用于电路板缺陷检测的打光装置及缺陷检测装置的制作方法

技术特征：
1.一种用于电路板缺陷检测的打光装置，其特征在于，所述打光装置与外部缺陷检测装置配合设置，所述缺陷检测装置包括物镜，所述打光装置包括安装基座(1)、多个uv光源(2)以及第一滤波片(3)，其中，所述uv光源(2)用于提供uv光，所述uv光源(2)设置在所述安装基座(1)上；所述第一滤波片(3)为透明镀膜滤片，且所述第一滤波片(3)与所述物镜配合设置，使得uv光通过所述第一滤波片(3)被过滤；所述安装基座(1)还与所述物镜配合设置，使得所述uv光源(2)发出的uv光能够照射在待检测电路板上，进而令所述缺陷检测设备能够在uv光下进行缺陷检测。2.根据权利要求1所述的打光装置，其特征在于，所述第一滤波片(3)为lp430滤波片，在所述第一滤波片(3)的作用下，430nm以下的uv光被过滤。3.根据权利要求1所述的打光装置，其特征在于，所述uv光源(2)包括灯珠，所述uv光源(2)上设有透镜(21)，所述透镜(21)与所述灯珠配合设置，且所述透镜(21)的焦距范围满足预设条件，使得所述uv光源(2)发出的uv光能够照射在待检测电路板上。4.根据权利要求3所述的打光装置，其特征在于，所述uv光源(2)上还设有第二滤波片(22)，所述第二滤波片(22)与所述透镜(21)和所述灯珠分别配合设置。5.根据权利要求4所述的打光装置，其特征在于，所述第二滤波片(22)为bp390滤波片，所述第二滤波片(22)被配置为过滤390nm以上的光。6.根据权利要求3所述的打光装置，其特征在于，所述灯珠为405nmled。7.根据权利要求3所述的打光装置，其特征在于，所述打光装置还包括散热模组，所述散热模组与所述灯珠配合设置。8.根据权利要求1所述的打光装置，其特征在于，所述安装基座(1)上设有多个通孔，且所述uv光源(2)通过所述通孔与所述安装基座(1)配合设置，通过调整所述通孔的倾斜角改变所述uv光源(2)的位置。9.根据权利要求1所述的打光装置，其特征在于，所述uv光源(2)的数量为三个。10.一种缺陷检测装置，其特征在于，所述缺陷检测装置用于电路板的缺陷检测，所述缺陷检测装置包括权利要求1至9中任意一项所述的打光装置。

技术总结
本实用新型公开了一种用于电路板缺陷检测的打光装置及缺陷检测装置，打光装置包括安装基座、多个UV光源以及第一滤波片，其中，所述UV光源用于提供UV光，所述UV光源设置在所述安装基座上；所述第一滤波片为透明镀膜滤片，且所述第一滤波片与所述物镜配合设置，使得UV光通过所述第一滤波片被过滤；所述安装基座还与所述物镜配合设置，使得所述UV光源发出的UV光能够照射在待检测电路板上，进而令所述缺陷检测设备能够在UV光下进行缺陷检测。本实用新型提供的技术方案利用多个UV光源对电路板进行打光，打光充足，并通过滤光片的过滤作用，使检测系统能够在UV光的照射下进行电路板缺陷检测工作，安全可靠。安全可靠。安全可靠。


技术研发人员：顾德胜
受保护的技术使用者：苏州康代智能科技股份有限公司
技术研发日：2021.12.02
技术公布日：2022/6/14