屏幕缺陷检测方法、电子设备及存储介质与流程

本申请一般涉及图像处理。更具体地，本申请涉及一种屏幕缺陷检测方法、电子设备及存储介质。

背景技术：

1、随着液晶显示屏（lcd）大量使用在电视、计算机监视器、移动电话等设备上，液晶显示屏的品质在大量生产下也越来越需要重视。mura是指液晶显示屏因亮度不均匀而造成各种痕迹产生的现象，其中原因可能是由于lcd贴附彩色滤片时而造成的显示瑕疵，或者驱动芯片、液晶本身也都可能成为mura的成因。mura的严重程度是判断显示屏品质的重要参考，因此对显示屏进行mura检测是不可或缺的。

2、现有技术中，可以将图像按整行或者整列分成若干份，然后使用均值滤波比较相邻子份之间的灰阶差异来判断是否存在mura缺陷，针对于mura响应的计算，影响权重仅限于mura的局部区域，没有充分利用图像信息，容易导致mura缺陷的检出精度降低。

3、有鉴于此，亟需提供一种屏幕缺陷检测方法，以便能够动态调整缺陷权重范围，引入更广的邻域像素来计算缺陷响应值，提升缺陷的检出精度。

技术实现思路

1、为了至少解决如上所提到的一个或多个技术问题，本申请在多个方面中提出了屏幕缺陷检测方法、电子设备及存储介质。该屏幕缺陷检测方法能够动态调整缺陷权重范围，引入更广的邻域像素来计算缺陷响应值，提升缺陷的检出精度。

2、在第一方面中，本申请提供一种屏幕缺陷检测方法，包括：获取待测屏幕图像，并对待测屏幕图像进行预处理，得到目标检测图像；对目标检测图像进行分块处理，得到多个子图像块；分别将每一子图像块展开为行向量，得到多个初始行向量；基于预设线性滤波核的滤波核长度对每一初始行向量进行邻域像素点填充，得到多个扩展行向量；基于每一扩展行向量和每一扩展行向量分别对应的初始行向量确定初始响应图；对初始响应图进行闭操作和灰尘过滤操作，得到目标响应图；基于目标响应图进行缺陷分割，得到缺陷区域位置。

3、在一些实施例中，对目标检测图像进行分块处理包括：基于子图像块的预设像素行数和预设像素列数对目标检测图像划分进行处理。

4、在一些实施例中，基于子图像块的预设像素行数和预设像素列数对目标检测图像划分进行处理包括：根据目标检测图像的图像像素行数和图像像素列数以及预设像素行数和预设像素列数确定子图像块数量、像素行余数r和像素列余数c；将像素行余数r对应的剩余行像素点均分至前r个子图像块的子图像行中；将像素列余数c对应的剩余列像素点均分至前c个子图像块的子图像列中。

5、在一些实施例中，分别将每一子图像块展开为行向量包括：若检测横向缺陷，则分别将每一子图像块按行进行s型方向展开；若检测竖向缺陷，则分别将每一子图像块按列进行s型方向展开；若检测斜向缺陷，则分别将每一子图像块旋转45°和/或135°后按行进行s型方向展开或按列进行s型方向展开。

6、在一些实施例中，基于预设线性滤波核的滤波核长度对每一初始行向量进行邻域像素点填充包括：基于预设滤波核尺寸范围构建预设线性滤波核；基于预设线性滤波核的一半滤波核长度对每一初始行向量进行邻域像素点填充。

7、在一些实施例中，基于每一扩展行向量和每一扩展行向量分别对应的初始行向量确定初始响应图包括：通过预设线性滤波核分别对每一扩展行向量进行均值滤波处理，得到多个目标行向量；分别将每一目标行向量与每一目标行向量分别对应的初始行向量进行作差，得到多个响应行向量；根据每一子图像块的图像块位置索引和每一响应行向量对应的子图像块分别将每一响应行向量转换为每一子图像块对应的响应图像块；基于每一子图像块对应的响应图像块形成初始响应图。

8、在一些实施例中，对待测屏幕图像进行预处理包括：基于待测屏幕图像确定待测屏幕区域；对待测屏幕区域进行透视变换，得到校正屏幕区域图像；对校正屏幕区域图像进行高斯金字塔降采样，将图像信息熵值最高的尺度图作为目标检测图像。

