显示驱动IC装置及使用显示驱动IC装置的探针测试方法与流程

以下描述涉及能够利用设置在测试设备中的少量测量单元来执行探针测试的显示驱动ic装置。

背景技术：

1、显示装置包括诸如lcd面板或led面板的显示面板，以及用于驱动显示面板的显示驱动ic。显示驱动ic连接至显示面板的每个信道，并且传输要显示在显示面板上的图像的数据信号。

2、这些显示驱动ic包括用于接收要显示的数据或输入电压的输入焊盘以及用于输出源信号的输出焊盘(即，源驱动焊盘)。另外，显示驱动ic还在显示装置的制造阶段期间用于使用测试设备对显示面板执行探针测试。此时，由于使用源驱动焊盘执行探针测试，因此测试设备需要与源驱动焊盘对应的测量单元。

3、常规地，可以利用常规的测试设备对不具有高分辨率的显示装置进行探针测试。然而，最近，显示装置已经被设计成具有比常规分辨率高得多的分辨率，并且源驱动焊盘的数目必定会相应地增加。因此，常规的测试设备无法对最近设计的显示装置充分地执行探针测试。换言之，不可能仅利用测试设备中的适当数目的测量单元来测试数目随分辨率增加的所有源驱动焊盘。

4、当然，可以增加测试设备的测量单元数目以适配源驱动焊盘，但是这可能是有问题的，因为增加了测试设备的制造成本。

技术实现思路

1、提供本技术实现要素：来以简化形式介绍一系列构思，所述构思将在下面的具体实施方式中进一步描述。本发明内容不旨在识别所要求保护的主题的关键特征或必要特征，也不旨在用于帮助确定所要求保护的主题的范围。

2、在一个一般方面，一种显示驱动ic装置包括：第一信道块至第n信道块，每个信道块包括m个源放大器，n和m是整数；源驱动焊盘，各自连接至m个源放大器；多路复用器，被配置成交替进行源放大器的数据输出或者选择性地提供测试路径，使得通过从源驱动焊盘中选择的测试焊盘对第一信道块至第n信道块中每一个信道块的多个源放大器执行探针测试；以及控制单元，被配置成控制源放大器和多路复用器的驱动。

3、第一信道块至第n信道块中彼此相邻的奇数信道块的测试焊盘可以短接至显示驱动ic装置的外部。第一信道块至第n信道块中彼此相邻的偶数信道块的测试焊盘可以短接至显示驱动ic装置的外部。

4、m可以是4。在测试模式下，测试焊盘可以是连接至每个信道块的第三源放大器的源驱动焊盘。

5、第一信道块至第n信道块中的每个源放大器可以顺序地连接至测试焊盘，并且探针测试在多路复用器的控制下执行。

6、测试焊盘可以各自与测试设备的测量单元接触。

7、短接的信道块对中的一个信道块可以处于可以执行测试的导通状态。短接的信道块对中的另一信道块可以处于等待测试的关断状态。

8、在完成对设置在短接的信道块对中的一个信道块中的源信道的测试之后，可以执行对设置在短接的信道块对中的另一信道块中的源信道的测试。

9、m可以是4，并且在正常模式下，源放大器可以在相邻的奇数源驱动焊盘之间交替进行数据输出。

10、被测试的信道块的源放大器可以处于驱动导通状态。连接至未经测试的其他信道块的源信道的测试焊盘可以保持浮置状态。

11、当信道块处于导通状态时，控制单元可以配置成控制多路复用器的驱动，使得源信道连接至测试焊盘。

12、在另一个一般方面，一种用于使用显示驱动ic装置执行探针测试的方法，该方法包括：使第一信道块至第n信道块中彼此相邻的奇数信道块的测试焊盘外部短接，以及使第一信道块至第n信道块中彼此相邻的偶数信道块的测试焊盘外部短接；对所短接的信道块对中的任何一对进行驱动导通；以及由测试设备的每个测量单元使用对应的信道块中的测试焊盘顺序地测试已经被驱动导通的信道块的源信道。

13、包括在短接的信道块对的其余信道块中的测试焊盘可以是浮置的。

14、该探针测试方法还可以包括：当完成对处于驱动导通状态的信道块的源信道的测试时，对包括处于浮置状态的测试焊盘的信道块进行驱动导通，以及使用对应的信道块中的一个测试焊盘顺序地测试每个信道块的源信道。

15、测试可以包括：在切换和驱动每个信道块的多路复用器时，利用连接至测试焊盘的测量单元执行测试，以及顺序地连接包括在每个信道块中的源放大器和一个测试焊盘。

16、在另一个一般方面，一种用于使用显示驱动ic装置执行探针测试的方法，该方法包括：执行第一测试处理。第一测试处理包括：将第一测量单元连接至第一信道块和第三信道块；将第二测量单元连接至第二信道块和第四信道块；将第三测量单元连接至第五信道块和第七信道块；以及将第四测量单元连接至第六信道块和第八信道块；以及由第一测量单元至第四测量单元对设置在第一信道块、第二信道块、第五信道块和第六信道块中的每一个信道块中的源信道从第一源信道开始执行探针测试。

