用于电路板缺陷检测的打光装置及缺陷检测装置的制作方法

1.本实用新型涉及电路板缺陷检测领域，特别涉及一种用于电路板缺陷检测的打光装置及缺陷检测装置。


背景技术：

2.目前，用于电路板缺陷检测的检修设备在检测扫面pcb板复查时，由于正常普通光的色彩问题会导致长时间工作后产生视觉疲劳的op人员忽略一些缺陷，造成不必要的误判，并且正常光照下基材的荧光色在有的特殊需求下是无法满足观察基材的标准，即不清楚甚至模糊。
3.随着pcb板的制作越来越精密，原先有关于uv光源的方案已经不能满足需求，故现在需要重新设计并改良uv光源方案以应对现在以及未来的光源需求。


技术实现要素：

4.本实用新型的目的是提供一种高聚焦且安全可靠的用于电路板缺陷检测的打光装置及缺陷检测装置。
5.为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案如下：
6.一种用于电路板缺陷检测的打光装置，所述打光装置与外部缺陷检测装置配合设置，所述缺陷检测装置包括物镜，所述打光装置包括安装基座、多个uv光源以及第一滤波片，其中，所述uv光源用于提供uv光，所述uv光源设置在所述安装基座上；所述第一滤波片为透明镀膜滤片，且所述第一滤波片与所述物镜配合设置，使得uv光通过所述第一滤波片被过滤；所述安装基座还与所述物镜配合设置，使得所述uv光源发出的uv光能够照射在待检测电路板上，进而令所述缺陷检测设备能够在uv光下进行缺陷检测。
7.优选地，所述第一滤波片为lp430滤波片，在所述第一滤波片的作用下，430nm以下的uv 光被过滤。
8.进一步地，所述uv光源包括灯珠，所述uv光源上设有透镜，所述透镜与所述灯珠配合设置，且所述透镜的焦距范围满足预设条件，使得所述uv光源发出的uv光能够照射在待检测电路板上。
9.进一步地，所述uv光源上还设有第二滤波片，所述第二滤波片与所述透镜和所述灯珠分别配合设置。
10.优选地，所述第二滤波片为bp390滤波片，所述第二滤波片为bp390滤波片，所述第二滤波片被配置为过滤390nm以上的光。
11.优选地，所述灯珠为405nmled。
12.进一步地，所述打光装置还包括散热模组，所述散热模组与所述灯珠配合设置。
13.进一步地，所述安装基座上设有多个通孔，且所述uv光源通过所述通孔与所述安装基座配合设置，通过调整所述通孔的倾斜角改变所述uv光源的位置。
14.优选地，所述uv光源的数量为三个。
15.一种缺陷检测装置，所述缺陷检测装置用于电路板的缺陷检测，所述缺陷检测装置包括显示屏和上文所述的打光装置。
16.本实用新型具有的优点：利用多个uv光源对电路板进行打光，打光充足，并通过滤光片的过滤作用，使检测系统能够在uv光的照射下进行电路板缺陷检测工作，以获取区分度更加明显的图；并且，滤波片采用透明镀膜工艺，不妨碍在正常光照下的检测工作。
附图说明
17.为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
18.图1是本实用新型实施例提供的缺陷检测装置的第一局部结构示意图；
19.图2是本实用新型实施例提供的缺陷检测装置的第二局部结构示意图。
20.其中，附图标记包括：1-安装基座，2-uv光源，21-透镜，22-第二滤波片，3-第一滤波片，4-普通光源，5-装配底板。
具体实施方式
21.为了使本技术领域的人员更好地理解本实用新型方案，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本实用新型保护的范围。
22.需要说明的是，本实用新型的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本实用新型的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、装置、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其他步骤或单元。
