一种用于存储器的测试方法、装置、计算设备及存储介质与流程

本说明书涉及计算机应用，具体地说，涉及计算机应用下的存储器测试技术，更具体地说，涉及一种用于存储器的测试方法、装置、计算设备及存储介质。

背景技术：

1、存储器通常用于提供数据的存储空间，可以提供数据读取和存储的功能。存储器是片上系统(system on chip，soc)等系统的重要组成部分，在片上系统中，存储器是存储指令和相关数据的关键组成部分，因此，保障存储器处于正常的工作状态对于系统正常运行具有重要意义。

2、目前，通常通过测试方式检查系统各部件，特别是存储器是否可以正常运行。因此，提高系统测试效率对于改善用户对于系统的使用体验具有重要意义。

技术实现思路

1、本说明书实施例提供了一种用于存储器的测试方法、装置、计算设备及存储介质，通过内存控制器控制多个测试单元对各自包括的存储器进行内存自测试，实现了提高测试效率的目的。

2、为实现上述技术目的，本说明书实施例提供了如下技术方案：

3、第一方面，本说明书的一个实施方式提供一种用于存储器的测试方法，应用于内存控制器，所述内存控制器与多个测试单元建立有通信连接，所述多个测试单元中的每个测试单元均包括至少一个存储器和至少一个比较器，所述比较器的第一输入端与所述存储器的输出端连接，所述比较器的第二输入端用于接收所述内存控制器输出的测试输入数据；所述存储器的输入端用于接收所述测试输入数据，所述用于存储器的测试方法包括：

4、响应于测试指令，控制多个所述测试单元对各自包括的所述存储器进行内存自测试；

5、所述内存自测试包括：所述比较器根据所述测试输入数据和所述存储器的测试输出数据对所述存储器进行测试。

6、在本实施方式中，单个内存控制器可以与多个测试单元建立通信连接，如此，在内存自测试过程中，微控制器可以通过测试指令指示所述内存控制器控制多个所述测试单元对各自包括的所述存储器进行内存自测试，从而通过单个内存控制器即可实现对多个存储器进行内存自测试的目的，无需为每个存储器都单独布置一个内存控制器，有利于降低资源占用，降低成本，同时也有利于减少对路径延迟的影响。

7、在一些实施方式中，所述多个测试单元划分为多个子测试单元组，所述多个子测试单元组中的每个子测试单元组包括至少一个测试单元，所述内存控制器的数量为多个，所述多个内存控制器中的任意一个内存控制器分别与一个所述子测试单元组建立有通信连接，所述子测试单元组中所包含的存储器的物理特性相同。

8、在本实施方式中，通过将包含同一种物理特性的存储器的测试单元分到一个子测试单元组中的方式，使得各内存控制器连接的子测试单元组中包含的存储器的物理特性相同，从而保证了与同一个内存控制器建立有通信连接的存储器的物理特性相同。在一些实施方式中，所述子测试单元中所包含的存储器的物理特性和与其建立有通信连接的所述内存控制器相匹配，如此可以避免内存控制器与存储器之间出现数据传输错误的情况，有利于提高系统的运行可靠性。

9、在一些实施方式中，所述物理特性包括：接口数量。

10、通过接口数量可以快捷方便地确定存储器的物理特性。

11、在一些实施方式中，所述测试指令携带有所述存储器对应的属性信息，所述存储器对应的属性信息用于指示所述存储器的物理特性；

12、所述响应于测试指令，控制多个所述测试单元对各自包括的所述存储器进行内存自测试包括：

13、响应于所述测试指令，根据所述测试指令中携带的所述存储器对应的属性信息，确定目标子测试单元组；所述目标子测试单元组所包含的存储器的物理特征与所述存储器对应的属性信息指示的物理特性相同；