17、探针测试方法还可以包括执行第二测试处理。第二测试处理可以包括：当完成第一测试处理时，由第一测量单元至第四测量单元对第三信道块、第四信道块、第七信道块和第八信道块中的每一个信道块的源信道从第一源信道开始执行探针测试。

18、可以为第一信道块至第八信道块中的每一个信道块提供一个测试焊盘。第一信道块和第三信道块、第二信道块和第四信道块、第五信道块和第七信道块、第六信道块和第八信道块中的每个测试焊盘可以外部短接。

19、可以在基于设置在每个信道块中的多路复用器的切换和驱动顺序地连接测试焊盘和源放大器的同时执行第一测试处理和第二测试处理。

20、当第一信道块、第二信道块、第五信道块和第六信道块中的每个源放大器处于驱动导通状态时，第三信道块、第四信道块、第七信道块和第八信道块中的每个源放大器可以处于驱动关断状态。

21、当第三信道块、第四信道块、第七信道块和第八信道块中的每个源放大器处于驱动导通状态时，第一信道块、第二信道块、第五信道块和第六信道块中的每个源放大器可以处于驱动关断状态。

22、其他特征和方面将根据以下具体实施方式、附图和权利要求变得明显。

技术特征：

1.一种显示驱动ic装置，包括：

2.根据权利要求1所述的显示驱动ic装置，其中，所述第一信道块至第n信道块中彼此相邻的奇数信道块的测试焊盘短接至所述显示驱动ic装置的外部，并且

3.根据权利要求2所述的显示驱动ic装置，其中，所述m是4，并且

4.根据权利要求3所述的显示驱动ic装置，其中，所述第一信道块至第n信道块中的每个源放大器顺序地连接至所述测试焊盘，并且所述探针测试在所述多路复用器的控制下执行。

5.根据权利要求4所述的显示驱动ic装置，其中，测试焊盘各自与测试设备的测量单元接触。

6.根据权利要求5所述的显示驱动ic装置，其中，短接的信道块对中的一个信道块处于能够执行测试的导通状态，并且

7.根据权利要求6所述的显示驱动ic装置，其中，在完成对设置在所述短接的信道块对中的一个信道块中的源信道的测试之后，执行对设置在所述短接的信道块对中的另一信道块中的源信道的测试。

8.根据权利要求1所述的显示驱动ic装置，其中，所述m是4，并且

9.根据权利要求1所述的显示驱动ic装置，其中，被测试的信道块的源放大器处于驱动导通状态，并且

10.根据权利要求1所述的显示驱动ic装置，其中，所述控制单元被配置成控制所述多路复用器的驱动，使得当信道块处于导通状态时源信道连接至所述测试焊盘。

11.一种使用显示驱动ic装置执行探针测试的方法，所述方法包括：

12.根据权利要求11所述的方法，其中，包括在所述短接的信道块对的其余信道块中的测试焊盘是浮置的。

13.根据权利要求11所述的方法，还包括：

14.根据权利要求11所述的方法，其中，所述测试包括：

15.一种用于使用显示驱动ic装置执行探针测试的方法，所述方法包括：

16.根据权利要求15所述的方法，还包括：

17.根据权利要求15所述的方法，其中，为所述第一信道块至所述第八信道块中的每一个信道块提供一个测试焊盘，并且

18.根据权利要求16所述的方法，其中，在基于设置在每个信道块中的多路复用器的切换和驱动顺序地连接测试焊盘和源放大器的同时执行所述第一测试处理和所述第二测试处理。

19.根据权利要求15所述的方法，其中，当所述第一信道块、所述第二信道块、所述第五信道块和所述第六信道块中的每个源放大器处于驱动导通状态时，所述第三信道块、所述第四信道块、所述第七信道块和所述第八信道块中的每个源放大器处于驱动关断状态。

20.根据权利要求15所述的方法，其中，当所述第三信道块、所述第四信道块、所述第七信道块和所述第八信道块中的每个源放大器处于驱动导通状态时，所述第一信道块、所述第二信道块、所述第五信道块和所述第六信道块中的每个源放大器处于驱动关断状态。

技术总结本公开内容公开了显示驱动IC装置及使用该显示驱动IC装置的探针测试方法。该显示驱动IC装置，包括：第一信道块至第N信道块，每个信道块包括M个源放大器，N和M是整数；源驱动焊盘，各自连接至M个源放大器；多路复用器，被配置成交替进行源放大器的数据输出或者选择性地提供测试路径，使得通过从源驱动焊盘中选择的测试焊盘对第一信道块至第N信道块中的每一个信道块的多个源放大器执行探针测试；以及控制单元，被配置成控制源放大器和多路复用器的驱动。技术研发人员：刘大荣,金亨奎,朴允永,李相澔受保护的技术使用者：美格纳智芯混合信号有限公司技术研发日：技术公布日：2024/6/11