一种简易插入回波损耗测试装置的制作方法

1.本实用新型涉及光通信及系统领域，特别涉及光通信无源器件插入回波损耗的测试装置，具体是指一种简易插入回波损耗测试装置。


背景技术：

2.插入损耗（il）和回波损耗(rl)是光无源器件的关键指标，对于产品的测试设备要求较高。传统的测试方法包括插入损耗使用光功率计进行测试，回波损耗使用专用的回损仪进行测试，两个指标需要测试两次，效率低、人工成本高。同时由于为常规指标，因此需要设备数量多，设备投入量大。


技术实现要素：

3.本实用的目的是克服了上述现有技术中的缺点，提供一种能够同时测试插入损耗和回波损耗的简易测试装置。本实用新型在原有产品设备上进行改造，可以同时测试插入损耗和回波损耗，提高生产效率，降低设备投入和生产成本，提高产品价格竞争力。
4.为了实现上述发明目的，本实用新型采用如下技术方案：
5.一种简易插入回波损耗测试装置，包括光源、双通道光功率计、2*2光分路器；光源的输出端与2*2光分路器输入端的一路进行连接，2*2光分路器输入端的另外一路与双通道光功率计2的第二通道连接；2*2光分路器3输出端的一路绕模固定，2*2光分路器3输出端的另外一路接入到双通道光功率2的第一通道。
6.作为优选方案，所述光源上采用单模光膜。
7.作为优选方案，所述双通道光功率计采用全波段1260~1650nm探测范围的探测器。
8.作为优选方案，所述2*2光分路器为正反向插入损耗3.5db以下的熔融拉锥型光分路器。
9.作为优选方案，所述第一通道2-1显示值为插入损耗光功率值，第二通道2-2显示值为回波损耗光功率值。
10.作为优选方案，所述光源为单模光源、中心波长为1310nm或者1550nm。
11.本实用新型的有益效果在于，提高了插入损耗和回波损耗的测试效率，减少了设备投入，降低了生产成本。
附图说明
12.图1为本实用新型的测试示意图；
13.图2为本实用新型的插入损耗归零示意图。
14.图3为本实用新型的回波损耗归零示意图。
具体实施方式
15.以下结合附图对本实用新型作进一步详细的说明。
16.一种简易插入回波损耗测试装置，包括光源1、双通道光功率计2、2*2光分路器3；光源1上采用单模光膜，双通道光功率计2采用全波段1260~1650nm探测范围的探测器，2*2光分路器3，选用性能优异的正反向插入损耗3.5db以下的熔融拉锥型光分路器。
17.本实施例默认双通道光功率计2上第一通道2-1（ch1）用于测试插入损耗，第二通道2-2（ch2）用于测试回波损耗。
18.光源1的输出端与2*2光分路器3输入端的一路进行连接，2*2光分路器3输入端的另外一路与双通道光功率计2的第二通道2-2（ch2）连接；2*2光分路器3输出端的一路进行绕模固定，2*2光分路器3输出端的另外一路接入到双通道光功率2的第一通道2-1（ch1）。分别记录光功率值，第一通道2-1（ch1）显示值为插入损耗光功率值，第二通道2-2（ch2）显示值为回波损耗光功率值。
19.以1分4光分路器的插入损耗和回波损耗测试为例，说明如下：
20.光源1与2*2光分路器3的输入端的一路进行连接，然后将2*2光分路器输出端的一路进行绕模固定，2*2光分路器输出端的一路接入双通道光功率计2的第一通道2-1（ch1），记下光功率值p
in1
；2*2光分路器3输入端一路接入到双通道光功率计2的第二通道2-2（ch2），记下光功率值p
in2
；
21.然后将2*2的光分路器3的未接光源的输入端接入双通道光功率计的ch2 2-2中然后将待测1分4光分分路器的输入端与2*2光分路器3输出端未绕模的一路进行连接；将1分4光分路器中的某一输出端，接入到双通道光功率2的第一通道2-1（ch1）中；
22.此时观察第一通道2-1（ch1）和第二通道2-2（ch2）的光功率值p
il
和p
rl
；
23.根据il=-10log( )
24.rl=-10log(
)-il
反向
25.计算此路的插入和回波损耗。
26.其中il
反向
为2*2光分路器反向测试插入损耗时，接入双通道光功率2 ch2 2-2中的一路输入端的插入损耗。
27.通过实施方案可以看出，对于一种简易的插入回波损耗测试装置，可以根据产品设计需求进行更改，例如光源可以更改为其他波长，双通道光功率计更改为两个单通道光功率计，2*2fbt可以更改为单窗口或者三窗口。因此本实用新型的可拓展性更加有利于产品的推广及应用。同时说明书和附图应被认为是说明性的而非限制性的。


技术特征：
1.一种简易插入回波损耗测试装置，其特征在于，包括光源、双通道光功率计、2*2光分路器；光源的输出端与2*2光分路器输入端的一路进行连接，2*2光分路器输入端的另外一路与双通道光功率计2的第二通道连接；2*2光分路器3输出端的一路绕模固定，2*2光分路器3输出端的另外一路接入到双通道光功率2的第一通道。2.根据权利要求1所述的一种简易插入回波损耗测试装置，其特征在于，所述光源上采用单模光膜。3.根据权利要求1所述的一种简易插入回波损耗测试装置，其特征在于，所述双通道光功率计采用全波段1260~1650nm探测范围的探测器。4.根据权利要求1所述的一种简易插入回波损耗测试装置，其特征在于，所述2*2光分路器为正反向插入损耗3.5db以下的熔融拉锥型光分路器。5.根据权利要求1所述的一种简易插入回波损耗测试装置，其特征在于，所述第一通道2-1显示值为插入损耗光功率值，第二通道2-2显示值为回波损耗光功率值。6.根据权利要求1所述的一种简易插入回波损耗测试装置，其特征在于，所述光源为单模光源、中心波长为1310nm或者1550nm。

技术总结
本实用新型公开了一种简易插入回波损耗测试装置，包括光源、双通道光功率计、2*2光分路器；光源的输出端与2*2光分路器输入端的一路进行连接，2*2光分路器输入端的另外一路与双通道光功率计2的第二通道连接；2*2光分路器3输出端的一路绕模固定，2*2光分路器3输出端的另外一路接入到双通道光功率2的第一通道。本实用新型的有益效果在于，提高了插入损耗和回波损耗的测试效率，减少了设备投入，降低了生产成本。生产成本。生产成本。


技术研发人员：刘光清 刘德 王宇 王雨祥
受保护的技术使用者：南京华脉科技股份有限公司
技术研发日：2022.03.09
技术公布日：2022/6/28