像素驱动电路、显示面板以及显示面板的测试方法与流程

本发明一般涉及显示，具体涉及一种像素驱动电路、显示面板以及显示面板的测试方法。

背景技术：

1、随着显示技术的发展，像素密度及其电路的精细度随之升高，导致在制作过程中，时有点性不良发生，目前，一般采用inpixel测试方法获得点性不良对应的驱动晶体管的id-vg(电流-电压)特性曲线，但是，inpixel测试方法的成功率较低。

技术实现思路

1、本申请期望提供一种像素驱动电路、显示面板以及显示面板的测试方法，至少用于提高显示面板测试中获取点性不良对应的驱动晶体管的id-vg(电流-电压)特性曲线的成功率。

2、第一方面，本发明提供一种像素驱动电路，包括数据写入模块、驱动晶体管、第一储存电容以及负压提供模块；

3、所述第一储存电容的第一极与所述驱动晶体管的控制极连接于第一节点；

4、所述数据写入模块，被配置为响应于扫描信号，将数据电压写入至所述第一节点，并存储于所述第一存储电容；

5、所述负压提供模块包括第二储存电容和负压写入子模块，所述第二储存电容的第一极与所述负压写入子模块连接，所述第二储存电容的第二极与所述第一节点连接，所述负压写入子模块，被配置为响应于负压写入信号，在所述数据电压写入至所述第一节点前，向所述第二储存电容的第一极写入负电压。

6、作为可实现方式，所述的像素驱动电路还包括第一复位模块和老化模块；

7、所述第一复位模块包括第一复位晶体管和第二复位晶体管，所述第一复位晶体管的第一极与所述第一节点连接，所述第一复位晶体管的第二极与所述第二复位晶体管的第一极连接于第五节点，所述第二复位晶体管的第二极连接第一初始信号端；

8、所述老化模块包括老化电压写入控制晶体管，所述老化电压写入控制晶体管，被配置为响应于使能信号，将老化电压写入到所述第五节点；

9、所述第一复位晶体管和所述第二复位晶体管，被配置为响应于复位信号，向所述第一节点写入第一初始信号。

10、作为可实现方式，所述老化模块还包括第一老化电压写入晶体管和第二老化电压写入晶体管，所述第一老化电压写入晶体管的第一极与所述第二老化电压写入晶体管的第一极分别连接至老化电压端，所述第一老化电压写入晶体管的第二极与所述第二老化电压写入晶体管的第二极分别连接至所述老化电压写入控制晶体管的第一极，所述老化电压写入控制晶体管的第二极连接至所述第五节点；

11、所述第一老化电压写入晶体管的控制极连接至所述第一老化电压写入晶体管的第一极，用于通过小于第一电压阈值的负电压；

12、所述第二老化电压写入晶体管的控制极连接至所述第二老化电压写入晶体管的第二极，用于通过大于第二电压阈值的正电压。

13、作为可实现方式，所述的像素驱动电路还包括阈值补偿模块，所述阈值补偿模块连接于所述第一节点，且与所述驱动晶体管的第二极连接至第三节点。

14、作为可实现方式，所述阈值补偿模块包括阈值补偿晶体管，所述阈值补偿晶体管的第一极连接至所述第一节点，所述阈值补偿晶体管的第二极连接至所述第三节点，所述阈值补偿晶体管，被配置为响应于所述扫描信号，连通所述第一节点和第三节点。

15、作为可实现方式，所述的像素驱动电路还包括发光元件，第一发光控制模块和第二发光控制模块；

16、所述第一发光控制模块包括第一发光控制晶体管，所述第一发光控制晶体管的第一极连接第一电压端，所述第一发光控制晶体管的第二极连接至所述第二节点；

17、所述第二发光控制模块包括第二发光控制晶体管，所述第二发光控制晶体管的第一极连接至所述第三节点，所述第二发光控制晶体管的第二极与所述发光元件的第一极连接至第四节点，所述发光元件的第二极连接第二电压端。

18、作为可实现方式，所述的像素驱动电路还包括第二复位模块，所述第二复位模块包括第三复位晶体管，所述第三复位晶体管的第一极连接至所述第四节点，所述所述第三复位晶体管的第二极连接至第二初始信号端，所述第三复位晶体管，被配置为响应于所述扫描信号，向所述第四节点写入第二初始信号。

19、第二方面，本发明提供一种显示面板，包括显示区和位于所述显示区一侧的绑定区；还包括上述的像素驱动电路，且，所述负压提供模块位于所述绑定区；至少所述数据写入模块、所述驱动晶体管和所述第一储存电容位于所述显示区。