9、在一些实施例中，对初始响应图进行闭操作和灰尘过滤操作包括：分别通过平行方向连接核和正交方向连接核对初始响应图进行闭操作；并且获取待检测显示屏幕的屏幕表面打光图；对屏幕表面打光图进行阈值分割，得到非目标缺陷区域掩模图；在初始响应图中将非目标缺陷区域掩模图对应的非目标缺陷位置的像素点灰度值置零。

10、在第二方面中，本申请提供一种电子设备，包括：处理器；以及存储器，其上存储有用于屏幕缺陷检测的程序代码，当所述程序代码被所述处理器执行时，使所述电子设备实现如上所述的方法。

11、在第三方面中，本申请提供一种非暂时性机器可读存储介质，其上存储有用于屏幕缺陷检测的程序代码，当所述程序代码由处理器执行时，能够实现如上所述的方法。

12、本申请提供的技术方案可以包括以下有益效果：

13、本申请提供的屏幕缺陷检测方法、电子设备及存储介质，通过获取待测屏幕图像并对待测屏幕图像进行预处理，得到目标检测图像，进而对目标检测图像进行分块处理，得到多个子图像块，从而能够提升缺陷检出长度与实际缺陷长度的符合度。

14、进一步地，本申请能够分别将每一子图像块展开为行向量，得到多个初始行向量，进而基于预设线性滤波核的滤波核长度对每一初始行向量进行邻域像素点填充，得到多个扩展行向量，从而能够通过设置线性滤波核的滤波核长度来动态调整缺陷权重范围，从而可以引入将更广的邻域像素计算缺陷响应值，将影响缺陷检出的权重扩大至更广的图像区域，提升缺陷的检出精度。进而基于每一扩展行向量和每一扩展行向量分别对应的初始行向量确定初始响应图，进而对初始响应图进行闭操作和灰尘过滤操作，得到目标响应图，从而基于目标响应图进行缺陷分割，得到缺陷区域位置。

15、总的来说，本申请能够动态调整缺陷权重范围，引入更广的邻域像素来计算缺陷响应值，提升缺陷的检出精度。

技术特征：

1.一种屏幕缺陷检测方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的屏幕缺陷检测方法，其特征在于，所述对所述目标检测图像进行分块处理包括：

3.根据权利要求2所述的屏幕缺陷检测方法，其特征在于，所述基于所述子图像块的预设像素行数和预设像素列数对所述目标检测图像划分进行处理包括：

4.根据权利要求1所述的屏幕缺陷检测方法，其特征在于，所述分别将每一子图像块展开为行向量包括：

5.根据权利要求1所述的屏幕缺陷检测方法，其特征在于，所述基于预设线性滤波核的滤波核长度对每一初始行向量进行邻域像素点填充包括：

6.根据权利要求1所述的屏幕缺陷检测方法，其特征在于，所述基于每一扩展行向量和每一扩展行向量分别对应的初始行向量确定初始响应图包括：

7.根据权利要求1所述的屏幕缺陷检测方法，其特征在于，所述对所述待测屏幕图像进行预处理包括：

8. 根据权利要求1所述的屏幕缺陷检测方法，其特征在于，所述对所述初始响应图进行闭操作和灰尘过滤操作包括：

9. 一种电子设备，其特征在于，包括：

10.一种非暂时性机器可读存储介质，其特征在于，其上存储有用于屏幕缺陷检测的程序代码，当所述程序代码由处理器执行时，使得实现如权利要求1-8中任一项所述的方法。

技术总结本申请公开了一种屏幕缺陷检测方法、电子设备及存储介质。该方法包括：获取待测屏幕图像，并对待测屏幕图像进行预处理，得到目标检测图像；对目标检测图像进行分块处理，得到多个子图像块；分别将每一子图像块展开为行向量，得到多个初始行向量；基于预设线性滤波核的滤波核长度对每一初始行向量进行邻域像素点填充，得到多个扩展行向量；基于每一扩展行向量和每一扩展行向量分别对应的初始行向量确定初始响应图；对初始响应图进行闭操作和灰尘过滤操作，得到目标响应图；基于目标响应图进行缺陷分割，得到缺陷区域位置。利用本申请的技术方案，能够动态调整缺陷权重范围，引入更广的邻域像素来计算缺陷响应值，提升缺陷的检出精度。技术研发人员：请求不公布姓名,请求不公布姓名,请求不公布姓名,请求不公布姓名受保护的技术使用者：高视科技（苏州）股份有限公司技术研发日：技术公布日：2024/7/29