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一体式双光刻装置的制作方法

  • 国知局
  • 2024-06-21 12:07:23

本技术涉及电气元件生产,特别涉及一体式双光刻装置。

背景技术:

1、光刻,是一种微电子产品中电气元件的制造工艺,常用于芯片的制造和集成电路的生产中。光刻的过程为:先将光刻胶覆盖在硅片表面,然后使用光刻机上的光刻掩模板来投射光源,通过光源照射在光刻胶上形成影像,最后通过化学腐蚀或腐蚀等方式将图形转移到硅片上。这一工艺对于制造微小的电子元件和电路非常重要,因为它可以实现高精度的图形转移。

2、然而,常规的生产工艺,依然存在以下不足:

3、对芯片的两面依次进行光刻,期间需要对光罩进行对位及检查,对位时间久,人工进行对位的误差大。

技术实现思路

1、为了解决背景技术中存在的技术问题,本实用新型提供一体式双光刻装置,同时进行芯片上、下两面的曝光流程;无需对位,并且无人工操作误差。

2、本实用新型解决所采用的技术方案是:

3、一体式双光刻装置,包括:放置于操作台面上的支撑机构;所述支撑机构上滑动设置有固定机构。

4、所述固定机构,包括:

5、滑动设置于支撑机构上的移动座,所述移动座沿左右方向对称设置两组,两组对称的移动座相对侧壁上设置有向上开口的卡槽,所述卡槽内固定设置有限位螺杆,所述限位螺杆上由下至上依次叠放套设有下板、中板、上板,下板上贯穿设置有套于限位螺杆上的下穿孔组,下板的中央设置有下光罩,中板上贯穿设置有套于限位螺杆上的中穿孔组,中板的中央设置有圆形的通槽,所述通槽的下边沿处凸出设置有支撑环,所述支撑环上放置芯片,上板上贯穿设置有套于限位螺杆上的上穿孔组,上板的中央设置有上光罩,限位螺杆上螺接设置有螺母;

6、支撑机构的一侧设置有曝光机构。

7、进一步地,所述上光罩、下光罩分别与芯片的上、下两端面相贴合。

8、进一步地,所述支撑机构,包括:

9、放置于操作台面上的基座,所述基座上设置有沿左右方向延伸的滑轨,基座的右部设置有内凹的穿槽,所述穿槽内容设有下曝光灯。

10、进一步地,所述滑轨沿前后方向并列设置有两组。

11、进一步地,所述移动座的下端设置有滑槽,所述滑槽沿前后方向并列设置有两组,并与滑轨滑动连接。

12、进一步地,所述限位螺杆设置有多根。

13、进一步地,所述下穿孔组、中穿孔组、上穿孔组分别设置于下板、中板、上板的四角处,并与限位螺杆相匹配。

14、进一步地,所述曝光机构,包括:

15、“π”状的安装架,所述安装架跨于基座靠近穿槽的一侧,安装架水平部的中央设置有固定环,所述固定环内容设有上曝光灯,固定环的上端盖设有遮光盖。

16、进一步地,所述固定环设置于穿槽的正上方,即为上曝光灯设置于下曝光灯的正上方。

17、进一步地,所述安装架的前水平部上设置有分别与下曝光灯、上曝光灯电气连接的按钮组,所述按钮组与供电电源电气连接。

18、本实用新型一体式双光刻装置的优点在于:

19、1、通过上曝光灯与上光罩上、下曝光灯与下光罩的相互配合,实现芯片上、下两面的同时曝光;

20、2、通过上、下光罩,解决人工对位时间久、误差大的问题。

技术特征:

1.一体式双光刻装置,其特征在于:

2.根据权利要求1所述的一体式双光刻装置,其特征在于:

3.根据权利要求1所述的一体式双光刻装置,其特征在于:

4.根据权利要求3所述的一体式双光刻装置,其特征在于:

5.根据权利要求4所述的一体式双光刻装置,其特征在于:

6.根据权利要求1所述的一体式双光刻装置,其特征在于:

7.根据权利要求6所述的一体式双光刻装置,其特征在于:

8.根据权利要求3所述的一体式双光刻装置,其特征在于:

9.根据权利要求8所述的一体式双光刻装置,其特征在于:

10.根据权利要求9所述的一体式双光刻装置,其特征在于:

技术总结本技术涉及一体式双光刻装置,包括:支撑机构;支撑机构上滑动设有固定机构,固定机构包括:移动座,移动座上设有向上开口的卡槽,卡槽内固定设有限位螺杆,限位螺杆上由下至上依次叠放套设有下板、中板、上板;下板上贯穿设有下穿孔组,下板的中央设有下光罩;中板上贯穿设有中穿孔组,中板的中央设有通槽,通槽的下边沿处凸出设有支撑环,支撑环上放置芯片;上板上贯穿设有上穿孔组,上板的中央设有上光罩,限位螺杆上螺接设有螺母;支撑机构的一侧设有曝光机构。本技术的一体式双光刻装置,同时进行芯片上、下两面的曝光;无需对位,并且无人工操作误差。技术研发人员:李广德,于越洋,李昊阳,于如远受保护的技术使用者:山东民峰智能科技有限公司技术研发日:20231122技术公布日:2024/5/19

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