20、作为可实现方式，在所述显示面板包括上述具有老化模块的像素驱动电路时，所述老化模块位于所述绑定区。

21、第三方面，本发明提供一种上述显示面板的测试方法，包括以下步骤：

22、获取驱动晶体管在不同栅电极-源电极电压下，所测试显示面板中亮点的亮度图像；

23、基于发光元件的电压亮度关系，确定所述不同栅电极-源电极电压下，形成所述亮点的所述发光元件的分压，基于所述分压确定所述驱动晶体管的漏极-源电极电压；

24、若所述驱动晶体管处于饱和区，则根据下述关系式确定在所述漏极-源电极电压条件下，对应于所述亮点的驱动晶体管的流通电流ids；

25、

26、其中，μ为载流子迁移率，cox为单位面积栅电极电容量，w为驱动晶体管沟道的宽度，l为驱动晶体管沟道的长度，vdata为数据电压，vdd为第一电源电压；

27、若所述驱动晶体管处于非饱和区，则以正常显示的对比显示面板与所述亮点相同亮度下的数据电压、第一电压以及漏极-源电极电压，作为对应于所述亮点的驱动晶体管在非饱和区等效的数据电压、第一电源电压以及漏极-源电极电压，并以等效的数据电压和第一电源电压由上述关系式，确定在等效的漏极-源电极电压条件下，对应于所述亮点的驱动晶体管的流通电流ids；

28、基于所述栅电极-源电极电压及所述饱和区和所述非饱和区的所述流通电流ids，确定对应于所述亮点的驱动晶体管的电流－电压特性曲线。

29、上述方案，通过设置包括第二储存电容和负压写入子模块的负压提供模块，其中，所述负压写入子模块，被配置为响应于负压写入信号，在所述数据电压写入至所述第一节点前，向所述第二储存电容的第一极写入负电压，在第二储存电容的第一极写入负电压后，所述数据电压可以更快、更充分的写入到所述第一节点，在数据电压充分写入到所述第一节点的情况下，可以认为第一节点的电压等于数据电压，在显示面板进行测试时，数据电压是驱动晶体管的流通电流ids计算的变量，在数据电压准确的情况下，所得到的驱动晶体管的流通电流ids亦是准确的，因此即可获得准确的测试结果，故可以提高显示面板测试中获取点性不良对应的驱动晶体管的id-vg(电流-电压)特性曲线的成功率。

技术特征：

1.一种像素驱动电路，其特征在于，包括数据写入模块、驱动晶体管、第一储存电容以及负压提供模块；

2.根据权利要求1所述的像素驱动电路，其特征在于，还包括第一复位模块和老化模块；

3.根据权利要求2所述的像素驱动电路，其特征在于，所述老化模块还包括第一老化电压写入晶体管和第二老化电压写入晶体管，所述第一老化电压写入晶体管的第一极与所述第二老化电压写入晶体管的第一极分别连接至老化电压端，所述第一老化电压写入晶体管的第二极与所述第二老化电压写入晶体管的第二极分别连接至所述老化电压写入控制晶体管的第一极，所述老化电压写入控制晶体管的第二极连接至所述第五节点；

4.根据权利要求1-3任一项所述的像素驱动电路，其特征在于，还包括阈值补偿模块，所述阈值补偿模块连接于所述第一节点，且与所述驱动晶体管的第二极连接至第三节点。

5.根据权利要求4所述的像素驱动电路，其特征在于，所述阈值补偿模块包括阈值补偿晶体管，所述阈值补偿晶体管的第一极连接至所述第一节点，所述阈值补偿晶体管的第二极连接至所述第三节点，所述阈值补偿晶体管，被配置为响应于所述扫描信号，连通所述第一节点和第三节点。

6.根据权利要求5所述的像素驱动电路，其特征在于，还包括发光元件，第一发光控制模块和第二发光控制模块；

7.根据权利要求6所述的像素驱动电路，其特征在于，还包括第二复位模块，所述第二复位模块包括第三复位晶体管，所述第三复位晶体管的第一极连接至所述第四节点，所述所述第三复位晶体管的第二极连接至第二初始信号端，所述第三复位晶体管，被配置为响应于所述扫描信号，向所述第四节点写入第二初始信号。

8.一种显示面板，其特征在于，包括显示区和位于所述显示区一侧的绑定区；还包括权利要求1-7任一项所述的像素驱动电路，且，所述负压提供模块位于所述绑定区；至少所述数据写入模块、所述驱动晶体管和所述第一储存电容位于所述显示区。

9.根据权利要求8所述的显示面板，其特征在于，在所述显示面板包括权利要求2-7任一项所述的像素驱动电路时，所述老化模块位于所述绑定区。

10.一种如权利要求8-9任一项所述显示面板的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

技术总结本申请公开了一种像素驱动电路、显示面板以及显示面板的测试方法，其中，像素驱动电路包括数据写入模块、驱动晶体管、第一储存电容以及负压提供模块；第一储存电容的第一极与所述驱动晶体管的控制极连接于第一节点；数据写入模块，被配置为响应于扫描信号，将数据电压写入至所述第一节点，并存储于第一存储电容；负压提供模块包括第二储存电容和负压写入子模块，第二储存电容的第一极与所述负压写入子模块连接，第二储存电容的第二极与第一节点连接，负压写入子模块，被配置为响应于负压写入信号，在数据电压写入至第一节点前，向第二储存电容的第一极写入负电压，上述方案可以提高测量获得ID‑VG特性曲线的成功率。技术研发人员：李雨生,张凯,帅铭,黄梦琳,冯军强,张人龙,洪执华,邓洪举,赵洋,任锋受保护的技术使用者：京东方科技集团股份有限公司技术研发日：技术公布日：2024/5/9