一种偏光片自动光学检测缺陷喷印系统及其喷印方法与流程

本发明涉及检测系统，具体涉及一种偏光片自动光学检测缺陷喷印系统及其喷印方法。

背景技术：

1、偏光片的全称是偏振光片，是液晶面板最关键的器件之一。偏光片通常由pet保护膜、上tac膜、偏光膜、下tac膜、psa感压型黏着剂、pet离型膜构成，其中，偏光膜与tac膜之间由水溶性聚乙烯醇水胶贴合，在其制成工艺的各个环节中均可能产生外观缺陷。

2、随着信息时代的进一步发展以及智能显示器件的大量应用，对显示屏分辨率及对比度的品质要求不断提高，因此对偏光片的高显示品质要求更加严格。偏光片由于不同的生产因素影响，会产生各种类型的表面缺陷，而偏光片表面缺陷是衡量偏光片品质最为重要的一个指标，所以在卷材裁成片材后，会对每张偏光片进行表面缺陷检测，这需要大量的人工逐片进行缺陷检查。

3、但是，在检查过程中由于人眼疲劳等原因会造成误检漏检，最终影响产品的出货良率，因此，亟需提供一种自动化检测方法来提高对偏光片缺陷的检测效率以及检测精度。

技术实现思路

1、本发明的目的在于提供一种偏光片自动光学检测缺陷喷印系统及其喷印方法，解决以下技术问题：

2、如何提高对偏光片缺陷的检测效率和检测效果。

3、本发明的目的可以通过以下技术方案实现：

4、第一方面，本发明公开了一种偏光片自动光学检测缺陷喷印系统，包括：

5、ao i延伸站光学检测系统，用以检测偏光片原反表面缺陷后发送相关缺陷信息一；

6、sa-p延伸站二维码喷印系统，用以接收ao i延伸站光学检测系统发出的相关缺陷信息一并命令二维码喷印机在偏光片原反ds侧透明膜边区等同间距喷印米数以及对当前米数对应有缺陷坐标的二维码；

7、ao i涂布站光学检测系统，用以检测与pet离型膜贴合后的偏光片的表面缺陷并发送相关缺陷信息二；

8、ca-p1涂布站缺陷整合喷印系统，用以接收ao i涂布站光学检测系统发出的相关缺陷信息二，同时通过ca-p1涂布站缺陷整合喷印系统中的二维码读取机读取sa-p延伸站二维码喷印系统中的二维码喷印机在偏光片原反ds侧透明膜边区上喷印的二维码，得到相关缺陷信息一；根据不同缺陷设定不同的印章类型，整合后发送相关喷印信息；

9、ca-p2涂布站缺陷喷印系统，用以接收ca-p1涂布站缺陷整合喷印系统发送的相关喷印信息，在有缺陷的膜面上根据不同缺陷喷印不同的印章。

10、在本发明更进一步的方案中：所述ao i延伸站光学检测系统通过检测信道经网络将相关缺陷信息一传送至sa-p延伸站二维码喷印系统。

11、在本发明更进一步的方案中：所述sa-p延伸站二维码喷印系统喷印的内容还包括卷料批号。

12、在本发明更进一步的方案中：所述ao i涂布站光学检测系统通过检测信道经网络将相关缺陷信息二传送至ca-p1涂布站缺陷整合喷印系统。

13、在本发明更进一步的方案中：所述偏光片由tac膜与pva膜贴合干燥后得到。

14、在本发明更进一步的方案中：所述与pet离型膜贴合后的偏光片为：

15、将经sa-p延伸站二维码喷印系统喷印后的偏光片转移至涂布站做放卷生产，将偏光片原反膜材与涂布干燥后的pet离型膜贴合即可。

16、在本发明更进一步的方案中：所述ca-p1涂布站缺陷整合喷印系统发送的喷印信息包括缺陷名称、大小、指定种类所形成的喷印数据。

17、在本发明更进一步的方案中：所述ca-p2涂布站缺陷喷印系统对相关缺陷信息一和相关缺陷信息二所反映的缺陷位置喷印不同颜色的印章。

18、在本发明更进一步的方案中：所述ca-p2涂布站缺陷喷印系统在喷印失败时会在膜片透明区喷印失败信息，并统计喷印成功率。

19、第二方面，本发明还公开了一种如上所述的偏光片自动光学检测缺陷喷印系统的喷印方法，包括以下步骤：

20、s1；将偏光片通过ao i延伸站光学检测系统检测表面缺陷信息一，并将表面缺陷信息一发送至sa-p延伸站二维码喷印系统；

21、s2：sa-p延伸站二维码喷印系统对表面缺陷信息一进行读取后，命令二维码喷印机在偏光片原反ds侧透明膜边区等同间距喷印米数以及对当前米数对应有缺陷坐标的二维码；

