屏幕测试方法及存储介质与流程

本发明涉及芯片测试，尤其涉及一种屏幕测试方法及存储介质。

背景技术：

1、现有市场上都是采用普通单片机驱动显示屏刷屏，这种刷屏速度慢，只有8mhz的工作频率，且点阵分辨率小，根本无法驱动现在市场新出高分辨率的接口屏。现有的soc（system on chip，系统级芯片）功能测试装置只能外接一种显示屏，不能测试soc所支持的其他类型的显示屏，造成测试内容覆盖率低。当需要测试多种类型的显示屏，目前现生产的测试板均是分开不同接口测试板，导致利用率不高。

技术实现思路

1、以下是对本文详细描述的主题的概述。

2、本发明实施例提供了一种屏幕测试方法及存储介质，能够同时测试芯片支持的多种显示功能，提高测试内容的覆盖率。

3、第一方面，本发明实施例提供了一种屏幕测试系统，包括：

4、多个显示模块，至少两个所述显示模块的显示接口的串口类型不同；

5、测试主板，包括存储模块、芯片安装座和与所述显示模块一一对应的串行接口，其中，至少两个所述串行接口的串口类型不同，所述芯片安装座用于安装待测芯片，所述存储模块存储有测试程序；

6、所述测试程序用于指示所述待测芯片加载所述测试程序中的测试图片，并选择至少一部分所述串行接口发送与所述串行接口匹配的显示信号，以使所述串行接口对应的所述显示模块根据所述显示信号显示所述测试图片。

7、在一些实施例中，所述串行接口包括lvds接口和mipi接口。

8、在一些实施例中，所述显示模块包括lvds显示屏和mipi显示屏。

9、第二方面，本发明实施例还提供了一种屏幕测试方法，应用于屏幕测试系统，所述屏幕测试系统包括多个显示模块，至少两个所述显示模块的显示接口的串口类型不同；

10、测试主板，包括存储模块、芯片安装座和与所述显示模块一一对应的串行接口，其中，至少两个所述串行接口的串口类型不同，所述芯片安装座用于安装待测芯片，所述存储模块存储有测试程序；

11、所述方法包括：

12、读取所述存储模块中的测试程序；

13、加载所述测试程序中的测试图片，并选择至少一部分所述串行接口发送与所述串行接口匹配的显示信号，以使所述串行接口对应的所述显示模块根据所述显示信号显示所述测试图片。

14、本发明实施例提供的屏幕测试方法，至少具有如下有益效果：屏幕测试系统包括多个显示模块和测试主板，其中，测试主板包括存储有测试程序的存储模块、用于安装待测芯片的芯片安装座和与显示模块一一对应的串行接口，并且至少两个显示模块的显示接口的串口类型不同，从而能够外接多种串口类型的显示屏，便于对待测芯片显示功能的测试，测试程序用于指示待测芯片加载测试程序中的测试图片，并选择至少一部分串行接口发送与串行接口匹配的显示信号，实现对多种类型的显示屏的测试，以使串行接口对应的显示模块根据显示信号显示测试图片，从而实现对待测芯片显示功能的测试，提高测试内容的覆盖率。本实施例通过外接多种不同类型的显示屏，可以同时测试待测芯片支持的多种显示功能，提高测试内容的覆盖率，进一步能够验证待测芯片在不同显示环境下的表现，确保待测芯片的适用性和稳定性。

15、在一些实施例中，在读取所述存储模块中的测试程序之后，所述方法还包括：

16、加载所述测试程序中的测试序列，并根据所述测试序列确定第一串行接口和第二串行接口，其中，所述测试序列中串行接口被选择的优先级依次递减，所述第一串行接口的优先级高于所述第二串行接口的优先级；

17、向所有所述串行接口发送开启信号，以使所述串行接口对应的所述显示模块根据所述开启信号开启；

18、加载所述测试程序中的第一图片，并发送与所述第一串行接口匹配的第一显示信号，以使所述第一串行接口对应的第一显示模块根据所述第一显示信号以第一预设时长显示所述第一图片；

