一种BIT测试台的制作方法

本技术属于硬盘测试，具体涉及一种bit测试台。

背景技术：

1、电子产品也需要进行bit测试。bit测试是一种用于检测、隔离和修复设备故障的自检测和自隔离技术，它广泛应用于各种电子设备。通过进行bit测试，可以检测电子产品是否正常工作，确保数据传输的稳定性和可靠性。如果发现电子产品存在问题，可以及时进行修复或更换，从而避免因接口故障而引起的数据传输中断或数据丢失等问题。

2、这种测试台将测试电路划分为多个模块，每个模块都设置有若干的测试接口用于测试，使得各个模块可以独立进行测试，但是这样的结构设置会使得导致电子产品通过检测导线与检测设备电连接时，多个模块模块之间的检测的电子产品会出现堆叠的情况，有可能造成电子产品的接触短路，造成产品的损坏，且在检测过程中容易发生触电等安全事故。

3、为了解决产品堆叠的情况，通常会采用在放置架设置多个悬挂条的解决方式，但是由于测试机需要经常性的进行维护检查以及测试机经常性需要连接产品进行测试，测试后需要将产品从测试机上拿下，针对以上的情况，可想而知，结构过与复杂以及成本过高的悬挂条不适和用于对在测试机的各个检测模块检测的电子产品进行分隔。

技术实现思路

1、为解决现有技术中存在的上述问题，本实用新型提供了一种bit测试台。

2、本实用新型的目的可以通过以下技术方案实现：

3、一种bit测试台，包括测试架，所述测试架至少为两层放置结构，每层放置机构上放置有若干测试机；

4、所述测试架安装有若干互相平行的悬挂条，每相邻两悬挂条之间预留有容待检测电子产品通过的间隙，且任一悬挂条用于搭载带测试产品所延伸的测试导线。

5、优选的，所述悬挂条靠近测试模块的一侧设置有若干限位槽，所述限位槽用于放置所述测试导线。

6、优选的，所述限位槽内还设至有若干吸盘件，所述吸盘件用于吸附所述测试导线。

7、优选的，所述悬挂条两端设置有加固件，所述加固件用于防止所述悬挂条中间区域下垂。

8、优选的，所述悬挂条设置有绝缘层。

9、优选的，所述悬挂条设置有耐磨层。

10、本实用新型的有益效果为：

11、将上下的检测模块之间通过悬挂条增加测试导线在水平方向上的悬挂距离，使得测试导线在竖直方向上的距离变短，从而若干的检测模块同时运行对产品进行功能测试时，避免各模块出现测试导线连接的电子产品出现堆叠接触的情况。

技术特征：

1.一种bit测试台，其特征在于，包括测试架(1)，所述测试架(1)至少为两层放置结构，每层放置机构上放置有若干测试机；

2.根据权利要求1所述的一种bit测试台，其特征在于，所述悬挂条(4)靠近测试模块(2)的一侧设置有若干限位槽(41)，所述限位槽(41)用于放置所述测试导线(3)。

3.根据权利要求2所述的一种bit测试台，其特征在于，所述限位槽(41)内还设至有若干吸盘件(42)，所述吸盘件(42)用于吸附所述测试导线(3)。

4.根据权利要求1所述的一种bit测试台，其特征在于，所述悬挂条(4)两端设置有加固件(7)，所述加固件(7)用于防止所述悬挂条(4)中间区域下垂。

5.根据权利要求1所述的一种bit测试台，其特征在于，所述悬挂条(4)设置有绝缘层(5)。

6.根据权利要求1所述的一种bit测试台，其特征在于，所述悬挂条(4)设置有耐磨层(6)。

技术总结本技术涉及一种BIT测试台，属于硬盘测试技术领域，测试架，所述测试架至少为两层放置结构，每层放置机构上放置有若干测试机；所述测试架安装有若干互相平行的悬挂条，每相邻两悬挂条之间预留有容待检测电子产品通过的间隙，且任一悬挂条用于搭载带测试产品所延伸的测试导线，将上下的检测模块之间通过悬挂条增加测试导线在水平方向上的悬挂距离，使得测试导线在竖直方向上的距离变短，从而若干的检测模块同时运行对产品进行功能测试时，避免各模块出现测试导线连接的电子产品出现堆叠接触的情况。技术研发人员：周福池,谢兴,叶元彬,彭伟华,周旺英,张学义受保护的技术使用者：韶关朗科半导体有限公司技术研发日：20231130技术公布日：2024/7/25