一种集成电路的抗干扰性能检测设备的制作方法

1.本实用新型具体涉及集成电路技术领域，尤其是一种集成电路的抗干扰性能检测设备。


背景技术：

2.集成电路是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。
3.集成电路在受到外部环境的干扰后，造成集成电路运行不灵敏，需要对集成电路的抗干扰能力检测，在检测过程中，集成电路和检测点的接触不够稳定有效，因此亟需一种集成电路的抗干扰性能检测设备来解决上述的问题。


技术实现要素：

4.本实用新型的目的在于克服现有技术的不足，适应现实需要，提供一种结构设计新颖的集成电路的抗干扰性能检测设备。
5.为了实现本实用新型的目的，本实用新型所采用的技术方案为：
6.设计一种集成电路的抗干扰性能检测设备，包括设备架，所述设备架的底部通过螺栓安装有抗干扰箱，且抗干扰箱的内部通过轴承活动连接有螺柱，所述螺柱的外壁螺纹连接有移动件，所述螺柱的一端焊接有手柄，所述移动件的顶部通过螺栓安装有抗干扰架，所述抗干扰架的外壁两侧均固定安装有测试杆，所述测试杆的外部固定绕设有电磁圈，所述设备架顶部的一侧焊接有调整箱，所述调整箱的内壁一侧通过螺栓安装有电机，且电机的端部焊接有驱动件，所述调整箱的顶部活动插接有竖直杆，所述竖直杆的底部焊接有支杆，所述支杆的底端活动连接有滚轮。
7.所述调整箱内部的两侧均焊接有弹簧，所述弹簧的底端之间固定安装有移位板。
8.所述支杆的外部固定安装在移位板的内部，所述竖直杆的外部一侧焊接有连接件。
9.所述连接件的外壁上通过螺栓安装有检测架，所述检测架的底部一侧焊接有测试架。
10.所述测试架的外壁一侧通过螺栓安装有马达，所述马达的端部焊接有转动齿轮。
11.所述测试架的外壁通过轴承活动连接有驱动齿轮，且驱动齿轮的一侧设置有检测端板。
12.所述检测端板的内部两侧均固定安装有弹性件，所述检测端板的内部开设有检测孔。
13.本实用新型的有益效果在于：
14.(1)本设计利用抗干扰架与测试杆，在抗干扰箱中的螺柱转动后，螺柱外部的移动件能够将抗干扰架和测试杆移动至集成电路附近，从而使集成电路进行抗干扰的检测，且
抗干扰强度能改变。
15.(2)本设计利用驱动件与竖直杆，驱动件受到电机的带动后，驱动件能够将滚轮压动，滚轮在活动的同时使支杆和竖直杆上移或下降，有利于检测端板中传输线与集成电路的接触检测。
16.(3)本设计利用驱动齿轮与检测端板，转动齿轮随着马达进行转动后，驱动齿轮能够将检测端板带动后活动一定的角度，使得检测端板内的传输线和集成电路的接触点调节，便于集成电路的有效检测。
17.(4)本设计利用弹性件与手柄，检测用具的传输线延伸到检测端板的内部，检测端板内部的弹性件能够将传输线进行固定，防止了检测触点的活动，手柄的安装便于人员将螺柱转动操作。
附图说明
18.图1为本设计中的结构示意图；
19.图2为本设计中的检测端板剖面示意图；
20.图3为本设计中的调整箱剖面示意图；
21.图4为本设计中的抗干扰箱剖面示意图。
22.图中：1设备架、2调整箱、3竖直杆、4连接件、5检测架、6检测端板、7检测孔、8抗干扰箱、9抗干扰架、10测试杆、11电磁圈、12电机、13驱动件、14支杆、15移位板、16弹簧、17弹性件、18测试架、19滚轮、20马达、21转动齿轮、22驱动齿轮、23螺柱、24移动件、25手柄。
具体实施方式
23.下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明：
24.一种集成电路的抗干扰性能检测设备，参见图1至图4，包括设备架1，设备架1的底部通过螺栓安装有抗干扰箱8，且抗干扰箱8的内部通过轴承活动连接有螺柱23，螺柱23的外壁螺纹连接有移动件24，螺柱23的一端焊接有手柄25，螺柱23随着手柄25而进行转动，螺柱23外部的移动件24能移动在抗干扰箱8的内部，移动件24的顶部通过螺栓安装有抗干扰架9，移动件24推动抗干扰架9移动在设备架1上，抗干扰架9的外壁两侧均固定安装有测试杆10，测试杆10的外部固定绕设有电磁圈11，电磁圈11使集成电路周围的磁场变化，与集成电路相连的电流表等辅助设备变化，使集成电路的抗干扰能力检测，设备架1顶部的一侧焊接有调整箱2，调整箱2的内壁一侧通过螺栓安装有电机12，且电机12的端部焊接有驱动件13，电机12的输出轴使驱动件13转动，调整箱2的顶部活动插接有竖直杆3，竖直杆3的底部焊接有支杆14，支杆14的底端活动连接有滚轮19，驱动件13上的滚轮19被推动后活动，支杆14也被推动后活动。
25.进一步的，本设计中，调整箱2内部的两侧均焊接有弹簧16，弹簧16的底端之间固定安装有移位板15，在支杆14移动后移位板15也活动，弹簧16受压形变。
26.进一步的，本设计中，支杆14的外部固定安装在移位板15的内部，竖直杆3的外部一侧焊接有连接件4，竖直杆3和连接件4在调整箱2上活动。
27.进一步的，本设计中，连接件4的外壁上通过螺栓安装有检测架5，检测架5的底部一侧焊接有测试架18。
28.进一步的，本设计中，测试架18的外壁一侧通过螺栓安装有马达20，马达20的端部焊接有转动齿轮21，马达20的输出轴使转动齿轮21转动。
29.进一步的，本设计中，测试架18的外壁通过轴承活动连接有驱动齿轮22，与转动齿轮21相啮合的驱动齿轮22也转动，且驱动齿轮22的一侧设置有检测端板6，检测端板6可进行活动。
30.进一步的，本设计中，检测端板6的内部两侧均固定安装有弹性件17，弹性件17使检测端板6中的传输线进行固定，检测端板6的内部开设有检测孔7，传输线能固定在检测孔7的内部。
31.综上所述本实用新型的工作原理为：使用时，人员将检测用电流表等放在检测架5的上方，电流表的传输电线穿过检测端板6进到检测孔7的内部，检测孔7内的弹性件17将传输线进行按压固定，操作者将电机12启动，电机12的端部使驱动件13转动，驱动件13将滚轮19向上顶起，滚轮19使支杆14向上移动，支杆14带动竖直杆3向上，则检测端板6中的传输线向上，集成电路在设备架1上，传输线和集成电路接触并查看电流表，而后人员转动手柄25，手柄25带动螺柱23转动，螺柱23外的移动件24带动抗干扰架9移动，使测试杆10上的电磁圈11靠近集成电路，观察电流表是否发生变化，电流表变化较大，说明集成电路的抗干扰能力差，马达20启动后，马达20的端部使转动齿轮21转动，转动齿轮21推动驱动齿轮22转动，驱动齿轮22使检测端板6上的传输线位置调整，便于集成电路的检测。
32.本实用新型的实施例公布的是较佳的实施例，但并不局限于此，本领域的普通技术人员，极易根据上述实施例，领会本实用新型的精神，并做出不同的引申和变化，但只要不脱离本实用新型的精神，都在本实用新型的保护范围内。


