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太阳成像光谱仪用校正镜组全局光路装调装置及装调方法

2022-11-23 16:22:44 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.太阳成像光谱仪用校正镜组全局光路装调装置,其特征在于,该装调装置包括:校正镜组(1),所述校正镜组(1)的前端形成为第一基准面(101),所述校正镜组(1)的后端形成为第二基准面(102);所述校正镜组(1)的第一基准面(101)作为太阳成像光谱仪的全局光路系统的离轴三反光学系统的基准;所述校正镜组(1)的第二基准面(102)作为太阳成像光谱仪的全局光路系统的光谱扫描成像系统的基准;该装调装置还包括:安装于所述校正镜组(1)底部的修调垫片(2)。2.根据权利要求1所述的太阳成像光谱仪用校正镜组全局光路装调装置,其特征在于,所述第一基准面(101)的平面度加工至0.003mm;所述第二基准面(102)的平面度加工至0.003mm;所述校正镜组(1)的镜筒内腔(104)的圆柱轴心线(103)垂直于所述第一基准面(101),且所述圆柱轴心线(103)与所述第一基准面(101)的垂直度精度为0.005mm;所述校正镜组(1)的镜筒内腔(104)的圆柱轴心线(103)垂直于所述第二基准面(102),且所述圆柱轴心线(103)与所述第二基准面(102)的垂直度精度为0.005mm。3.根据权利要求1所述的太阳成像光谱仪用校正镜组全局光路状态装调装置,其特征在于,所述校正镜组(1)的上端具有基准镜接口(3);外部基准镜通过所述基准镜接口(3)安装于所述校正镜组(1)的上端。4.根据权利要求1所述的太阳成像光谱仪用校正镜组全局光路状态装调装置,其特征在于,所述校正镜组(1)的镜筒与所述修调垫片(2)配合的位置形成有镜筒安装部(105);所述镜筒安装部(105)朝向所述镜筒的外部延伸,且所述镜筒的底部的两侧对称形成有所述镜筒安装部(105);所述修调垫片(2)与所述镜筒安装部(105)装配固定。5.根据权利要求4所述的太阳成像光谱仪用校正镜组全局光路状态装调装置,其特征在于,所述修调垫片(2)为一体式结构,且所述修调垫片(2)包括:垫片底座(201)、以及形成于所述垫片底座(201)上部的垫片安装部(202);所述垫片安装部(202)与所述镜筒安装部(105)装配固定以通过所述修调垫片(2)修整所述离轴三反光学系统与校正镜组(1)的第一基准面(101)两个光轴的不共线误差。6.太阳成像光谱仪用校正镜组全局光路状态装调方法,其特征在于,该装调方法基于如权利要求1至5中任一项所述的太阳成像光谱仪用高精度校正镜组全局光路状态装调装置,该装调方法包括以下步骤:s101、校正镜组(1)的光轴基准的建立,校正镜组(1)的三片光学镜片装调时保证镜片的光轴与镜筒内腔(104)的轴线重合共线,且垂直度精度为0.005mm;s102、校正镜组(1)与前端的离轴三反光学系统的光轴对准,前端的离轴三反光学系统装调后,建立自身的光轴基准,通过前端的离轴三反光学系统的基准镜的引出,将离轴三反光学系统的光轴与校正镜组(1)的第一基准面(101)修同轴;s103、校正镜组(1)将光轴基准传递至后端的光谱扫描成像系统,第二基准面(102)作为全局光学系统后端的光谱扫描成像系统的输入基准,调整光谱扫描成像系统的光轴指向
与校正镜组(1)的光轴共线。7.根据权利要求6所述的太阳成像光谱仪用校正镜组全局光路状态装调方法,其特征在于,所述步骤s101中,通过高精度经纬仪测量出前端的离轴三反光学系统的光轴方位,与校正镜组(1)的光轴互相瞄准测量,测量出两个光轴的不共线误差,并通过修调垫片(2)修整不共线误差。8.根据权利要求6所述的太阳成像光谱仪用校正镜组全局光路状态状态方法,其特征在于,该装调方法还包括以下步骤:s104、将基准镜通过基准镜接口(3)安装在校正镜组(1)上,利用基准镜复核校正镜组(1)光轴指向。

技术总结
本发明公开了一种太阳成像光谱仪用校正镜组全局光路装调装置及装调方法,包括校正镜组和修调垫片,校正镜组的前端形成为第一基准面,校正镜组的后端形成为第二基准面;校正镜组的第一基准面作为太阳成像光谱仪的全局光路系统的离轴三反光学系统的基准;校正镜组的第二基准面作为太阳成像光谱仪的全局光路系统的光谱扫描成像系统的基准。本发明的装调装置及方法利用自身连接接口的形式的设计和装调基准的引入,降低了现有技术中借助外装基准镜对镜组角度装调的难度,可以快速、准确地连接前端和后端的光学系统,保证成像光谱仪光学系统成像像质最优。系统成像像质最优。系统成像像质最优。


技术研发人员:刘强 韩诚山 杨亮 梅贵 胡庆龙
受保护的技术使用者:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
技术研发日:2022.09.26
技术公布日:2022/11/22
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