14、控制所述目标子测试单元组对各自包括的所述存储器进行内存自测试。

15、在本实施方式中，可以对与多个目标内存控制器连接的目标自测试单元组中的存储器同时进行内存自测试，有利于缩短内存自测试所需的时间，提高测试效率。假设子测试单元组0和子测试单元组1中所包含的存储器的物理特性相同，而子测试单元组n与子测试单元组0中所包含的存储器的物理特性不相同，则在本实施方式中，可以将与子测试单元组0和子测试单元组1建立有通信连接的内存控制器作为目标内存控制器，向这两个目标内存控制器发送测试指令，可以同时启动这两个目标内存控制器对子测试单元组0和子测试单元组1的内存自测试，从而缩短测试所需耗时，提高测试效率。

16、在一些实施方式中，所述控制所述目标子测试单元组对各自包括的所述存储器进行内存自测试包括：

17、控制所述目标子测试单元组对各自包括的所述存储器依次进行内存自测试。

18、在各目标子测试单元组内，可以通过对多个所述存储器依次进行内存自测试的方式保障内存子测试的有序进行，有利于降低测试出错概率。

19、在一些实施方式中，所述内存自测试具体包括：所述比较器比较所述测试输入数据和所述存储器的测试输出数据，并根据比较结果输出测试信息；所述测试信息用于指示所述存储器是否正常。

20、在本实施方式中，通过测试信息可以获悉存储器的状态是否正常，从而实现对存储器的内存自测试的测试结果的获悉。

21、在一些实施方式中，所述测试信息携带有所述存储器的身份标识；

22、所述测试信息包括：第一取值和第二取值；所述第一取值用于标识所述存储器的身份标识指示的所述存储器存在异常，所述第二取值用于标识所述存储器的身份标识指示的所述存储器正常。

23、在本实施方式中，由于所述测试信息携带有所述存储器的身份标识，如此，可以根据所述测试信息的具体取值判断特定存储器是否出现异常。例如，仍然参考图5，图5中的mb_fail信号表示所述测试信息，可以通过mb_fail信号的信号名称来实现对不同存储器的区分，即将mb_fail信号的信号名称作为存储器的身份标识。具体地，例如存储器0的身份标识可以为mb_fail0，存储器1的身份标识可以为mb_fail1，如此，当mb_fail0的取值为第一取值时，表征存储器0的状态异常，而当mb_fail0的取值为所述第二取值时，表示存储器0的状态正常，如此，可以实现对异常存储器的定位，有利于在发现异常存储器后的问题定位与修复。

24、在一些实施方式中，所述用于存储器的测试方法还包括：

25、接收多个所述测试单元输出的所述测试信息；

26、在任一所述测试信息包括所述第一取值时，生成错误信息，所述错误信息用于提示所述多个测试单元中至少存在一个所述测试单元包括异常的存储器。

27、在本实施方式中，当与内存控制器连接的任意一个测试单元中存在异常的存储器时，内存控制器都会向微控制器发送一个错误信息，以提醒微控制器有存储器异常，以便微控制器及时输出错误信息或终止系统的启动过程。

28、在一些实施方式中，所述用于存储器的测试方法还包括：

29、接收多个所述测试单元输出的所述测试信息；

30、响应于错误定位指令，输出异常测试信息，所述异常测试信息的取值为所述第一取值；所述异常测试信息携带的所述存储器的身份标识用于定位异常存储器。

31、在本实施方式中，微控制器可以通过向内存控制器发送错误定位指令的方式指示内存控制器将异常测试信息输出，以使微控制器可以根据该异常测试信息定位异常存储器，实现异常存储器的定位，有利于帮助异常存储器的修复。

32、在一些实施方式中，所述测试单元还包括选择器，所述选择器包括测试通路，所述响应于测试指令，控制多个所述测试单元对各自包括的所述存储器进行内存自测试包括：

33、响应于测试指令，控制所述选择器进入测试模式，在所述测试模式中，所述选择器用于将所述测试通路接收的数据传输给与所述选择器连接的所述存储器；

34、通过所述选择器的测试通路，向所述存储器传输所述测试输入数据；

35、获取所述比较器根据所述存储器的测试输入数据和所述存储器的测试输出数据对所述存储器进行测试的测试结果。

36、在本实施方式中，通过选择器是否处于测试模式，从而实现将测试输入数据或正常工作数据传输给存储器的目的，如此可以在占用存储器的一个引脚的情况下，实现不同数据的输入，满足存储器在测试和正常工作时的数据输入需求，有利于降低对存储器的硬件要求。

