一种多功能测试装置、测试设备的制作方法

本申请涉及多功能测试装置领域，尤其涉及一种多功能测试装置、测试设备。

背景技术：

1、micro led不仅继承了传统led高效率、高亮度、高可靠性和反应时间快的优点，而且还具有节能、机构简单、体积小、薄型以及发光无需背光源的特点。

2、micro led作为新型微电子半导体，其在制作过程中需要对微电子产品进行不同性能的测试操作，而相关技术中，对微电子产品进行不同的测试操作需在不同的设备上完成，影响了产品的生产效率。

技术实现思路

1、为克服现有技术中的不足，本申请提供一种多功能测试装置、测试设备。

2、第一方面，本申请提供的一种多功能测试装置，包括：壳体、检查件、吸附件与测试件，所述壳体用于形成置物空间，所述检查件包括放大镜及第一吸附位，所述放大镜设置于所述壳体上，所述第一吸附位设置于所述壳体上，所述第一吸附位用于放置待检查物料，所述吸附件包括真空源及导流件，所述真空源设置于所述置物空间中，所述导流件的一端与所述真空源连接，所述导流件的另一端上设置有第二吸附位，所述第二吸附位用于将所述待检查物料移动吸附至所述第一吸附位上，所述测试件设置于所述壳体上，所述测试件用于电性测试。

3、结合第一方面，在一种可能的实施方式中，所述真空源与控制件连接，所述控制件用于控制所述第一吸附位和/或第二吸附位的吸附力。

4、结合第一方面，在一种可能的实施方式中，所述置物空间内设置有电源，所述电源与所述控制件电连接，所述电源与所述真空源电连接。

5、结合第一方面，在一种可能的实施方式中，所述电源与所述测试件电连接，所述控制件与所述测试件连接，所述控制件用于控制所述测试件的通断电。

6、结合第一方面，在一种可能的实施方式中，所述测试件上设置有磁吸件，所述磁吸件用于与测试器件磁吸连接，所述控制件与所述电源电连接，所述控制件用于控制所述测试件的通断电。

7、结合第一方面，在一种可能的实施方式中，所述第二吸附位上设置有吸头，所述吸头朝靠近所述导流件的方向凹陷设置，且所述吸头与所述导流件可拆卸连接。

8、结合第一方面，所述第一吸附位上设置有散热件。

9、结合第一方面，在一种可能的实施方式中，所述散热件上设置有温度传感件，所述多功能测试装置还包括：第一显示件，所述温度传感件与第一显示件连接，所述温度传感件用于检测所述散热件的温度并反馈至所述第一显示件。

10、结合第一方面，在一种可能的实施方式中，所述多功能测试装置还包括：第二显示件，所述第二显示件与所述测试件连接，所述第二显示件用于显示所述测试件的电性能数据。

11、第二方面，本申请提供的一种测试设备，包括上述的所述多功能测试装置。

12、相比现有技术，本申请的有益效果：

13、本申请提供的多功能测试装置，所述放大镜设置于所述壳体上，所述第一吸附位用于放置待检查物料，以能对微电子产品的外观进行检查，且所述第二吸附位用于将所述待检查物料移动吸附至所述第一吸附位上，相比于传统的镊子夹取微电子产品的方式，本申请通过所述真空源、所述导流件及所述第二吸附位的配合，能将微电子产品进行移动吸附，能改善因镊子使用不当而造成的微电子产品的外观损伤，提高了微电子产品的生产良率，此外，所述测试件设置于所述壳体上，所述测试件用于电性测试，在检查微电子产品外观缺陷的同时能对微电子产品的电性能进行，无需切换不同的设备以分别进行微电子产品的外观检测和电性能测试，提高了微电子产品的生产效率。

技术特征：

1.一种多功能测试装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的多功能测试装置，其特征在于，所述真空源与控制件连接，所述控制件用于控制所述第一吸附位和/或第二吸附位的吸附力。

3.根据权利要求2所述的多功能测试装置，其特征在于，所述置物空间内设置有电源，所述电源与所述控制件电连接，所述电源与所述真空源电连接。

4.根据权利要求3所述的多功能测试装置，其特征在于，所述电源与所述测试件电连接，所述控制件与所述测试件连接，所述控制件用于控制所述测试件的通断电。

5.根据权利要求3所述的多功能测试装置，其特征在于，所述测试件上设置有磁吸件，所述磁吸件用于与测试器件磁吸连接；

6.根据权利要求1所述的多功能测试装置，其特征在于，所述第二吸附位上设置有吸头，所述吸头朝靠近所述导流件的方向凹陷设置，且所述吸头与所述导流件可拆卸连接。

7.根据权利要求1所述的多功能测试装置，其特征在于，所述第一吸附位上设置有散热件。

8.根据权利要求7所述的多功能测试装置，其特征在于，所述散热件上设置有温度传感件，所述多功能测试装置还包括：第一显示件，所述温度传感件与第一显示件连接，所述温度传感件用于检测所述散热件的温度并反馈至所述第一显示件。

9.根据权利要求1-8中任意一项所述的多功能测试装置，其特征在于，所述多功能测试装置还包括：第二显示件，所述第二显示件与所述测试件连接，所述第二显示件用于显示所述测试件的电性能数据。

10.一种测试设备，其特征在于，包括权利要求1-9中任意一项所述的多功能测试装置。

技术总结本申请提供了一种多功能测试装置、测试设备，涉及多功能测试装置领域，多功能测试装置包括：壳体、检查件、吸附件与测试件，壳体用于形成置物空间，检查件包括放大镜及第一吸附位，放大镜设置于壳体上，第一吸附位设置于壳体上，第一吸附位用于放置待检查物料，吸附件包括真空源及导流件，真空源设置于置物空间中，导流件的一端与真空源连接，导流件的另一端上设置有第二吸附位，第二吸附位用于将待检查物料移动吸附至第一吸附位上，测试件设置于壳体上，测试件用于电性测试，在检查微电子产品外观缺陷的同时能对微电子产品的电性能进行，无需切换不同的设备以分别进行微电子产品的外观检测和电性能测试，提高了微电子产品的生产效率。技术研发人员：丁香荣,杨启伟受保护的技术使用者：深圳市思坦科技有限公司技术研发日：20231120技术公布日：2024/7/25