一种应用于印刷显示面板的高速电检测系统

本发明涉及印刷显示面板测试，特别是涉及一种应用于印刷显示面板的高速电检测系统。

背景技术：

1、量子点发光技术(qled)与有机电致发光技术(oled)是近几年崛起的平板显示研究热点,该技术在显示方面的应用价值受到相关领域工作者的广泛关注,各大显示厂商也发布了诸多以这两项技术为基础的显示器、智能手机等高端电子产品。当qled、oled作为阵列显示、屏幕元件，甚至半导体照明时，由于人眼对于颜色波长和亮度的敏感性，用没有分选过的qled、oled像素就会产生不均匀的现象，进而影响人们的视觉效果。不论是波长不均匀或是光亮度的不均匀都会造成使用者产生不适感。这是各大显示器件制造厂家不愿看到的，也是人们无法接受的。所以在qled、oled像素应用于显示器件之前，要对其进行检测。当前的检测手段多为针测，即有接触检测。但针测需要探针与qled、oled的电极进行接触，可能会对电极造成一定程度的损坏。随着显示器件所使用的单个芯片尺寸越来越小，一个显示器上所需要的qled、oled像素数量也日渐增多，针测的效率无法满足大批量qled、oled像素检测效率的要求。此外，qled、oled面板在制作完毕后，若在检测过程中发现像素坏点，只能使用激光剥离的方式对坏点进行剔除，在全部坏点剔除完毕后才可进行坏点修复。这种传统的检测方式大大提高了检测过程中产生的时间成本和耗材成本。

技术实现思路

1、有鉴于现有技术的上述的一部分缺陷，本发明所要解决的技术问题是提供一种应用于印刷显示面板的高速电检测系统，旨在避免检测损伤印刷显示面板的同时，提高检测效率。

2、为实现上述目的，本发明开了一种应用于印刷显示面板的高速电检测系统，所述高速电检测系统包括：包含导电层的第一基板、与所述导电层相对设置的检测探头阵列；其中，印刷显示面板检测时，所述印刷显示面板设置于所述第一基板与所述检测探头阵列之间；所述印刷显示面板的发光像素的阳极端、发光层、阴极端为三明治层状结构；

3、所述检测探头阵列至少包括一个检测探头，所述检测探头阵列和所述导电层分别与所述高频交流电供电模块进行电连接；所述高频交流电供电模块用于向所述检测探头阵列和所述导电层进行供电以使所述检测探头阵列和所述导电层之间形成第一交变电场，所述第一交变电场用于使所述印刷显示面板电致发光；其中，所述发光像素的所述阳极端指向所述阴极端的第一方向与所述第一交变电场的电场方向相同时，所述印刷显示面板电致发光；

4、所述导电层旁设置有用于采集所述印刷显示面板对应电信号信息的电信号测量模块，所述第一基板一侧设置有用于采集所述印刷显示面板对应发光信息的光信号测量模块；所述高速电检测系统还包括电控位移模块，所述电控位移模块用于搭载并运输所述第一基板或所述检测探头阵列以使所述检测探头阵列与所述印刷显示面板在检测过程中的位置相匹配；

5、所述高速电检测系统被配置为：响应于所述印刷显示面板中各个所述发光像素的所述阳极端位于所述阴极端上侧，控制所述光信号测量模块在所述第一交变电场的电场方向向下对应的半周期进行所述发光信息的采集；否则，控制所述光信号测量模块在所述第一交变电场的电场方向向上对应的半周期进行所述发光信息的采集。

6、可选的，所述印刷显示面板的所述发光像素包括已沉积功能层与所述发光层，所述高速电检测系统在未蒸镀金属电极的情况下对所述印刷显示面板进行检测。

7、可选的，所述印刷显示面板的所述发光像素包括已沉积功能层与所述发光层，所述已沉积功能层包括阳极，所述高速电检测系统在无需阴极的情况下对所述印刷显示面板进行检测。

8、可选的，所述印刷显示面板的所述发光像素包括已沉积功能层与所述发光层，所述已沉积功能层包括阴极，所述高速电检测系统在无需阳极的情况下对所述印刷显示面板进行检测。

9、可选的，所述检测探头阵列的所述检测探头阵列与所述印刷显示面板在检测过程中的距离保持在0.5mm-2mm之间，所述高频交流电供电模块的供电电压在4000v。

10、可选的，所述检测探头阵列包括多个阵列排布的所述检测探头，各个所述检测探头均设置有对应检测开关且一个所述检测探头对应一个所述发光像素；所述检测探头阵列在检测过程中控制所述检测开关使相邻的所述检测探头在不同的时间段开启检测。

11、可选的，所述电控位移模块具体用于：在所述印刷显示面板对应检测区域检测完成后，运输所述第一基板或所述检测探头阵列使下一检测区域与所述第一基板或所述检测探头阵列相对应。

12、可选的，所述检测探头的底面积不小于所述待检测第一基板的单个发光像素面积，所述检测探头阵列每次检测至少对应一个发光像素。

13、可选的，所述高速电检测系统处于无水氧环境。

14、可选的，所述检测探头由平面导电基板及其支撑结构组成，所述平面导电基板的面积不小于所述待检测第一基板的单个发光像素面积。

15、本发明的有益效果：1、本发明的系统包括包含导电层的第一基板、与导电层相对设置的检测探头阵列；检测探头阵列至少包括一个检测探头，检测探头阵列和导电层分别与高频交流电供电模块进行电连接；高频交流电供电模块用于向检测探头阵列和导电层进行供电以使检测探头阵列和导电层之间形成第一交变电场，第一交变电场用于使印刷显示面板电致发光。本发明通过电场引导发光像素中载流子定向运输从而电致发光检测发光像素是否合格，进而实现无接触式检测，避免了接触检测带来的损色。同时，相较于现有技术的针测，本发明可以一个检测探头检测多个发光像素，大大提升了检测效率。本发明相对于光学显微成像检测和电致发光检测具有更高的检测准确性。2、本发明高速电检测系统被配置为：响应于印刷显示面板中各个发光像素的阳极端位于阴极端上侧，控制光信号测量模块在第一交变电场的电场方向向下对应的半周期进行发光信息的采集；否则，控制光信号测量模块在第一交变电场的电场方向向上对应的半周期进行发光信息的采集。本发明通过控制光信号测量模块在发光像素发光的时候进行采集，不发光时不进行采集，可以有效减少持续保持采集状态的能源浪费。同时，在发光像素正确的发光时间进行光信号采集，可以将错误发光的发光像素进行故障排除(发光像素在另外的时间进行发光，这是故障情况，但是由于会发光还是误将其检测为合格，可以有效避免这种情况发生)。3、本发明的印刷显示面板的发光像素包括已沉积功能层与发光层，高速电检测系统在未蒸镀金属电极的情况下对所述印刷显示面板进行检测。在需蒸镀金属电极的情况下对所述印刷显示面板进行检测可以及时发现故障发光像素，比起对发光像素完全制造后再发现错误进行排除，可以有效减少工序和资源浪费。4、本发明的检测探头阵列包括多个阵列排布的检测探头，各个检测探头均设置有对应检测开关且一个检测探头对应一个发光像素；检测探头阵列在检测过程中控制检测开关使相邻的检测探头在不同的时间段开启检测。本发明使得相邻的发光像素在不同的时间段进行发光，有效避免相邻的发光像素同时发光造成的互相干扰问题，使得光信号测量模块检测更加精准，有效地提高了对发光像素故障的检测精准度。

16、综上，本发明可以有效在避免检测损伤印刷显示面板的同时，提高检测效率和检测精准度。