显示模组的测试方法、测试装置、测试设备和存储介质与流程

本申请涉及显示，具体涉及一种显示模组的测试方法、测试装置、测试设备和存储介质。

背景技术：

1、随着信息技术的快速发展，有机电致发光二极管的显示器因其具有视角广，清晰度高，厚度薄，可制备柔性器件等优点在显示面板行业有很好的发展。显示器中薄膜晶体管(thin film transistor，tft)的电学参数会极大地影响显示面板的显示效果。

2、然而目前的显示模组的均一性测试的方法效果较差。

技术实现思路

1、有鉴于此，本申请实施例提供了一种显示模组的测试方法、测试装置、测试设备和存储介质，以解决现有显示模组的均一性测试的方法效果较差的问题。

2、本申请第一方面提供了一种显示模组的测试方法，显示模组包括开孔区和非孔区，显示模组包括显示面板和叠置在显示面板非显示侧的屏蔽层，显示面板包括阴极；测试方法包括：在息屏状态下，向阴极和屏蔽层之间提供电压差，并持续预设时间；检测开孔区和非孔区的最终亮度差异值；基于最终亮度差异值，确定显示面板的显示均一性。

3、在一个实施例中，显示模组还包括与显示面板邦定连接的转接柔性电路板；在息屏状态下，向阴极和屏蔽层之间提供电压差包括：在息屏状态下，向转接柔性电路板的接地信号线和屏蔽层之间提供电压差。

4、在一个实施例中，在息屏状态下，向转接柔性电路板和屏蔽层之间提供电压差包括：在息屏状态下，将电源的正极连接屏蔽层，将电源的负极连接转接柔性电路板的接地信号线；优选的，电源的电压大于或等于25伏且小于或等于35伏。

5、在一个实施例中，在向转接柔性电路板和屏蔽层之间提供电压差之前，测试方法还包括：去除转接柔性电路板和屏蔽层之间的黑色胶带层，以将柔性电路板的接地信号线和屏蔽层断开。

6、在一个实施例中，检测开孔区和非孔区的最终亮度差异值包括：对显示面板进行点屏操作，使显示面板显示灰阶图像；基于灰阶图像，确定开孔区的第一亮度和非孔区的第二亮度；基于第一亮度和第二亮度，确定开孔区和非孔区的最终亮度差异值。

7、在一个实施例中，在息屏状态下，向阴极和屏蔽层之间提供电压差，并持续预设时间之前，方法还包括：检测开孔区和非孔区的初始亮度差异值；并且，基于最终亮度差异值，确定显示面板的显示均一性，包括：基于初始亮度差异值和最终亮度差异值，确定显示面板的显示均一性。

8、在一个实施例中，基于初始亮度差异值和最终亮度差异值，确定显示面板的显示均一性包括：计算初始亮度差异值和最终亮度差异值的差值；基于差值确定显示面板的显示均一性。

9、本申请第二方面提供了一种显示模组的测试装置，显示模组包括开孔区和非孔区，显示模组包括显示面板和叠置在显示面板非显示侧的屏蔽层，显示面板包括阴极，测试装置包括：电压模块，用于在息屏状态下，向阴极和屏蔽层之间提供电压差，并持续预设时间；检测模块，用于检测开孔区和非孔区的最终亮度差异值；确定模块，用于基于最终亮度差异值，确定显示面板的显示均一性。

10、本申请第三方面提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述的测试方法。

11、本申请第四方面提供了一种显示模组的测试设备，包括外围驱动芯片，外围驱动芯片包括存储器和处理器，存储器中储存有程序，程序被处理器执行时，使得处理器执行上述的测试方法。

12、本申请实施例提供的显示模组的测试方法包括：首先在息屏状态下，向薄膜晶体管和屏蔽层之间提供电压差，并持续预设时间；然后检测开孔区和非孔区的最终亮度差异值；最后基于最终亮度差异值，确定显示面板的显示均一性。上述方法能够增大阴极和屏蔽层之间的电场，使显示模组的显示差异更为明显，使测试更为方便，提高测试效果。

技术特征：

1.一种显示模组的测试方法，所述显示模组包括开孔区和非孔区，所述显示模组包括显示面板和叠置在所述显示面板非显示侧的屏蔽层，所述显示面板包括阴极，其特征在于，所述测试方法包括：

2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述显示模组还包括与所述显示面板邦定连接的转接柔性电路板；所述在息屏状态下，向所述阴极和所述屏蔽层之间提供电压差包括：

3.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述在所述息屏状态下，向所述转接柔性电路板和所述屏蔽层之间提供电压差包括：

4.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，在所述向所述转接柔性电路板和所述屏蔽层之间提供电压差之前，所述测试方法还包括：

5.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述检测所述开孔区和所述非孔区的最终亮度差异值包括：

6.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述在息屏状态下，向所述阴极和所述屏蔽层之间提供电压差，并持续预设时间之前，所述方法还包括：

7.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于，所述基于所述初始亮度差异值和所述最终亮度差异值，确定所述显示面板的显示均一性包括：

8.一种显示模组的测试装置，所述显示模组包括开孔区和非孔区，所述显示模组包括显示面板和叠置在所述显示面板非显示侧的屏蔽层，所述显示面板包括阴极，其特征在于，包括：

9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7中任一项所述测试方法。

10.一种显示模组的测试设备，其特征在于，包括外围驱动芯片，所述外围驱动芯片包括存储器和处理器，所述存储器中储存有程序，其特征在于，所述程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行权利要求1至7中任一项所述测试方法。

技术总结本申请实施例提供了一种显示模组的测试方法、测试装置、测试设备和存储介质，涉及显示技术领域。显示模组包括开孔区和非孔区，显示模组包括显示面板和叠置在显示面板非显示侧的屏蔽层，显示面板包括阴极；测试方法包括：在息屏状态下，向阴极和屏蔽层之间提供电压差，并持续预设时间；检测开孔区和非孔区的最终亮度差异值；基于最终亮度差异值，确定显示面板的显示均一性。上述方法能够增大阴极和屏蔽层之间的电场，使显示模组的显示差异更为明显，使测试更为方便，提高测试效果。技术研发人员：张伟彬,肖志慧受保护的技术使用者：合肥维信诺科技有限公司技术研发日：技术公布日：2024/5/27