技术特征：
1.一种集成电路的抗干扰性能检测设备，包括设备架(1)，其特征在于，所述设备架(1)的底部通过螺栓安装有抗干扰箱(8)，且抗干扰箱(8)的内部通过轴承活动连接有螺柱(23)，所述螺柱(23)的外壁螺纹连接有移动件(24)，所述螺柱(23)的一端焊接有手柄(25)，所述移动件(24)的顶部通过螺栓安装有抗干扰架(9)，所述抗干扰架(9)的外壁两侧均固定安装有测试杆(10)，所述测试杆(10)的外部固定绕设有电磁圈(11)，所述设备架(1)顶部的一侧焊接有调整箱(2)，所述调整箱(2)的内壁一侧通过螺栓安装有电机(12)，且电机(12)的端部焊接有驱动件(13)，所述调整箱(2)的顶部活动插接有竖直杆(3)，所述竖直杆(3)的底部焊接有支杆(14)，所述支杆(14)的底端活动连接有滚轮(19)。2.如权利要求1所述的一种集成电路的抗干扰性能检测设备，其特征在于：所述调整箱(2)内部的两侧均焊接有弹簧(16)，所述弹簧(16)的底端之间固定安装有移位板(15)。3.如权利要求2所述的一种集成电路的抗干扰性能检测设备，其特征在于：所述支杆(14)的外部固定安装在移位板(15)的内部，所述竖直杆(3)的外部一侧焊接有连接件(4)。4.如权利要求3所述的一种集成电路的抗干扰性能检测设备，其特征在于：所述连接件(4)的外壁上通过螺栓安装有检测架(5)，所述检测架(5)的底部一侧焊接有测试架(18)。5.如权利要求4所述的一种集成电路的抗干扰性能检测设备，其特征在于：所述测试架(18)的外壁一侧通过螺栓安装有马达(20)，所述马达(20)的端部焊接有转动齿轮(21)。6.如权利要求4所述的一种集成电路的抗干扰性能检测设备，其特征在于：所述测试架(18)的外壁通过轴承活动连接有驱动齿轮(22)，且驱动齿轮(22)的一侧设置有检测端板(6)。7.如权利要求6所述的一种集成电路的抗干扰性能检测设备，其特征在于：所述检测端板(6)的内部两侧均固定安装有弹性件(17)，所述检测端板(6)的内部开设有检测孔(7)。

技术总结
本实用新型提供一种集成电路的抗干扰性能检测设备；包括设备架，设备架的底部通过螺栓安装有抗干扰箱，且抗干扰箱的内部通过轴承活动连接有螺柱，螺柱的外壁螺纹连接有移动件，螺柱的一端焊接有手柄，移动件的顶部通过螺栓安装有抗干扰架，抗干扰架的外壁两侧均固定安装有测试杆，测试杆的外部固定绕设有电磁圈，设备架顶部的一侧焊接有调整箱，调整箱的内壁一侧通过螺栓安装有电机，且电机的端部焊接有驱动件，调整箱的顶部活动插接有竖直杆，本设计在抗干扰箱中的螺柱转动后，螺柱外部的移动件能够将抗干扰架和测试杆移动至集成电路附近，从而使集成电路进行抗干扰的检测，且抗干扰强度能改变。抗干扰强度能改变。抗干扰强度能改变。


技术研发人员：蔡逸宇 林泽滨
受保护的技术使用者：深圳市艾格林电子有限公司
技术研发日：2021.12.27
技术公布日：2022/6/14