一种电子电路检测设备的制作方法

本技术涉及检测设备，尤其涉及一种电子电路检测设备。

背景技术：

1、电子电路是指由电子器件和有关无线电元件组成的电路。包括放大、振荡、整流、检波、调制、频率变换、波形变换等电路，以及各种控制电路。广泛应用于各种电子设备中。

2、由中国公告号为cn217846549u公开了一种电子元器件电路检测设备，包括上端面居中开设有凹槽的承装座，所述承装座(1)的上端面对称构造有沉重板(13)，所述沉重板(13)远离承装座(1)的一端构造有定板(14)，所述定板(14)的上端面居中开设有圆槽(15)，所述圆槽(15)的底壁上居中可拆卸安装有电动伸缩杆(16)，所述电动伸缩杆(16)通过的杆件延伸穿出定板(14)并连接有用于对电子元器件电路进行检测的触头。

3、上述技术方案中连接在电动伸缩杆只能进行一个竖直方向的移动，使得触头的检测方向过于单一，使得只能对具有相同位置检测点的电子元器件进行检测，无法适应不同检测点的电子元器件的检测工作。

技术实现思路

1、本实用新型的目的是为了解决现有技术中电动伸缩杆只能进行一个竖直方向的移动，使得触头的检测方向过于单一的问题，而提出的一种电子电路检测设备。

2、为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

3、一种电子电路检测设备，包括机体，所述机体中设置有用于对电子元器件进行放置的限位组件，所述机体中设置有用于对限位组件进行扶正的扶正组件；

4、所述机体上固定安装有电动推杆，所述电动推杆上固定连接有安装箱，所述安装箱中固定安装有第一马达，所述第一马达输出端固定连接有第一转轴，所述第一转轴输出端固定连接有调节箱，所述安装箱中开设有环槽，所述环槽中设置有与调节箱固定连接有导向块；

5、所述调节箱上开设有滑槽，所述滑槽中设置有滑块，所述滑块上固定连接有检测触头；

6、所述调节箱中设置有用于驱动检测触头进行水平移动的驱动机构。

7、优选地，所述机体上开设有用于活动套设电动推杆的活动通孔，所述导向块滑动套设于环槽中。

8、优选地，所述滑槽水平开设于调节箱底端位置，所述滑块水平滑动套设于滑槽中。

9、优选地，所述驱动机构包括固定安装于调节箱中的第二马达，所述第二马达输出端固定连接有第二转轴，所述第二转轴上固定连接有转盘，所述调节箱上一体连接有支架，所述转盘上连接有牵引杆，所述牵引杆上连接有贯穿支架并与滑块固定连接的连杆。

10、优选地，所述牵引杆两端分别销轴连接于转盘与连杆上，所述支架上开设有用于活动套设连杆的导向通孔。

11、与现有技术相比，本实用新型具备以下优点：

12、1、本实用新型第二转轴通过转盘带动牵引杆进行偏转，牵引杆通过连杆带动滑块在滑槽中进行水平移动，以此对检测触头水平位置进行调整，使得检测触头能对电子元器件不同水平位置的检测点进行检测。

13、2、本实用新型中第一马达通过第一转轴带动调节箱进行旋转，使得检测触头能对电子元器件不同水平角度的检测点进行检测，有助于提高检测设备的适用性。

技术特征：

1.一种电子电路检测设备，包括机体(1)，其特征在于，所述机体(1)中设置有用于对电子元器件进行放置的限位组件(2)，所述机体(1)中设置有用于对限位组件(2)进行扶正的扶正组件(3)；

2.根据权利要求1所述的一种电子电路检测设备，其特征在于，所述机体(1)上开设有用于活动套设电动推杆(4)的活动通孔，所述导向块(10)滑动套设于环槽(9)中。

3.根据权利要求1所述的一种电子电路检测设备，其特征在于，所述滑槽(11)水平开设于调节箱(8)底端位置，所述滑块(12)水平滑动套设于滑槽(11)中。

4.根据权利要求1所述的一种电子电路检测设备，其特征在于，所述驱动机构包括固定安装于调节箱(8)中的第二马达(14)，所述第二马达(14)输出端固定连接有第二转轴(15)，所述第二转轴(15)上固定连接有转盘(16)，所述调节箱(8)上一体连接有支架(17)，所述转盘(16)上连接有牵引杆(18)，所述牵引杆(18)上连接有贯穿支架(17)并与滑块(12)固定连接的连杆(19)。

5.根据权利要求4所述的一种电子电路检测设备，其特征在于，所述牵引杆(18)两端分别销轴连接于转盘(16)与连杆(19)上，所述支架(17)上开设有用于活动套设连杆(19)的导向通孔。

技术总结本技术涉及检测设备技术领域，尤其涉及一种电子电路检测设备，包括机体，机体上固定安装有电动推杆，电动推杆上固定连接有安装箱，安装箱中固定安装有第一马达，第一马达输出端固定连接有第一转轴，第一转轴输出端固定连接有调节箱，安装箱中开设有环槽，环槽中设置有与调节箱固定连接有导向块，第二转轴通过转盘带动牵引杆进行偏转，牵引杆通过连杆带动滑块在滑槽中进行水平移动，以此对检测触头水平位置进行调整，使得检测触头能对电子元器件不同水平位置的检测点进行检测，第一马达通过第一转轴带动调节箱进行旋转，使得检测触头能对电子元器件不同水平角度的检测点进行检测，有助于提高检测设备的适用性。技术研发人员：韩斌斌受保护的技术使用者：宁波恒实质量检测技术服务有限公司技术研发日：20230921技术公布日：2024/7/25