一种转盘分拣的晶振测试机的制作方法

本技术涉及晶振加工设备领域，特别涉及一种转盘分拣的晶振测试机。

背景技术：

1、晶振是电子电路中最常用的电子元件之一。晶振具有压电效应，即在晶片两极外加电压后晶体会产生变形，反过来如外力使晶片变形，则两极上金属片又会产生电压。如果给晶片加上适当的交变电压，晶片就会产生谐振(谐振频率与石英斜面倾角等有关系，且频率一定)。晶振利用一种能把电能和机械能相互转化的晶体，在共振的状态下工作可以提供稳定、精确的单频振荡。在通常工作条件下，普通的晶振频率绝对精度可达百万分之五十。

2、在生产晶振时需要将其通交流电，测试其频率、电阻、振荡性能，而这个工作目前大多数是人工完成的，效率低下，且由于根据晶振的频率、电阻、振荡性能的不同，可将晶振应用在不同的领域上，采用人工逐一分拣的方式非常麻烦。

3、除人工测试外，也有通过测试设备进行测试的现有技术，由于晶振的体积限制，难以把控对于批量晶振的有序传输，导致测试精度不高，提高了返修率，工作效率同样低下，且一般仅能对优品次品进行分拣，分拣种类少。

4、故此，现有的晶振测试机需要进一步改善。

技术实现思路

1、针对上述现有技术，本实用新型要实现的技术是：采用机器测试以及自动分拣，晶振批量有序传输，测试精度高，分拣种类多。

2、为了达到上述目的，本实用新型采用以下方案：

3、一种转盘分拣的晶振测试机，包括有机体支架，传输晶振的传输带，其特征在于：还包括有可对晶振进行有序测试的检测结构，以及可对测试后的晶振进行分类的分拣装置。

4、进一步地，本实用新型中的检测结构包括有测试模块，在所述测试模块一侧设置有检测探头。

5、进一步地，本实用新型中的检测探头为弹片。

6、进一步地，本实用新型中的机体支架上设置有可带动检测探头对晶振触碰的气缸。

7、进一步地，本实用新型中的检测结构还包括有可让晶振逐一传输的限流结构。

8、进一步地，本实用新型中的限流结构包括有设置在传输带两侧的若干个驱动电机，在所述驱动电机的活动端上设置有可顶压晶振的顶针。

9、进一步地，本实用新型中的分拣装置包括有设置在机体支架上的汇流斗，所述汇流斗正对在传输带下方，在所述机体支架底部设置有定柱，在所述定柱顶部铰设有能定点转动的转盘，在所述转盘上固设有斜向设置的传输管，所述传输管两端均设置设有平切面。

10、进一步地，本实用新型中的机体支架底部设置有多个分拣盒，多个的所述分拣盒呈圆形布设。

11、进一步地，本实用新型中的传输带斜向设置在机体支架顶部，所述传输带包括有设置在机体支架顶部的传输基座以及设置在传输基座上的传输导轨，在所述传输基座以及传输导轨中部设置有可供晶振传输的传输槽。

12、综上所述，本实用新型相对于现有技术其有益效果是：

13、本实用新型通过检测结构对晶振能够有序进行测试，利用限流结构使晶振的传输可逐一进行测试，检测精度高、效率高，且根据测试的结果将不同的检测数据区间进行转动式分拣，因此可进行多种类的分拣，适配于不同应用需求的晶振。

技术特征：

1.一种转盘分拣的晶振测试机，包括有机体支架(1)，传输晶振的传输带(2)，其特征在于：还包括有可对晶振进行有序测试的检测结构(3)，以及可对测试后的晶振进行分类的分拣装置(4)。

2.根据权利要求1所述的一种转盘分拣的晶振测试机，其特征在于所述检测结构(3)包括有测试模块(31)，在所述测试模块(31)一侧设置有检测探头(32)。

3.根据权利要求2所述的一种转盘分拣的晶振测试机，其特征在于所述检测探头(32)为弹片。

4.根据权利要求2所述的一种转盘分拣的晶振测试机，其特征在于在所述机体支架(1)上设置有可带动检测探头(32)对晶振触碰的气缸(33)。

5.根据权利要求1-3任意一项所述的一种转盘分拣的晶振测试机，其特征在于所述检测结构(3)还包括有可让晶振逐一传输的限流结构(5)。

6.根据权利要求5所述的一种转盘分拣的晶振测试机，其特征在于所述限流结构(5)包括有设置在传输带(2)两侧的若干个驱动电机(51)，在所述驱动电机(51)的活动端上设置有可顶压晶振的顶针(52)。

7.根据权利要求1所述的一种转盘分拣的晶振测试机，其特征在于所述分拣装置(4)包括有设置在机体支架(1)上的汇流斗(41)，所述汇流斗(41)正对在传输带(2)下方，在所述机体支架(1)底部设置有定柱(42)，在所述定柱(42)顶部铰设有能定点转动的转动盘(43)，在所述转动盘(43)上固设有斜向设置的传输管(44)，所述传输管(44)两端均设置设有平切面(45)。

8.根据权利要求7所述的一种转盘分拣的晶振测试机，其特征在于在所述机体支架(1)底部设置有多个分拣盒(6)，多个的所述分拣盒(6)呈圆形布设。

9.根据权利要求1所述的一种转盘分拣的晶振测试机，其特征在于所述传输带(2)斜向设置在机体支架(1)顶部，所述传输带(2)包括有设置在机体支架(1)顶部的传输基座(21)以及设置在传输基座(21)上的传输导轨(22)，在所述传输基座(21)以及传输导轨(22)中部设置有可供晶振传输的传输槽(23)。

技术总结本技术公开一种转盘分拣的晶振测试机，包括有机体支架，传输晶振的传输带，还包括有可对晶振进行有序测试的检测结构，以及可对测试后的晶振进行分类的分拣装置，本技术通过检测结构对晶振能够有序进行测试，利用限流结构使晶振的传输可逐一进行测试，检测精度高、效率高，且根据测试的结果将不同的检测数据区间进行转动式分拣，因此可进行多种类的分拣，适配于不同应用需求的晶振。技术研发人员：董彪,杜江,马朝勇,刘继云,吕宗伟,江勇受保护的技术使用者：中山惠源晶工电子科技有限公司技术研发日：20231113技术公布日：2024/7/11