37、第二方面，本说明书的一个实施方式提供一种用于存储器的测试方法，应用于微控制器，所述微控制器与内存控制器建立有通信连接，所述内存控制器与多个测试单元建立有通信连接，所述多个测试单元中的每个测试单元均包括至少一个存储器和至少一个比较器，所述比较器的第一输入端与所述存储器的输出端连接，所述比较器的第二输入端用于接收所述内存控制器输出的测试输入数据；所述存储器的输入端用于接收所述测试输入数据，所述用于存储器的测试方法包括：

38、在内存测试模式下，向所述内存控制器发送测试指令；

39、所述测试指令，用于指示所述内存控制器控制多个所述测试单元对各自包括的所述存储器进行内存自测试；

40、所述内存自测试包括：所述比较器根据所述测试输入数据和所述存储器的测试输出数据对所述存储器进行测试。

41、第三方面，本说明书实施例提供了一种用于存储器的测试装置，应用于内存控制器，所述内存控制器与多个测试单元建立有通信连接，所述多个测试单元中的每个测试单元均包括至少一个存储器和至少一个比较器，所述比较器的第一输入端与所述存储器的输出端连接，所述比较器的第二输入端用于接收所述内存控制器输出的测试输入数据；所述存储器的输入端用于接收所述测试输入数据，所述用于存储器的测试装置包括：

42、测试模块，用于响应于测试指令，控制多个所述测试单元对各自包括的所述存储器进行内存自测试；

43、所述内存自测试包括：所述比较器根据所述测试输入数据和所述存储器的测试输出数据对所述存储器进行测试。

44、第四方面，本说明书实施方式提供了一种计算设备，包括：内存控制器和多个测试单元；所述内存控制器与多个测试单元建立有通信连接，所述多个测试单元中的每个测试单元均包括至少一个存储器和至少一个比较器，所述比较器的第一输入端与所述存储器的输出端连接，所述比较器的第二输入端用于接收所述内存控制器输出的测试输入数据；所述存储器的输入端用于接收所述测试输入数据；其中，

45、所述内存控制器，用于响应于测试指令，控制多个所述测试单元对各自包括的所述存储器进行内存自测试；

46、所述内存自测试包括：所述比较器根据所述存储器的测试输入数据和所述存储器的测试输出数据对所述存储器进行测试。

47、在一个实施方式中，所述多个测试单元划分为多个子测试单元组，所述多个子测试单元组中的每个子测试单元组包括至少一个测试单元，所述内存控制器的数量为多个，所述多个内存控制器中的任意一个内存控制器分别与一个所述子测试单元组建立有通信连接，所述子测试单元组中所包含的存储器的物理特性相同。

48、在一个实施方式中，所述测试指令携带有所述存储器对应的属性信息，所述存储器对应的属性信息用于指示所述存储器的物理特性；

49、所述内存控制器具体用于，响应于所述测试指令，根据所述测试指令中携带的所述存储器对应的属性信息，确定目标子测试单元组；所述目标子测试单元组所包含的存储器的物理特征与所述存储器对应的属性信息指示的物理特性相同；控制所述目标子测试单元组对各自包括的所述存储器进行内存自测试。

50、第五方面，本说明书实施例提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器运行时，实现如上述的用于存储器的测试方法。

51、第六方面，本说明书实施例提供了一种计算机程序产品或计算机程序，所述计算机程序产品包括计算机程序，所述计算机程序存储在计算机可读存储介质中；所述计算机设备的处理器从所述计算机可读存储介质读取所述计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述的用于存储器的测试方法的步骤。

52、从上述技术方案可以看出，本说明书实施例提供的用于存储器的测试方法，通过内存控制器控制多个测试单元对各自包括的存储器进行内存自测试，如此有利于释放系统的处理器资源，无需处理器频繁针对各存储器生成测试指令，使得内存控制器可以针对多个测试单元进行内存自测试，有利于提升测试效率。