23.在本实用新型的一个实施例中，为了克服现有uv光源在现有高精密pcb板上打光不足的问题，提供了一种以直射聚焦型的uv光源为主的用于电路板缺陷检测的打光装置，打光装置与外部缺陷检测装置配合设置，缺陷检测装置包括物镜、显示屏。
24.如图1、2所示，打光装置包括安装基座1、多个uv光源2、第一滤波片3及散热模组，其中，uv光源2用于提供uv光，uv光源2设置在安装基座1上；第一滤波片3为透明镀膜滤片，且第一滤波片3与物镜配合设置，使得uv光通过第一滤波片3被过滤；安装基座1还与物镜配合设置，使得uv光源2发出的uv光能够照射在待检测电路板上，进而令缺陷检测设备能够在uv光下进行缺陷检测。在本实施例中，uv光源2的数量为三个；第一滤波片3为lp430 滤波片，在第一滤波片3的作用下，430nm以下的uv光被过滤，从而只通过荧光而过滤掉反射光。
25.uv光源2包括405nmled的灯珠、供电模块，uv光源2上设有透镜21，透镜21与灯珠配
合设置，且透镜21的焦距范围满足预设条件，使得uv光源2发出的uv光能够照射在待检测电路板上；灯珠与散热模组配合设置，通过散热模组对灯珠散热，可以延长灯珠使用寿命；uv 光源2上还设有第二滤波片22，第二滤波片22与透镜21和灯珠分别配合设置，以减少405nmled 的灯珠散射出来的杂光，从而减少图像中的噪点。在本实施例中，第二滤波片22为bp390滤波片，在第二滤波片22的作用下，灯珠散射出的390nm以上的光被过滤。
26.在本实施例中，安装基座1上设有多个通孔，且uv光源2通过通孔与安装基座1配合设置，通过调整通孔的倾斜角改变uv光源2的位置，从而使uv光源2朝向不同的位置发射uv 光，进而满足不同位置的检测需求。
27.另外，如图1、2所示，打光装置还包括多个普通光源4，普通光源4通过装配底板5设置在安装基座1上，以起到补光作用，或者在正常光下进行检测。
28.在本实用新型的一个实施例中，uv光源2中内置405nm led灯珠及供电部分，灯珠后端连接散热模组，因灯珠功耗比较大，产生的热量较多，需要散热模组进行散热以保证led使用寿命。第一滤波片3是滤波片组件lp430,功能是阻碍430nm以下灯光进入镜头。滤除uv光使得荧光进入镜头，从而实现基材莹白，铜材偏黑得反转效果。第一滤波片3使用透明玻璃镀膜工艺，优点是在不使用uv灯光模式下，不影响正常光模式扫板图像。uv灯珠的光路是散射的，需要在灯珠前面增加光路耦合部分，使得光线能以最小损耗往前方照射，在照射出口部分增加聚焦透镜，透镜21即聚焦透镜得焦距要符合灯源的工作距离，那样uv光聚焦处即pcb电路板所在处，使得在看高精密pcb板线路时，光线也能穿透进去，从而使得到的图像效果更好。镜头组件即透镜21与led灯珠之间还存在一个第二滤波片22(bp390),其功能是尽量减少uv 灯珠散射出来大于390nm的杂光，以减少图像中的噪点。这些噪点是去除不掉的，只能通过使光源更纯的方法去除。
29.在uv光模式下，当光路照射pcb电路板并打亮线路及基板并反射后，会再次通过加装在物镜上的透明镀膜滤片(lp430)，这样只通过基板的荧光色而滤掉线路的反射光，最后再通过光学视觉系统显示在屏幕中，此刻图像会产生颜色反转状态，原本呈亮场状态的铜箔会呈现暗黑色，呈稍暗状态的基材会成为亮白色，这样情况下，在黑白的对比度下，op视觉中不易产生疲劳，而且缺陷一目了然，不会产生误判漏判的情况。
30.在本实用新型的一个实施例中，提供了一种缺陷检测装置，缺陷检测装置用于电路板的缺陷检测，缺陷检测装置包括上文所述的打光装置、物镜、显示屏以及其他协助缺陷检测的模块。
31.本缺陷检测装置实施例的思想与上述实施例中打光装置的工作过程属于同一思想，通过全文引用的方式将上述打光装置实施例的全部内容并入本缺陷检测装置实施例，不再赘述。
32.上述本实用新型实施例的先后顺序仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
33.以上所述仅为本实用新型的较佳实施例，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。