显示面板的测试系统和测试方法与流程

本发明涉及显示面板制造领域，特别涉及一种显示面板的测试系统和测试方法。

背景技术：

1、发光二极管显示面板可以显示文字、图片、动画、视频等，显示的画面可以随时变化。显示面板的显示参数(包括刷新率和响应时间)以及显示面板是否闪屏(flicker)是评价显示面板质量的重要因素。

2、显示面板的刷新率越高，显示面板显示的画面具有越好的流畅度和稳定性；显示面板的响应时间短，则显示面板的像素切换的速度快，显示面板显示的画面的清晰度也高；显示面板闪屏现象出现越少，则显示面板显示的画面的质量越高。显示面板具有更高的刷新率、更短的响应时间，能够有效避免显示画面的残影或模糊现象；显示面板更少闪屏现象的出现，能够有效提高显示面板显示画面的质量。

3、如何获得显示面板的显示参数、如何获得显示面板闪屏现象出现的情况，是检测发光二极管显示面板质量的亟待解决的问题。

技术实现思路

1、本发明解决的问题是如何获得显示面板的显示参数。

2、为解决上述问题，本发明提供一种显示面板的测试系统，包括：驱动信号发生器、光探测器和处理组件；所述驱动信号发生器与所述待测面板电连接，所述驱动信号发生器向待测面板提供发光驱动信号，所述发光驱动信号驱动所述待测面板进行画面刷新；接收所述发光驱动信号的待测面板输入光线至所述光探测器，所述光探测器接收所述待测面板所产生的光线，产生刷新信号，所述刷新信号反映所述待测面板发光强度随时间的变化情况；所述光探测器与所述处理组件电连接，所述光探测器向所述处理组件输出所述刷新信号；所述处理组件接收所述刷新信号，并根据所述刷新信号，获得所述待测面板的显示参数。

3、相应的，本发明还提供一种显示面板的测试方法，包括：提供待测面板；向所述待测面板提供发光驱动信号，所述发光驱动信号驱动所述待测面板进行画面刷新；接收所述待测面板所产生光线，产生刷新信号，所述刷新信号反映所述待测面板发光强度随时间的变化情况；根据所述刷新信号，获得所述待测面板的显示参数。

4、与现有技术相比，本发明的技术方案具有以下优点：

5、本发明技术方案中，显示面板的测试系统包括：驱动信号发生器、光探测器和处理组件；在所述驱动信号发生器产生的发光驱动信号驱动下，所述待测面板进行画面刷新；所述光探测器接收所述待测面板所产生光线产生刷新信号；所述处理组件根据所述刷新信号，获得所述待测面板的显示参数。通过光探测器将显示面板发射的光信号转换为电流信号，并通过处理组件进行分析以获得显示参数；根据处理组件对刷新信号的分析，可以直接获得待测面板的显示参数。

6、本发明可选方案中，还可以通过发光定位组件对预设的待测位置进行定位，所述光探测器接收所述待测位置所产生的光线。所述发光定位组件的设置，能够获得待测面板中的具体位置的刷新率和响应时间，有利于为后续所述待测面板的修复提出指导方向。

7、本发明可选方案中，所述处理组件的数据处理器还可以根据所获得的所述待测面板的电流信号和电压信号中的至少一个，获得能量频谱；根据所述能量频谱，获得所述待测面板的闪烁指数以判断所述待测面板的发光质量。所述处理组件基于电流信号和电压信号中的至少一个的分析，判断闪屏现象出现的情况，判断所述待测面板的发光质量。

技术特征：

1.一种显示面板的测试系统，其特征在于，包括：驱动信号发生器、光探测器和处理组件；

2.如权利要求1所述的显示面板的测试系统，其特征在于，所述显示参数包括：刷新率和响应时间中的至少一个。

3.如权利要求1所述的显示面板的测试系统，其特征在于，所述光探测器包括：光电二极管。

4.如权利要求1所述的显示面板的测试系统，其特征在于，所述处理组件包括：信号处理器，所述信号处理器与所述光探测器电连接，所述光探测器输入所述刷新信号至所述信号处理器，所述信号处理器接收所述刷新信号，并根据所述刷新信号，获得刷新率和响应时间。

5.如权利要求4所述的显示面板的测试系统，其特征在于，所述信号处理器还获得所述待测面板的电流信号和电压信号中的至少一个，其中，所述电流信号适宜于反映所述待测面板驱动电流和时间的关系，所述电压信号适宜于反映所述待测面板驱动电压和时间的关系；

6.如权利要求5所述的显示面板的测试系统，其特征在于，所述数据处理器包括：频谱元件、指数元件和判断元件；

7.如权利要求1所述的显示面板的测试系统，其特征在于，还包括：发光定位组件，所述发光定位组件包括：取光器，所述取光器位于所述待测面板和所述光探测器之间的光路中，所述取光器将所述待测面板上的待测位置所产生的光线传输至所述光探测器；

