一种显示屏测试装置的制作方法

本技术涉及显示屏测试设备，特别涉及一种显示屏测试装置。

背景技术：

1、很多应用领域要求显示屏图像刷新帧率高(高帧率从60hz到240hz不等)且不能产生拖影现象。这种要求与液晶显示屏的液晶响应时间快慢有直接关系。这就要求液晶模组的制造商要对液晶响应时间做验证测试，评估是否可以满足规格需求。

2、当前液晶显示模组的制造商大多不具备测试液晶响应时间的能力，评估项目时都是请液晶玻璃面板的原材料厂商提供测试数据参考评估。这就导致液晶显示模组的制造商不能实际抽测监控液晶玻璃面板原材料的液晶响应时间是否达标。

技术实现思路

1、基于此，本实用新型的目的是提供一种显示屏测试装置，以解决现有技术中的不足。

2、为实现上述目的，本实用新型提供了一种显示屏测试装置，包括显示屏测试设备和转换电路，所述显示屏测试设备与所述转换电路连接，且所述显示屏测试设备与待测显示屏连接，所述转换电路用于将所述待测显示屏处于不同灰阶画面转换的光强转化为电压，所述显示屏测试设备用于采集并计算来自所述转换电路的电压以获得测试数据；

3、其中，所述转换电路包括相连接的光电二极管和运算放大器，所述待测显示屏位于所述光电二极管的识别范围内，所述光电二极管用于采集所述待测显示屏的光强，所述运算放大器通过ad模数转换器与所述显示屏测试设备连接。

4、本实用新型的有益效果是：通过将光电二极管与运算放大器连接，并通过ad模数转换器将运算放大器与显示屏测试设备连接，当需要对待测显示屏测试时，将待测显示屏与显示屏测试设备连接，并将待测显示屏置于光电二极管的识别范围内，以使光电二极管采集待测显示屏的光强，并将光强转换为电信号，然后利用运算放大器将电信号放大后，通过ad模数转换器对电信号进行量化，得到相应电压值，以便待测显示屏能够基于电压值进行计算，得到测试数据，实现对待测显示屏的液晶响应时间的能力的测试，不仅整个测试操作简单，同时相应的显示屏测试装置结构简单，有利于推广，以便改善制造商提供的测试数据缺显示屏液晶响应时间的问题。

5、优选的，所述光电二极管为硅光电二极管。

6、优选的，所述显示屏测试装置还包括存储器，所述存储器内置于所述显示屏测试设备内，所述存储器用于存储所述测试数据。

7、优选的，所述显示屏测试设备包括控制模块、采集模块、查找模块和计算模块，所述采集模块、所述查找模块和所述计算模块分别与所述控制模块连接，所述采集模块与所述ad模数转换器连接，所述查找模块与所述存储器连接，且所述控制模块与所述存储器连接。

8、优选的，所述显示屏测试装置还包括外接电源，所述外接电源通过数据线与所述显示屏测试设备连接。

9、优选的，所述显示屏测试设备通过点屏接口与所述待测显示屏连接。

10、优选的，所述显示屏测试设备通过串行通讯接口与所述光电二极管连接。

11、优选的，所述显示屏测试设备包括安装盒体，所述点屏接口和所述串行通信接口皆设于所述安装盒体上。

12、本实用新型的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本实用新型的实践了解到。

技术特征：

1.一种显示屏测试装置，其特征在于，包括显示屏测试设备和转换电路，所述显示屏测试设备与所述转换电路连接，且所述显示屏测试设备与待测显示屏连接，所述转换电路用于将所述待测显示屏处于不同灰阶画面转换的光强转化为电压，所述显示屏测试设备用于采集并计算来自所述转换电路的电压以获得测试数据；

2.根据权利要求1所述的显示屏测试装置，其特征在于，所述光电二极管为硅光电二极管。

3.根据权利要求1所述的显示屏测试装置，其特征在于，所述显示屏测试装置还包括存储器，所述存储器内置于所述显示屏测试设备内，所述存储器用于存储所述测试数据。

4.根据权利要求3所述的显示屏测试装置，其特征在于，所述显示屏测试设备包括控制模块、采集模块、查找模块和计算模块，所述采集模块、所述查找模块和所述计算模块分别与所述控制模块连接，所述采集模块与所述ad模数转换器连接，所述查找模块与所述存储器连接，且所述控制模块与所述存储器连接。

5.根据权利要求1所述的显示屏测试装置，其特征在于，所述显示屏测试装置还包括外接电源，所述外接电源通过数据线与所述显示屏测试设备连接。

6.根据权利要求1所述的显示屏测试装置，其特征在于，所述显示屏测试设备通过点屏接口与所述待测显示屏连接。

7.根据权利要求6所述的显示屏测试装置，其特征在于，所述显示屏测试设备通过串行通讯接口与所述光电二极管连接。

8.根据权利要求7所述的显示屏测试装置，其特征在于，所述显示屏测试设备包括安装盒体，所述点屏接口和所述串行通信接口皆设于所述安装盒体上。

技术总结本技术提供了一种显示屏测试装置，该装置包括显示屏测试设备和转换电路，显示屏测试设备与转换电路连接，且显示屏测试设备与待测显示屏连接，转换电路用于将所述待测显示屏处于不同灰阶画面转换的光强转化为电压，显示屏测试设备用于采集并计算来自所述转换电路的电压以获得测试数据；转换电路包括相连接的光电二极管和运算放大器，待测显示屏位于光电二极管的识别范围内，光电二极管用于采集待测显示屏的光强，运算放大器通过AD模数转换器与显示屏测试设备连接。通过本申请，不仅整个测试操作简单，同时相应的显示屏测试装置结构简单，有利于推广，以便改善制造商提供的测试数据缺显示屏液晶响应时间的问题。技术研发人员：姚青华,罗海波受保护的技术使用者：重庆两江联创电子有限公司技术研发日：20231205技术公布日：2024/6/5