22、s3：将偏光片转移至涂布站做放卷生产，偏光片原反膜材与涂布干燥后的pet离型膜贴合，再通过aoi涂布站光学检测系统检测表面缺陷信息二，并将表面缺陷信息二发送至ca-p1涂布站缺陷整合喷印系统；

23、s4：ca-p1涂布站缺陷整合喷印系统对表面缺陷信息二进行读取，同时通过ca-p1涂布站缺陷整合喷印系统的二维码读取机读取sa-p延伸站二维码喷印系统的二维码喷印机在偏光片原反ds侧透明膜边区上喷印的二维码，得到相关缺陷信息一；根据不同缺陷设定不同的印章类型，整合后向ca-p2涂布站缺陷喷印系统发送相关喷印信息；

24、s5：ca-p2涂布站缺陷喷印系统读取ca-p1涂布站缺陷整合喷印系统发送的相关喷印信息后，在有缺陷的膜面上根据不同缺陷喷印不同的印章。

25、本发明的有益效果：

26、本发明通过ao i延伸站光学检测系统、sa-p延伸站二维码喷印系统、a-p1涂布站缺陷整合喷印系统、ca-p2涂布站缺陷喷印系统相互配合，使偏光片卷材裁切成片材后进行表面缺陷的检测时，可对偏光片上的不同类型的缺陷喷印不同的印章，有利于工人根据偏光片膜面上的印章迅速高效地挑除不良品，可节约大量的检测人工并降低由于人工眼睛疲劳导致的误检，进而可提高对偏光片缺陷检测的效率及效果。

技术特征：

1.一种偏光片自动光学检测缺陷喷印系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的偏光片自动光学检测缺陷喷印系统，其特征在于，所述ao i延伸站光学检测系统通过检测信道经网络将相关缺陷信息一传送至sa-p延伸站二维码喷印系统。

3.根据权利要求1所述的偏光片自动光学检测缺陷喷印系统，其特征在于，所述sa-p延伸站二维码喷印系统喷印的内容还包括卷料批号。

4.根据权利要求1所述的偏光片自动光学检测缺陷喷印系统，其特征在于，所述ao i涂布站光学检测系统通过检测信道经网络将相关缺陷信息二传送至ca-p1涂布站缺陷整合喷印系统。

5.根据权利要求1所述的偏光片自动光学检测缺陷喷印系统，其特征在于，所述偏光片由tac膜与pva膜贴合干燥后得到。

6.根据权利要求1所述的偏光片自动光学检测缺陷喷印系统，其特征在于，所述与pet离型膜贴合后的偏光片为：

7.根据权利要求1所述的偏光片自动光学检测缺陷喷印系统，其特征在于，所述ca-p1涂布站缺陷整合喷印系统发送的喷印信息包括缺陷名称、大小、指定种类所形成的喷印数据。

8.根据权利要求1所述的偏光片自动光学检测缺陷喷印系统，其特征在于，所述ca-p2涂布站缺陷喷印系统对相关缺陷信息一和相关缺陷信息二所反映的缺陷位置喷印不同颜色的印章。

9.根据权利要求1所述的偏光片自动光学检测缺陷喷印系统，其特征在于，所述ca-p2涂布站缺陷喷印系统在喷印失败时会在膜片透明区喷印失败信息，并统计喷印成功率。

10.一种如权利要求1-9任一所述的偏光片自动光学检测缺陷喷印系统的喷印方法，其特征在于，包括以下步骤：

技术总结本发明公开了一种偏光片自动光学检测缺陷喷印系统及其喷印方法，该系统包括AOI延伸站光学检测系统、SA‑P延伸站二维码喷印系统、AO I涂布站光学检测系统、CA‑P1涂布站缺陷整合喷印系统以及CA‑P2涂布站缺陷喷印系统，通过AO I延伸站光学检测系统、SA‑P延伸站二维码喷印系统、CA‑P1涂布站缺陷整合喷印系统、CA‑P2涂布站缺陷喷印系统相互配合，使偏光片卷材裁切成片材后进行表面缺陷的检测时，可对偏光片上的不同类型的缺陷喷印不同的印章，有利于工人根据偏光片膜面上的印章迅速高效地挑除不良品，可节约大量的检测人工并降低由于人工眼睛疲劳导致的误检，进而可提高对偏光片缺陷检测的效率及效果。技术研发人员：毛献伟,徐学斌,陈喜成,俞纪贤,戚良玉,陈鑫受保护的技术使用者：合肥德瑞格光电科技有限公司技术研发日：技术公布日：2024/5/6