8.如权利要求7所述的显示面板的测试系统，其特征在于，所述取光器包括：光学镜头。

9.如权利要求7所述的显示面板的测试系统，其特征在于，所述发光定位组件还包括：图像获取机构，所述图像获取机构配置对所述待测面板进行取像，所述图像获取机构电连接所述处理组件；

10.如权利要求9所述的显示面板的测试系统，其特征在于，所述发光定位组件还包括：第一分光元件，所述第一分光元件位于所述取光器下游的光路中，所述第一分光元件接收所述取光器传输的光线并将所接收的光线分为分别向所述光探测器和所述图像获取机构传输的2部分。

11.如权利要求9所述的显示面板的测试系统，其特征在于，所述显示面板的测试系统设置于暗室；

12.如权利要求11所述的显示面板的测试系统，其特征在于，所述发光定位组件还包括：照明偏折结构，所述照明偏折结构位于所述照明光源和所述待测面板之间的光路中，所述照明偏折结构传输所述照明光线以使所述照明光线照亮所述待测面板。

13.如权利要求12所述的显示面板的测试系统，其特征在于，所述照明偏折元件包括：第二分光元件，所述第二分光元件接收所述照明光线并使至少部分所述照明光线投射至所述待测面板。

14.如权利要求13所述的显示面板的测试系统，其特征在于，所述照明偏折元件还包括：偏折元件，所述偏折元件位于所述照明光源和所述第二分光元件之间的光路中，所述偏折元件接收所述照明光线并使所述照明光线投射至所述第二分光元件。

15.如权利要求14所述的显示面板的测试系统，其特征在于，所述偏折元件包括：光纤和反射镜中的至少一种。

16.如权利要求12所述的显示面板的测试系统，其特征在于，还包括：支架壳体，所述图像获取机构、所述取光器、第一分光元件、所述照明光源和所述照明偏折结构均固定于所述支架壳体。

17.如权利要求16所述的显示面板的测试系统，其特征在于，所述支架壳体包括可移动的载台，所述待测面板固定于所述载台的台面上。

18.如权利要求1所述的显示面板的测试系统，其特征在于，所述待测面板包括：led面板、oled面板、amoled面板、miniled面板和microled面板中的至少1种。

19.如权利要求8所述的显示面板的测试系统，其特征在于，所述光学镜头的参数包括：焦距：18.00mm；最大直径：24mm；景深：4.40μm；齐焦距离：45mm；焦深：440μm；视场：2.2mm；放大率：10x；数字孔径：0.25；

20.一种显示面板的测试方法，其特征在于，包括：

21.如权利要求20所述的显示面板的测试方法，其特征在于，获得所述待测面板的显示参数的步骤中，所述显示参数包括：刷新率和响应时间中的至少一个。

22.如权利要求20所述的显示面板的测试方法，其特征在于，还包括：提供待测面板之后，向所述待测面板提供发光驱动信号之前，获得所述待测面板上的待测位置。

23.如权利要求22所述的显示面板的测试方法，其特征在于，获得所述待测面板上的待测位置的步骤包括：提供照明光线以照亮所述待测面板；照亮所述待测面板之后，对所述待测面板进行取像以获得所述待测面板的待测位置。

24.如权利要求23所述的显示面板的测试方法，其特征在于，提供待测面板的步骤包括：将所述待测面板设置于可移动的载台的台面上；

25.如权利要求22所述的显示面板的测试方法，其特征在于，获得所述待测面板上的待测位置的步骤包括：在所述待测面板上标注待测位置。

26.如权利要求23所述的显示面板的测试方法，其特征在于，还包括：获得所述待测面板上的待测位置之后，向所述待测面板提供发光驱动信号之前，提供暗室测试环境。

27.如权利要求26所述的显示面板的测试方法，其特征在于，还包括：提供暗室测试环境之后，持续取像以判断所述待测面板是否闪屏。

28.如权利要求20所述的显示面板的测试方法，其特征在于，还包括：

29.如权利要求28所述的显示面板的测试方法，其特征在于，判断所述待测面板的发光质量的步骤包括：

技术总结一种显示面板的测试系统和测试方法，测试系统包括：驱动信号发生器、光探测器和处理组件；所述驱动信号发生器与所述待测面板电连接，所述驱动信号发生器向待测面板提供发光驱动信号，所述发光驱动信号驱动所述待测面板进行画面刷新；接收所述发光驱动信号的待测面板输入光线至所述光探测器，所述光探测器接收所述待测面板所产生的光线，产生刷新信号，所述刷新信号反映所述待测面板发光强度随时间的变化情况；所述光探测器与所述处理组件电连接，所述光探测器向所述处理组件输出所述刷新信号；所述处理组件接收所述刷新信号，并根据所述刷新信号，获得所述待测面板的显示参数。通过光探测器将显示面板发射的光信号转换为电流信号，并通过处理组件进行分析以获得显示参数；根据处理组件对刷新信号的分析，可以直接获得待测面板的显示参数。技术研发人员：徐晨超受保护的技术使用者：上海显耀显示科技有限公司技术研发日：技术公布日：2024/5/10