19、发送与所述第二串行接口匹配的第二显示信号，以使所述第二串行接口对应的所述第二显示模块根据所述第二显示信号以第二预设时长显示所述第一图片。

20、在一些实施例中，在向所有所述串行接口发送开启信号之后，所述方法还包括：

21、加载所述测试程序中与所述第一串行接口对应的第二图片和与所述第二串行接口对应的第三图片，并发送与所述第一串行接口匹配的第一显示信号，以使所述第一串行接口对应的第一显示模块根据所述第一显示信号以第三预设时长显示所述第二图片；

22、发送与所述第二串行接口匹配的第二显示信号，以使所述第二串行接口对应的所述第二显示模块根据所述第二显示信号以第四预设时长显示所述第三图片。

23、在一些实施例中，在发送与所述第二串行接口匹配的第二显示信号之前，所述方法还包括：

24、通过所述第一串行接口发送关闭信号，以使所述第一串行接口对应的第一显示模块根据所述关闭信号关闭。

25、在一些实施例中，在根据所述测试序列确定第一串行接口和第二串行接口之后，所述方法还包括：

26、通过所述第一串行接口发送第一开启信号，以使所述第一串行接口对应的第一显示模块根据所述第一开启信号开启；

27、加载所述测试程序中的第四图片，并发送与所述第一串行接口匹配的第三显示信号，以使所述第一串行接口对应的第一显示模块根据所述第三显示信号以第四预设时长显示所述第四图片；

28、通过所述第一串行接口发送第一关闭信号，以使所述第一串行接口对应的第一显示模块根据所述第一关闭信号关闭；

29、通过所述第二串行接口发送第二开启信号，以使所述第二串行接口对应的第二显示模块根据所述第二开启信号开启；

30、发送与所述第一串行接口匹配的第四显示信号，以使所述第二串行接口对应的第二显示模块根据所述第四显示信号以第五预设时长显示所述第四图片；

31、通过所述第二串行接口发送第二关闭信号，以使所述第二串行接口对应的第二显示模块根据所述第二关闭信号关闭。

32、在一些实施例中，在通过所述第二串行接口发送第二开启信号之后，所述方法还包括：

33、加载所述测试程序中与所述第二串行接口对应的第五图片，并发送与所述第二串行接口匹配的第五显示信号，以使所述第二串行接口对应的第二显示模块根据所述第五显示信号以第六预设时长显示所述第五图片；

34、通过所述第二串行接口发送第三关闭信号，以使所述第二串行接口对应的第二显示模块根据所述第三关闭信号关闭。

35、第三方面，本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于使计算机执行如第二方面所述的屏幕测试方法。

36、本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

技术特征：

1.一种屏幕测试方法，其特征在于，应用于屏幕测试系统，所述屏幕测试系统包括多个显示模块，至少两个所述显示模块的显示接口的串口类型不同；

2.根据权利要求1所述的屏幕测试方法，其特征在于，在向所有所述串行接口发送开启信号之后，所述方法还包括：

3.根据权利要求2所述的屏幕测试方法，其特征在于，在发送与所述第二串行接口匹配的第二显示信号之前，所述方法还包括：

4.根据权利要求1所述的屏幕测试方法，其特征在于，在根据所述测试序列确定第一串行接口和第二串行接口之后，所述方法还包括：

5.根据权利要求4所述的屏幕测试方法，其特征在于，在通过所述第二串行接口发送第二开启信号之后，所述方法还包括：

6.根据权利要求1所述的屏幕测试方法，其特征在于，所述串行接口包括lvds接口和mipi接口。

7.根据权利要求1所述的屏幕测试方法，其特征在于，所述显示模块包括lvds显示屏和mipi显示屏。

8.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于使计算机执行如权利要求1至7中任意一项所述的屏幕测试方法。

技术总结本发明公开一种屏幕测试方法及存储介质，其中，系统包括多个显示模块，至少两个显示模块的显示接口的串口类型不同；测试主板，包括存储模块、芯片安装座和与显示模块一一对应的串行接口，其中，至少两个串行接口的串口类型不同，芯片安装座用于安装待测芯片，存储模块存储有测试程序；测试程序用于指示待测芯片加载测试程序中的测试图片，并选择至少一部分串行接口发送与串行接口匹配的显示信号，以使串行接口对应的显示模块根据显示信号显示测试图片。在本发明实施例中，能够同时测试芯片支持的多种显示功能，提高测试内容的覆盖率。技术研发人员：许金浩,王大志受保护的技术使用者：广东匠芯创科技有限公司技术研发日：技术公布日：2024/5/8