于下探针装置22上；上针模组3包括上框架31、上探针装置32以及上探针33，上探针装置32设置于上框架31上，上探针33设置于上探针装置32上。当需要对电路板100进行测试时，将电路板100放置于下探针装置22上，通过将上框
架31与下框架21相互扣合，通过上探针装置32和下探针装置22同时对电路板100的顶面和底面压紧，以使上探针33能够伸出上探针装置32与电路板100的顶面抵接和下探针23能够伸出下探针装置22与电路板100的底面抵接，以对电路板100的性能进行测试。
40.该双面下针设备结构简单，使用方便，且能够同时对电路板100的两面进行测试，有效提高了测试效率。
41.如图1所示，下针模组2还包括下功能板24，上针模组3还包括上功能板34。当对电路板100进行双面测试时，下功能板24和上功能板34能够传递测试信号。
42.继续参照图2-图4，图2-图4是对下针模组2的细节结构进行描述。
43.具体地，继续参照图2-图3，下探针装置22包括下固定组件221、下弹性件(图中未示出)以及下载板222。其中，下载板222上设置有承载位，电路板100放置于承载位上，使电路板100检测时位置更加精确。下固定组件221与下框架21固定连接，且下探针23固定安装于下固定组件221上，以使下探针23安装更加方便。下载板222通过下弹性件设置于下固定组件221上。当上框架31与下框架21相互扣合后，上探针装置32抵接电路板100的顶面以对电路板100施加压力，下载板222受到电路板100的反作用力朝向下固定组件221压缩时，下探针23能够伸出下载板222与电路板100抵接，对电路板100的底面性能进行检测。
44.更为具体地，下探针装置22还包括下螺栓，下螺栓固定设置于下框架21上，当下载板222在下弹性件的作用力下远离下固定组件221时，下螺栓能够限位下载板222与下固定组件221的最远距离。
45.优选地，下螺栓设置有多个，多个下螺栓为等高螺栓，且等高螺栓包括螺杆和螺帽，多个等高螺栓的螺杆同时螺栓连接于下框架21上时，多个等高螺栓的螺帽与下固定组件221的距离相等，且螺帽能够与下载板222抵接，以限制下载板222的位置以及保证下载板222不发生倾斜，提高检测精度。
46.更为具体地，继续参照图3，下固定组件221包括下针尾板2211和下针板2212。其中，下针板2212与下框架21固定连接，下针尾板2211固定设置于下针板2212背离下载板222的一侧，下载板222通过下弹性件设置于下针板2212的另一侧，下探针23的底端穿过下针尾板2211设置，下探针23的顶端穿过下针板2212设置，通过先将下探针23安装于下针尾板2211和下针板2212之间，再将下针尾板2211和下针板2212固定连接，使下探针23安装更加方便，结构更加合理。
47.进一步地，参照图4，由于下探针23为细长结构，在安装后使用时时需要防止下探针23不发生弯曲。下针尾板2211上设置有第一阶梯孔2211a，下针板2212上设置有第二阶梯孔2212a，下探针23包括下中间部231和连接于下中间部231两端的下延伸部232。当下探针23安装于下针尾板2211和下针板2212上时，下中间部231限位于第一阶梯孔2211a的台阶处和第二阶梯孔2212a的台阶处之间，两个下延伸部232分别凸出下针尾板2211和下针板2212，该结构使下探针23安装方便，且下探针23不易损坏。
48.具体地，继续参照图5-图6，图5-图6为上针模组3的细节结构。
49.如图5所示，上框架31包括上固定框架311、上浮动弹性件312以及上浮动框架313。其中，上浮动框架313滑动设置于上固定框架311上，上浮动弹性件312夹设于上固定框架311和上浮动框架313之间，上探针装置32设置于上浮动框架313上。当电路板100放置于下载板222上的承载位上，上框架31与下框架21相互扣合后，上固定框架311与下框架21贴合，
此时，按压上浮动框架313，上浮动框架313带动上探针装置32向下移动与电路板100抵接，继续按压上浮动框架313，电路板100对下载板222和上探针装置32同时施加反作用力，以使下探针23伸出下载板222和上探针33伸出上探针装置32分别与电路板100的底面和顶面抵接。
50.可以理解的是，上固定框架311上还设置有多个上浮动导向柱315，上浮动框架313滑动设置于多个上浮动导向柱315上，使上浮动框架313定位更加准确，滑动更加顺畅，结构更加合理。
51.更为具体地，上探针装置32包括上固定组件321、上弹性件(图中未示出)以及上载板322。其中，上固定组件321与上浮动框架313固定连接，上载板322通过上弹性件设置于上固定组件321上，上探针33设置于上固定组件321上。当上固定框架311与下框架21相互扣合后，按压上浮动框架313，上浮动框架313带动上固定组件321以及上载板322运动，上载板322与电路板100抵接后受到电路板100的反作用力朝向上固定组件321压缩，上探针33能够伸出上载板322，以使上探针33与电路板100的顶面抵接。
52.更为具体地，继续参照图5，上探针装置32还包括上螺栓323，上螺栓323固定设置于上浮动框架313上，当上载板322在上弹性件的作用力下远离上固定组件321时，上螺栓323能够限位上载板322与上固定组件321的最远距离。在本实施例中，上螺栓323与下螺栓结构相同，这里不再进一步赘述。
53.进一步地，上固定组件321包括上针尾板3211和上针板3212，上针板3212与上浮动框架313固定连接，上针尾板3211固定设置于上针板3212背离上载板322的一侧，上载板322通过上弹性件设置于上针板3212的另一侧，上探针33的顶端穿过上针尾板3211设置，上探针33的底端穿过上针板3212设置，通过先将上探针33安装于上针尾板3211和上针板3212之间，再将上针尾板3211和上针板3212固定连接，使上探针33安装更加方便，结构更加合理。
54.更进一步地，如图6所示，由于上探针33和下探针23结构相同，也为细长结构，在安装后使用时时需要防止上探针33不发生弯曲。上针尾板3211上设置有第三阶梯孔3211a，上针板3212上设置有第四阶梯孔3212a，上探针33包括上中间部和连接于上中间部两端的上延伸部。当上探针33安装于上针尾板3211和上针板3212上时，上中间部限位于第三阶梯孔3211a的台阶处和第四阶梯孔3212a的台阶处之间，两个上延伸部分别凸出上针尾板3211和上针板3212，该结构使上探针33安装方便，且上探针33不易损坏。
55.为了更加方便该双面下针设备的使用，如图2和图5所示，该双面下针设备旋转装置4，上固定框架311通过旋转装置4转动设置于下框架21上，使得该双面下针设备使用更加方便。
56.进一步地，下框架21背离旋转装置4的一侧设置有第一锁扣211，上浮动框架313背离旋转装置4的一侧设置有第二锁扣314。当上浮动框架313通过旋转装置4与下框架21扣合时，第一锁扣211与第二锁扣314能够相互锁止，使操作更加简单。
57.在本实施例中，当使用该双面下针设备对电路板100进行测试时，首先，将上针模组3打开，将电路板100放置于下载板222的承载位上；然后，将上针模组3与下针模组2模组扣合，即上固定框架311与下框架21贴合；再按压上浮动框架313使第一锁扣211和第二锁扣314相互锁止，此时，上探针33和下探针23同时与电路板100的顶面和底面抵接；最后，开始测试。
58.显然，本发明的上述实施例仅仅是为了清楚说明本发明所作的举例，而并非是对本发明的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明权利要求的保护范围之内。