一种研磨盘的平面度测量装置的制作方法

本技术涉及一种研磨盘的平面度测量装置，尤其涉及一种体积小、使用方便、利于快速检测的研磨盘的平面度测量装置。

背景技术：

1、对于工件的平面度和平行度，最好的加工设备是双面研磨机，而双面研磨机研磨盘的平面度决定了工件的工件的平面度，但是研磨盘直径都在800mm以上，且装在研磨机上，测量其平面度非常不方便。传统的检测需要长度近1米的刀口尺放置于研磨盘上，通过塞尺来判断研磨盘的凹凸，非常不方便且工作量大，需要一人握尺，一人塞塞尺。因此，如何解决上述问题，改善研磨盘平面度检测便利是本实用新型亟待解决的问题。

技术实现思路

1、本实用新型所要解决的技术问题是提供一种研磨盘的平面度测量装置，具有体积小、使用方便、利于快速检测的特点。

2、为解决上述技术问题，本实用新型的技术方案为：一种研磨盘的平面度测量装置，其创新点在于：所述研磨盘的平面度测量装置包括平板、设置在基准平面与所述平板之间且位于平板下表面的若干支撑柱、垂直设置在平板上且沿平板长度方向设置的若干检测单元，所述检测单元包括穿过所述平板接触或非接触所述待检测研磨盘上表面的立柱、设置在该立柱顶部的百分表。

3、优选的，所述百分表上设置有用于信号反馈的无线发射装置，所述无线发射装置与电脑上的无线接收装置信号连接，所述电脑上内置有数据处理模块。

4、优选的，所述平板的长度大于或者等于待检测测研磨盘的直径。

5、优选的，所述平板上沿平板长度方向上设置有若干上下贯通的通孔，相应所述立柱穿过对应所述通孔，所述立柱与所述通孔之间间隙配合或者过渡配合。

6、优选的，所述平板上设置有抵住或者松开所述检测单元上所述立柱的锁止装置，所述锁止装置位于所述通孔位置处。

7、优选的，所述锁止装置包括设置在平板上与立柱垂直设置的安装孔、螺纹连接在所述安装孔中抵住或者松开所述立柱的锁紧螺丝。

8、优选的，所述安装孔和所述通孔贯通，且所述安装孔的直径小于所述通孔的直径。

9、优选的，所述平板下表面设置有采用三点支撑的三个所述支撑柱，包括位于平板一端的第一支撑柱、第二支撑柱，位于平板另一端的第三支撑柱，所述第一支撑柱和第二支撑柱分布在平板上沿平板长度方向设置的平板左端，所述第三支撑柱分布在平板上沿平板长度方向设置的平板右端；所述第一支撑柱、第二支撑柱和第三支撑柱处于同一水平高度。

10、优选的，所述第一支撑柱、第二支撑柱和所述第三支撑柱均活动连接在所述平板上，所述活动连接为：所述第一支撑柱、第二支撑柱和所述第三支撑柱在垂直方向上分别设置有若干第一连接孔、若干第二连接孔和若干第三连接孔，所述平板上第一支撑柱、第二支撑柱和所述第三支撑柱安装位置处分别设置有中心轴线水平设置的第一销轴孔、第二销轴孔和第三销轴孔，第一销轴穿过平板上的所述第一销轴孔后钉入相应所述第一连接孔中，第二销轴穿过平板上的所述第二销轴孔后钉入相应所述第二连接孔中，第三销轴穿过平板上的所述第三销轴孔后钉入相应所述第三连接孔中。

11、优选的，所述第一销轴钉入相应所述第一连接孔、所述第二销轴钉入相应所述第二连接孔、所述第三销轴钉入相应所述第三连接孔时，第一支撑柱的底部、第二支撑柱的底部和第三支撑柱的底部处于同一水平高度。

