一种具有亮点修复能力的电路的制作方法

本发明涉及亮点修复领域，特别是涉及一种具有亮点修复能力的电路。

背景技术：

1、micro-oled亮点一般采用的激光修复，其原理是将有机膜层打坏，但不可避免会导致封装层破坏、周围像素受到热影响等潜在风险；激光修复需要昂贵的设备，并且修复速度比较慢。

技术实现思路

1、本发明的目的是提供一种具有亮点修复能力的电路，可实现亮点的快速修复且避免黑点扩大问题的产生。

2、为实现上述目的，本发明提供了如下方案：

3、一种具有亮点修复能力的电路包括：

4、控制单元、电源模块、多个具有熔断电路的亮点修复电路；

5、电源模块分别与控制单元和多个具有熔断电路的亮点修复电路连接；控制单元还与每个具有熔断电路的亮点修复电路的控制端连接；

6、控制单元用于获取亮点坐标，将所述亮点坐标对应的具有熔断电路的亮点修复电路中的熔断电路导通，使所述亮点坐标对应的具有熔断电路的亮点修复电路与电源模块断开，亮点消除。

7、可选地，所述具有熔断电路的亮点修复电路包括熔断电路、像素电路和oled；

8、控制单元分别与熔断电路的控制端和像素电路的数据端连接；电源模块还通过熔断电路与像素电路的电源输入端连接；像素电路的输出端和oled连接。

9、可选地，所述熔断电路包括熔丝、驱动管和使能管；

10、熔丝的一端与电源模块的正极连接，熔丝的另一端分别与像素电路和驱动管的源极连接；驱动管的漏极与电源模块的负极连接，驱动管的栅极与使能管的漏极连接，使能管的源极与控制单元的scan端连接，使能管的栅极与控制单元的fuse端连接。

11、可选地，所述熔丝为金属或者多晶硅电迁移熔丝。

12、可选地，所述驱动管和使能管均为三极管。

13、可选地，所述具有亮点修复能力的电路还包括：检测设备；

14、所述检测设备与控制单元连接；

15、所述检测设备用于检测亮点坐标，并将所述亮点坐标传输至控制单元。

16、可选地，所述检测设备为aoi检测设备。

17、根据本发明提供的具体实施例，本发明公开了以下技术效果：

18、本发明公开一种具有亮点修复能力的电路，包括控制单元、电源模块、多个具有熔断电路的亮点修复电路；电源模块分别与控制单元和多个具有熔断电路的亮点修复电路连接；控制单元还与每个具有熔断电路的亮点修复电路的控制端连接；控制单元用于获取亮点坐标，将所述亮点坐标对应的具有熔断电路的亮点修复电路中的熔断电路导通，使所述亮点坐标对应的具有熔断电路的亮点修复电路与电源模块断开，亮点消除，本发明可实现亮点的快速修复且避免黑点扩大问题的产生。

技术特征：

1.一种具有亮点修复能力的电路，其特征在于，所述具有亮点修复能力的电路包括：

2.根据权利要求1所述的具有亮点修复能力的电路，其特征在于，所述具有熔断电路的亮点修复电路包括熔断电路、像素电路和oled；

3.根据权利要求2所述的具有亮点修复能力的电路，其特征在于，所述熔断电路包括熔丝、驱动管和使能管；

4.根据权利要求3所述的具有亮点修复能力的电路，其特征在于，所述熔丝为金属或者多晶硅电迁移熔丝。

5.根据权利要求3所述的具有亮点修复能力的电路，其特征在于，所述驱动管和所述使能管均为三极管。

6.根据权利要求1所述的具有亮点修复能力的电路，其特征在于，所述具有亮点修复能力的电路还包括：检测设备；

7.根据权利要求6所述的具有亮点修复能力的电路，其特征在于，所述检测设备为aoi检测设备。

技术总结本发明公开一种具有亮点修复能力的电路，涉及亮点修复领域，包括控制单元、电源模块、多个具有熔断电路的亮点修复电路；电源模块分别与控制单元和多个具有熔断电路的亮点修复电路连接；控制单元还与每个具有熔断电路的亮点修复电路的控制端连接；控制单元用于获取亮点坐标，将所述亮点坐标对应的具有熔断电路的亮点修复电路中的熔断电路导通，使所述亮点坐标对应的具有熔断电路的亮点修复电路与电源模块断开，亮点消除，本发明可实现亮点的快速修复且避免黑点扩大问题的产生。技术研发人员：王江南,吴远武,吴迪,张川,王健波受保护的技术使用者：湖畔光电科技（江苏）有限公司技术研发日：技术公布日：2024/4/29