一种光刻胶匀化及去除装置的制作方法
- 国知局
- 2024-06-21 12:10:29
本技术涉及电气元件生产,特别涉及一种光刻胶匀化及去除装置。
背景技术:
1、光刻胶,是在光刻工艺中使用的一种特殊化学物质,也称为光刻抗蚀剂。光刻胶是一种光敏聚合物溶液,可以覆盖在硅片或其他半导体芯片的基板表面。光刻胶对紫外光具有响应性,当受到紫外光照射时,会发生化学或物理变化,形成所需的图案。
2、在光刻过程中,光刻胶必须被均匀的覆盖在芯片上,然后通过光刻机器上的掩模板投射紫外光。光照后,未经光照的部分光刻胶会发生化学变化,使其容易被化学腐蚀或腐蚀;而经过光照的部分则保持不变,从而在硅片上形成所需的图案结构。光刻胶的特性包括:分辨率、灵敏度和对化学腐蚀的抵抗力等,这些特性对于最终图形的精确复制至关重要。
3、然而,常规进行光刻胶涂敷的生产工艺中,依然存在以下不足:
4、1、通过夹具进行芯片的固定,导致边缘处光刻胶无法覆盖;
5、2、仅通过芯片的高速旋转,使光刻胶均匀的覆盖于芯片上,会使光刻胶被甩出,必须进行二次增加光刻胶,造成光刻胶用量的增加;
6、3、人工认定芯片的圆心,偏心旋转导致并且光刻胶厚度不均匀。
技术实现思路
1、为了解决背景技术中存在的技术问题,本实用新型提供一种光刻胶匀化及去除装置,真空吸附固定,具有光刻胶回收的作用,并且芯片上覆盖的光刻胶更为均匀。
2、本实用新型解决所采用的技术方案是:
3、一种光刻胶匀化及去除装置,包括:两层平行的下平台、上平台,以及控制机构。
4、所述下平台上、下两端面的中央分别固定设置有旋转接头、驱动电机,所述驱动电机与控制机构电气连接,驱动电机的旋轴穿过下平台并与旋转接头的旋转部传动连接,所述旋转接头上同轴设置有用于放置芯片的放置台,所述放置台上设置有真空孔组,所述真空孔组经旋转接头与真空机组相连通。
5、所述上平台上固定设置有分别与控制机构电气连接的定位机构、除胶机构、匀化机构。
6、进一步地,所述下平台的下段设置有支撑基座,所述支撑基座内容设驱动电机,并放置于操作台面上。
7、进一步地,所述下平台、上平台之间连接设置有支撑腿,所述支撑腿以驱动电机的旋转轴为中心圆形阵列分布设置有多根。
8、进一步地,所述上平台设置为圆环状。
9、进一步地,所述定位机构对称设置有两组,包括:
10、行程端相内设置并与控制机构电气连接的横移缸,所述横移缸的行程端上固定设置有曲面推板。
11、进一步地,所述除胶机构,包括:
12、行程端相内设置并与控制机构电气连接的第一纵移缸,所述第一纵移缸的行程端上固定设置有直角弯头,所述直角弯头水平段的末端设置有进胶口,所述进胶口套于放置台上的芯片边缘处,直角弯头竖直段的末端连通设置有除胶管,所述除胶管经储胶罐与真空机组相连通。
13、进一步地,所述匀化机构,包括:
14、行程端相内设置并与控制机构电气连接的第二纵移缸,所述第二纵移缸的行程端上固定设置有纵移块,所述纵移块上固定设置有并列的压风吹头、供胶头。
15、进一步地,所述除胶机构、匀化机构相对设置,两组定位机构、相对的除胶机构、匀化机构设置于放置台上芯片的四周。
16、进一步地,所述纵移块设置为对夹式,用于加紧风吹头、供胶头。
17、进一步地,所述供胶头设置于靠近进胶口的一侧;
18、所述风吹头设置于原理进胶口的一侧。
19、本实用新型一种光刻胶匀化及去除装置的优点在于:
20、1、通过真空孔组,使芯片吸附被在放置台上;
21、2、通过旋转和压风的共同作用,匀化芯片上的光刻胶;
22、2、通过除胶机构回收并去除芯片边缘处多余的光刻胶。
技术特征:1.一种光刻胶匀化及去除装置,其特征在于:
2.根据权利要求1所述的一种光刻胶匀化及去除装置,其特征在于:
3.根据权利要求2所述的一种光刻胶匀化及去除装置,其特征在于:
4.根据权利要求3所述的一种光刻胶匀化及去除装置,其特征在于:
5.根据权利要求1所述的一种光刻胶匀化及去除装置,其特征在于:
6.根据权利要求5所述的一种光刻胶匀化及去除装置,其特征在于:
7.根据权利要求6所述的一种光刻胶匀化及去除装置,其特征在于:
8.根据权利要求7所述的一种光刻胶匀化及去除装置,其特征在于:
9.根据权利要求7所述的一种光刻胶匀化及去除装置,其特征在于:
10.根据权利要求9所述的一种光刻胶匀化及去除装置,其特征在于:
技术总结本技术涉及一种光刻胶匀化及去除装置,包括:两层平行的下平台、上平台,以及控制机构;下平台上、下两端的中央分别设有旋转接头、驱动电机,驱动电机与控制机构电气连接,驱动电机的旋轴穿过下平台并与旋转接头的旋转部传动连接,旋转接头上同轴设有用于放置芯片的放置台,放置台上设有真空孔组,真空孔组经旋转接头与真空机组相连通;上平台上设有分别与控制机构电气连接的定位机构、除胶机构、匀化机构。本技术的一种光刻胶匀化及去除装置,真空吸附固定,具有光刻胶回收的作用,并且芯片上覆盖的光刻胶更为均匀。技术研发人员:于越洋,李昊阳,李广德,于如远受保护的技术使用者:山东民峰智能科技有限公司技术研发日:20231123技术公布日:2024/5/19本文地址:https://www.jishuxx.com/zhuanli/20240618/25881.html
版权声明:本文内容由互联网用户自发贡献,该文观点仅代表作者本人。本站仅提供信息存储空间服务,不拥有所有权,不承担相关法律责任。如发现本站有涉嫌抄袭侵权/违法违规的内容, 请发送邮件至 YYfuon@163.com 举报,一经查实,本站将立刻删除。
下一篇
返回列表