一种内存条转接保护测试座的制作方法

本技术涉及内存条测试，尤其涉及一种内存条转接保护测试座。

背景技术：

1、内存是计算机的重要部件，也称内存储器和主存储器，它用于暂时存放cpu中的运算数据，以及与硬盘等外部存储器交换的数据。它是外存与cpu进行沟通的桥梁，计算机中所有程序的运行都在内存中进行，内存性能的强弱影响计算机整体发挥的水平。只要计算机开始运行，操作系统就会把需要运算的数据从内存调到cpu中进行运算，当运算完成，cpu将结果传送出来。

2、在对内存条进行测试时会使用到存条转接保护测试座，但是现有的存条转接保护测试座在使用时大都是需要将内存条插满插槽后才可进行测试，以对内存条整体的工作状态进行测试，不具备单个或指定数量的组合测试功能，当剩余插槽未插接时，仍然会有电流电压产生，这会导致测试效果不准确，因此，我们提出一种内存条转接保护测试座。

技术实现思路

1、本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，现有的存条转接保护测试座在使用时大都是需要将内存条插满插槽后才可进行测试，以对内存条整体的工作状态进行测试，不具备单个或指定数量的组合测试功能，当剩余插槽未插接时，仍然会有电流电压产生，这会导致测试效果不准确。

2、为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

3、一种内存条转接保护测试座，包括测试座本体，所述测试座本体的顶部开设有若干个安装间，若干个所述安装间内部的中心处均设有分割板，若干个所述分割板的顶部均设有滑轨结构，若干个所述滑轨结构的顶部均设有滑块结构；

4、所述分割板的底部且靠近两侧处均设有防尘网，两个所述防尘网的内侧均设有散热风扇，所述分割板的底部且靠近中心处设有转接保护测试结构，所述转接保护测试结构的右侧设有缠绕座，所述缠绕座与转接保护测试结构之间设有连接线，所述缠绕座的右侧设有单独供电结构，所述单独供电结构的右侧设有保护壳，所述保护壳内部的两侧均设有限位滑动结构，两个所述限位滑动结构之间设有上磁吸接头结构，所述上磁吸接头结构的下方设有下磁吸接头结构，所述分割板的顶部且位于两个滑轨结构之间设有滑轮组。

5、作为本实用新型优选的方案，所述测试座本体的背侧设有固定块，若干个所述滑块结构的顶部均设有内存条安装件。

6、采用上述进一步方案的技术效果是：内存条安装件提供安装测试位置，方便对其进行安装和测试。

7、作为本实用新型优选的方案，所述测试座本体的正面和背侧上均设有若干个防滑垫，若干个所述防滑垫与测试座本体之间固定连接。

8、采用上述进一步方案的技术效果是：防滑垫可提供较大的摩擦力，进而可保证使用者在拿取时有较好的稳定性。

9、作为本实用新型优选的方案，所述防尘网和散热风扇之间相配合使用，所述内存条安装件通过滑块结构与滑轨结构之间滑动连接。

10、采用上述进一步方案的技术效果是：散热风扇可对内部进行散热，进而保证装置不会因为温度过高而影响使用，内存条安装件可通过滑块结构在滑轨结构进行滑动拉出。

11、作为本实用新型优选的方案，所述转接保护测试结构通过连接线与内存条安装件相连接，所述连接线缠绕在缠绕座处。

12、作为本实用新型优选的方案，所述上磁吸接头结构与限位滑动结构之间相配合使用，所述上磁吸接头结构与下磁吸接头结构之间相连接，所述上磁吸接头结构缠绕在滑轮组处，所述单独供电结构通过导线与下磁吸接头结构相连接。

13、与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

14、本实用新型中，通过滑轨结构、滑块结构、单独供电结构、保护壳、限位滑动结构、上磁吸接头结构、下磁吸接头结构和滑轮组的设计，本装置可通过上述结构组合使用，达到了可单独将一个内存条安装件进行拉出断电处理，使得装置在对剩余处于内存条安装件的内存条上进行测试时，不会因为空出的内存条安装件而造成电流电压和发热不一致，进而导致结果不准确的问题，且无需人工反复插拔内存条的动作，保护了内存条的触角，在进行断电和接电时，速度快，效率高，且安全性强，进而避免了现有的存条转接保护测试座在使用时大都是需要将内存条插满插槽后才可进行测试，以对内存条整体的工作状态进行测试，不具备单个或指定数量的组合测试功能，当剩余插槽未插接时，仍然会有电流电压产生，这会导致测试效果不准确的问题。

技术特征：

1.一种内存条转接保护测试座，包括测试座本体(1)，其特征在于：所述测试座本体(1)的顶部开设有若干个安装间(3)，若干个所述安装间(3)内部的中心处均设有分割板(4)，若干个所述分割板(4)的顶部均设有滑轨结构(5)，若干个所述滑轨结构(5)的顶部均设有滑块结构(6)；

2.根据权利要求1所述的一种内存条转接保护测试座，其特征在于：所述测试座本体(1)的背侧设有固定块(2)，若干个所述滑块结构(6)的顶部均设有内存条安装件(7)。

3.根据权利要求1所述的一种内存条转接保护测试座，其特征在于：所述测试座本体(1)的正面和背侧上均设有若干个防滑垫(8)，若干个所述防滑垫(8)与测试座本体(1)之间固定连接。

4.根据权利要求2所述的一种内存条转接保护测试座，其特征在于：所述防尘网(9)和散热风扇(10)之间相配合使用，所述内存条安装件(7)通过滑块结构(6)与滑轨结构(5)之间滑动连接。

5.根据权利要求1所述的一种内存条转接保护测试座，其特征在于：所述转接保护测试结构(11)通过连接线(13)与内存条安装件(7)相连接，所述连接线(13)缠绕在缠绕座(12)处。

6.根据权利要求1所述的一种内存条转接保护测试座，其特征在于：所述上磁吸接头结构(17)与限位滑动结构(16)之间相配合使用，所述上磁吸接头结构(17)与下磁吸接头结构(18)之间相连接，所述上磁吸接头结构(17)缠绕在滑轮组(19)处，所述单独供电结构(14)通过导线与下磁吸接头结构(18)相连接。

技术总结本技术提供一种内存条转接保护测试座，涉及内存条测试技术领域，包括测试座本体，所述测试座本体的顶部开设有若干个安装间，若干个所述安装间内部的中心处均设有分割板，若干个所述分割板的顶部均设有滑轨结构，若干个所述滑轨结构的顶部均设有滑块结构，通过滑轨结构、滑块结构、单独供电结构、保护壳、限位滑动结构、上磁吸接头结构、下磁吸接头结构和滑轮组的设计，本装置可通过上述结构组合使用，达到了可单独将一个内存条安装件进行拉出断电处理，使得装置在对剩余处于内存条安装件的内存条上进行测试时，不会因为空出的内存条安装件而造成电流电压和发热不一致，进而导致结果不准确的问题。技术研发人员：吴伟波,王择珑受保护的技术使用者：深圳玖合精工科技有限公司技术研发日：20231121技术公布日：2024/6/20