一种断路器导通测试装置的制作方法

本技术涉及断路器测试领域，具体地说，是一种断路器导通测试装置。

背景技术：

1、在断路器测试领域中，采用不同结构形式的断路器测试装置来实现断路器的高效测试是众所周知的。在研究和实现断路器的高效测试的过程中，实用新型人发现现有技术中的断路器瞬时测试机构至少存在如下问题：现有的装置需要的人工辅助步骤较多，导致测试精度不高、效率低、智能化水平低、成本高等缺点。现有的装置需要的人工辅助步骤较多，导致测试精度不高、效率低、智能化水平低、成本高等缺点。

技术实现思路

1、实用新型目的：本实用新型目的在于针对现有技术的不足，提供一种断路器导通测试装置。

2、技术方案：本实用新型所述一种断路器导通测试装置，包括机架、上料部、测试部和下料部，所述机架上设置有伺服直线轨道，所述上料部包括设置在伺服直线轨道入口端的上料夹爪，所述下料部包括设置在伺服直线轨道出口端的下料夹爪，所述测试部包括磨合部和探针部，所述磨合部包括设置在伺服直线轨道中段两侧的磨合梳，所述探针部包括架设在伺服直线轨道中段上方且配合磨合部位置的检测探针组，所述检测探针组和机架间连接有升降机构。

3、作为优选的，所述磨合梳设有两组且两组磨合梳对称设置在伺服直线轨道的两侧。

4、作为优选的，所述磨合梳包括若干个平行设置的矩形梳齿。

5、作为优选的，所述检测探针组包含若干个等距平行设置的导通探针。

6、作为优选的，所述下料部还包括配合下料夹爪的良品下料箱和次品下料箱。

7、作为优选的，所述良品下料箱和次品下料箱分别设置在下料夹爪的两侧。

8、本实用新型相比于现有技术具有以下有益效果：通过磨合部和探针部的配合，首先由磨合部中的磨合梳对待测断路器的测试部位进行磨合定位，随后再将检测探针组由升降机构驱动至测试位置来测试断路器是否导通，可以有效提高测试的精确度。

技术特征：

1.一种断路器导通测试装置，包括机架、上料部、测试部和下料部，其特征在于：所述机架上设置有伺服直线轨道，所述上料部包括设置在伺服直线轨道入口端的上料夹爪，所述下料部包括设置在伺服直线轨道出口端的下料夹爪，所述测试部包括磨合部和探针部，所述磨合部包括设置在伺服直线轨道中段两侧的磨合梳，所述探针部包括架设在伺服直线轨道中段上方且配合磨合部位置的检测探针组，所述检测探针组和机架间连接有升降机构。

2.根据权利要求1所述的一种断路器导通测试装置，其特征在于：所述磨合梳设有两组且两组磨合梳对称设置在伺服直线轨道的两侧。

3.根据权利要求1所述的一种断路器导通测试装置，其特征在于：所述磨合梳包括若干个平行设置的矩形梳齿。

4.根据权利要求1所述的一种断路器导通测试装置，其特征在于：所述检测探针组包含若干个等距平行设置的导通探针。

5.根据权利要求1所述的一种断路器导通测试装置，其特征在于：所述下料部还包括配合下料夹爪的良品下料箱和次品下料箱。

6.根据权利要求5所述的一种断路器导通测试装置，其特征在于：所述良品下料箱和次品下料箱分别设置在下料夹爪的两侧。

技术总结本技术公开了一种断路器导通测试装置，包括机架、上料部、测试部和下料部，所述机架上设置有伺服直线轨道，所述上料部包括设置在伺服直线轨道入口端的上料夹爪，所述下料部包括设置在伺服直线轨道出口端的下料夹爪，所述测试部包括磨合部和探针部，所述磨合部包括设置在伺服直线轨道中段两侧的磨合梳，所述探针部包括架设在伺服直线轨道中段上方且配合磨合部位置的检测探针组，所述检测探针组和机架间连接有升降机构，本技术的优点在于通过磨合部和探针部的配合，首先由磨合部中的磨合梳对待测断路器的测试部位进行磨合定位，随后再将检测探针组由升降机构驱动至测试位置来测试断路器是否导通，可以有效提高测试的精确度。技术研发人员：张雨嘉,张开奕,杨杨受保护的技术使用者：苏州司巴克科技股份有限公司技术研发日：20231205技术公布日：2024/7/25