一种蓝膜表面缺陷分类方法与流程

本发明涉及视觉检测，尤其是一种蓝膜表面缺陷分类方法。

背景技术：

1、针对蓝膜产品表面缺陷的检测，在现有生产制程中，一般使用3d线激光进行检测，通过蓝膜表面的高度信息将产品表面的凹凸缺陷检测出来。

2、但是，这样的方式存在以下问题：

3、1、3d线激光成本高；

4、2、无法准确对缺陷进行分类：凹坑在3d成像下，呈现凹特征，异物、气泡在3d成像下，虽然都可检出，但都是凸起特征，无法区分改缺陷是异物还是气泡。

技术实现思路

1、本发明要解决的技术问题是：提供一种蓝膜表面缺陷分类方法，可以检测蓝膜表面的凹坑、气泡、异物缺陷，并可对这几种缺陷进行准确区分。

2、本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种蓝膜表面缺陷分类方法，包括以下步骤，

3、s1、搭建成像系统硬件结构；

4、s2、利用分时曝光原理一次拍照同时获取产品的两张图像，即第一光源下获得第一图像，第二光源下获得第二图像；

5、s3、对第一图像上的缺陷进行特征提取，并计算缺陷的上下对比度；

6、s4、对第二图像上的缺陷进行特征提取，并计算缺陷的内外对比度；

7、s5、将上下对比度以及内外对比度分别与设定的阈值比较，从而对缺陷进行分类。

8、进一步的说，本发明所述的步骤s1中，成像系统硬件结构包括第一光源、第二光源以及成像组件；所述第二光源垂直与产品上方，与产品之间的角度为0°；所述的第一光源设置于第二光源的一侧，第一光源与第二光源之间的角度为25°；所述成像组件设置于第二光源的另一侧，成像组件与第二光源之间的角度也为25°；所述的第一光源为白色线光；所述的第二光源为红外线光。

9、进一步的说，本发明步骤s2中，所述的第一图像和第二图像上分别包括的缺陷为气泡、异物和/或凹坑；气泡在第一光源下呈现上亮下暗特征，在第二光源下呈现亮特征；异物在第一光源下呈现上亮下暗特征，在第二光源下呈现外圈亮特征，内部暗特征；凹坑在第一光源呈现上亮下暗的特征，在第二光源下无明显特征。

10、进一步的说，本发明步骤s3中，上下对比度的计算方式为：

11、1)计算缺陷在第一图像的重心行列坐标x和y；以重心的行坐标y为分界，将缺陷分为上下两部分；

12、2)将缺陷上部分区域等面积的分为上中下三个区域，取中间区域，并计算该区域的平均灰度gray1；

13、3)将缺陷下部分区域等面积的分为上中下三个区域，取中间区域，并计算该区域的平均灰度gray2；

14、4)上下对比度contrast1＝gray1-gray2。

15、进一步的说，本发明所述的步骤s4中，内外对比度计算方式为：

16、a、在缺陷区域内，利用阈值分割，分割出缺陷内的暗区域；

17、b、计算暗区域的平均灰度gray3；

18、c、将缺陷区域减去暗区域，获得周边亮区域，计算亮区域的平均灰度gray4；

19、d、计算缺陷的内外对比度contrast2＝gray4-gray3。

20、进一步的说，本发明所述的步骤s5中，如果缺陷区域的上下对比度小于0，则将该缺陷判为凹坑；如果缺陷区域的上下对比度大于0，且内外对比度大于5则将该缺陷判为异物；如果缺陷区域的上下对比度大于0，且内外对比度小于5则将该缺陷判为气泡。

21、本发明的有益效果是，解决了背景技术中存在的缺陷，

22、利用分时曝光，使用两个不同方向的低角度白色光源和高角度红外光源一次拍照获取产品的两张图像，其中一张图像用于表现产品表面的凹凸感，一张图像用于表现产品包膜颜色信息，综合利用两张图像进行缺陷检测；不仅提升了检测精度，而且可准确对缺陷进行检测和分类。

技术特征：

1.一种蓝膜表面缺陷分类方法，其特征在于：包括以下步骤，

2.如权利要求1所述的一种蓝膜表面缺陷分类方法，其特征在于：所述的步骤s1中，成像系统硬件结构包括第一光源、第二光源以及成像组件；所述第二光源垂直与产品上方，与产品之间的角度为0°；所述的第一光源设置于第二光源的一侧，第一光源与第二光源之间的角度为25°；所述成像组件设置于第二光源的另一侧，成像组件与第二光源之间的角度也为25°；所述的第一光源为白色线光；所述的第二光源为红外线光。

3.如权利要求1所述的一种蓝膜表面缺陷分类方法，其特征在于：所述的步骤s2中，所述的第一图像和第二图像上分别包括的缺陷为气泡、异物和/或凹坑；气泡在第一光源下呈现上亮下暗特征，在第二光源下呈现亮特征；异物在第一光源下呈现上亮下暗特征，在第二光源下呈现外圈亮特征，内部暗特征；凹坑在第一光源呈现上亮下暗的特征，在第二光源下无明显特征。

4.如权利要求1所述的一种蓝膜表面缺陷分类方法，其特征在于：所述的步骤s3中，上下对比度的计算方式为：

5.如权利要求1所述的一种蓝膜表面缺陷分类方法，其特征在于：所述的步骤s4中，内外对比度计算方式为：

6.如权利要求1所述的一种蓝膜表面缺陷分类方法，其特征在于：所述的步骤s5中，如果缺陷区域的上下对比度小于0，则将该缺陷判为凹坑；如果缺陷区域的上下对比度大于0，且内外对比度大于5则将该缺陷判为异物；如果缺陷区域的上下对比度大于0，且内外对比度小于5则将该缺陷判为气泡。

技术总结本发明涉及一种蓝膜表面缺陷分类方法，包括搭建成像系统硬件结构；利用分时曝光原理一次拍照同时获取产品的两张图像，即第一光源下获得第一图像，第二光源下获得第二图像；对第一图像上的缺陷进行特征提取，并计算缺陷的上下对比度；对第二图像上的缺陷进行特征提取，并计算缺陷的内外对比度；将上下对比度以及内外对比度分别与设定的阈值比较，从而对缺陷进行分类。本发明利用分时曝光，使用两个不同方向的低角度白色光源和高角度红外光源一次拍照获取产品的两张图像，其中一张图像用于表现产品表面的凹凸感，一张图像用于表现产品包膜颜色信息，综合利用两张图像进行缺陷检测；不仅提升了检测精度，而且可准确对缺陷进行检测和分类。技术研发人员：王郑,和江镇,方志斌,张佳俊,梁俊龙受保护的技术使用者：征图新视（江苏）科技股份有限公司技术研发日：技术公布日：2024/11/18