12、本实用新型的优点在于：通过采用上述结构，利用平板、若干支撑柱、若干检测单元上的百分表，完成对研磨盘表面的多个平面度数据获取，从而得出待检测研磨盘的平面度数据。相较于传统结构，平板和支撑柱的框架结构，易于搬运、便携，使用方便，辅以检测单元上的百分表完成平面度数据的获取。

技术特征：

1.一种研磨盘的平面度测量装置，其特征在于：所述研磨盘的平面度测量装置包括平板、设置在基准平面与所述平板之间且位于平板下表面的若干支撑柱、垂直设置在平板上且沿平板长度方向设置的若干检测单元，所述检测单元包括穿过所述平板接触或非接触待检测研磨盘上表面的立柱、设置在该立柱顶部的百分表；

2.如权利要求1所述的一种研磨盘的平面度测量装置，其特征在于：所述百分表上设置有用于信号反馈的无线发射装置，所述无线发射装置与电脑上的无线接收装置信号连接，所述电脑上内置有数据处理模块。

3.如权利要求1所述的一种研磨盘的平面度测量装置，其特征在于：所述平板的长度大于或者等于待检测测研磨盘的直径。

4.如权利要求1所述的一种研磨盘的平面度测量装置，其特征在于：所述锁止装置包括设置在平板上与立柱垂直设置的安装孔、螺纹连接在所述安装孔中抵住或者松开所述立柱的锁紧螺丝。

5.如权利要求4所述的一种研磨盘的平面度测量装置，其特征在于：所述安装孔和所述通孔贯通，且所述安装孔的直径小于所述通孔的直径。

6.如权利要求1所述的一种研磨盘的平面度测量装置，其特征在于：所述平板下表面设置有采用三点支撑的三个所述支撑柱，包括位于平板一端的第一支撑柱、第二支撑柱，位于平板另一端的第三支撑柱，所述第一支撑柱和第二支撑柱分布在平板上沿平板长度方向设置的平板左端，所述第三支撑柱分布在平板上沿平板长度方向设置的平板右端；所述第一支撑柱、第二支撑柱和第三支撑柱处于同一水平高度。

7.如权利要求6所述的一种研磨盘的平面度测量装置，其特征在于：所述第一支撑柱、第二支撑柱和所述第三支撑柱均活动连接在所述平板上，所述活动连接为：所述第一支撑柱、第二支撑柱和所述第三支撑柱在垂直方向上分别设置有若干第一连接孔、若干第二连接孔和若干第三连接孔，所述平板上第一支撑柱、第二支撑柱和所述第三支撑柱安装位置处分别设置有中心轴线水平设置的第一销轴孔、第二销轴孔和第三销轴孔，第一销轴穿过平板上的所述第一销轴孔后钉入相应所述第一连接孔中，第二销轴穿过平板上的所述第二销轴孔后钉入相应所述第二连接孔中，第三销轴穿过平板上的所述第三销轴孔后钉入相应所述第三连接孔中。

8.如权利要求7所述的一种研磨盘的平面度测量装置，其特征在于：所述第一销轴钉入相应所述第一连接孔、所述第二销轴钉入相应所述第二连接孔、所述第三销轴钉入相应所述第三连接孔时，第一支撑柱的底部、第二支撑柱的底部和第三支撑柱的底部处于同一水平高度。

技术总结本技术公开了一种研磨盘的平面度测量装置包括平板、设置在基准平面与所述平板之间且位于平板下表面的若干支撑柱、垂直设置在平板上且沿平板长度方向设置的若干检测单元，所述检测单元包括穿过所述平板接触或非接触所述待检测研磨盘上表面的立柱、设置在该立柱顶部的百分表。通过采用上述结构，利用平板、若干支撑柱、若干检测单元上的百分表，完成对研磨盘表面的多个平面度数据获取，从而得出待检测研磨盘的平面度数据。相较于传统结构，平板和支撑柱的框架结构，易于搬运、便携，使用方便，辅以检测单元上的百分表完成平面度数据的获取。技术研发人员：吕弘杲受保护的技术使用者：厦门市海鼎盛科技有限公司技术研发日：20230711技术公布日：2024/7/25