显示面板检测方法、装置、电子设备及存储介质与流程

本申请涉及显示，尤其涉及一种显示面板检测方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术：

1、随着显示技术的发展，对显示面板的性能要求越来越高，为了提高显示面板的显示性能，需要对显示面板进行缺陷检测。但目前的显示面板缺陷检测技术难以满足需求。

技术实现思路

1、有鉴于此，本申请的目的在于提出一种显示面板检测方法、装置、设备及介质，可以检测显示面板最外侧像素单元是否异常，避免漏检。

2、基于上述目的，本申请提供了一种显示面板检测方法，所述显示面板包括：

3、显示区，所述显示区包括弧角区；

4、多个像素单元，设置于所述显示区且部分位于所述弧角区，多个所述像素单元沿第一方向和第二方向阵列排布，所述第一方向与第二方向交叉；

5、所述显示面板检测方法包括：

6、在所述显示面板点亮时，获取所述显示区中检测区域的图像；其中，所述检测区域为点亮区域的轮廓内区域；

7、计算所述图像中目标像素单元的长度；其中，所述目标像素单元为与所述检测区域的边缘延伸方向相同的一排像素单元，且所述目标像素单元中的至少部分像素单元位于所述弧角区；

8、将所述目标像素单元的长度与标准长度进行比较，并判断所述显示面板的最外侧像素单元是否存在异常。

9、在其中一个实施例中，所述将所述目标像素单元的长度与标准长度进行比较，并判断所述显示面板的最外侧像素单元是否存在异常，包括：

10、计算所述目标像素单元的长度与标准长度之间的差值；

11、根据所述差值判断所述显示面板的最外侧像素单元是否存在异常。

12、在其中一个实施例中，所述根据所述差值判断所述显示面板的最外侧像素单元是否存在异常，包括：

13、判断所述差值是否小于目标值；

14、响应于所述差值小于目标值，判定所述显示面板的最外侧像素单元无异常；

15、响应于所述差值大于或等于目标值时，判定所述显示面板的最外侧像素单元异常。

16、在其中一个实施例中，所述目标像素单元为最靠近所述检测区域的边缘，且与所述边缘延伸方向相同的一排像素单元。

17、基于同样的发明构思，本申请还提供了一种显示面板检测装置，所述显示面板包括：

18、显示区，所述显示区包括弧角区；

19、多个像素单元，设置于所述显示区且部分位于所述弧角区，多个所述像素单元沿第一方向和第二方向阵列排布，所述第一方向与第二方向交叉；

20、所述显示面板检测装置包括：

21、图像获取模块，用于在所述显示面板点亮时，获取所述显示区中检测区域的图像；其中，所述检测区域为点亮区域的轮廓内区域；

22、计算模块，用于计算所述图像中目标像素单元的长度；其中，所述目标像素单元为与所述检测区域的边缘延伸方向相同的一排像素单元，且所述目标像素单元中的至少部分像素单元位于所述弧角区；

23、判断模块，用于将所述目标像素单元的长度与标准长度进行比较，并判断所述显示面板的最外侧像素单元是否存在异常。

24、在其中一个实施例中，所述判断模块包括：

25、第一计算子模块，用于计算所述目标像素单元的长度与标准长度之间的差值；

26、第一判断子模块，用于根据所述差值判断所述显示面板的最外侧像素单元是否存在异常。

27、在其中一个实施例中，所述第一判断子模块包括：

28、第二判断子模块，用于判断所述差值是否小于目标值；

29、第一判定模块，用于响应于所述差值小于目标值，判定所述显示面板的最外侧像素单元无异常；

30、第二判定模块，用于响应于所述差值大于或等于目标值，判定所述显示面板的最外侧像素单元异常。

31、在其中一个实施例中，所述目标像素单元为最靠近所述检测区域的边缘，且与所述边缘延伸方向相同的一排像素单元。

32、基于同样的发明构思，本申请还提供了一种电子设备，其包括处理器和存储器，所述存储器上存储有可在所述处理器上运行的程序或指令，所述程序或指令被所述处理器执行时实现上述任一项所述的显示面板检测方法的步骤。

33、基于同样的发明构思，本申请还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储程序或指令，所述程序或指令被处理器执行时实现上述任一项所述的显示面板检测方法的步骤。

34、本申请提供的显示面板检测方法通过在显示面板点亮时，获取显示区中检测区域的图像，并计算图像中目标像素单元的长度，将目标像素单元的长度与标准长度进行比较，并判断显示面板的最外侧像素单元是否存在异常。本申请提供的显示面板检测方法可以实现对显示面板的最外侧像素单元的检测，避免显示面板的最外侧像素单元出现漏检，具有检测准确度高、精度高的优点。

技术特征：

1.一种显示面板检测方法，所述显示面板包括：

2.如权利要求1所述的显示面板检测方法，其特征在于，所述将所述目标像素单元的长度与标准长度进行比较，并判断所述显示面板的最外侧像素单元是否存在异常，包括：

3.如权利要求2所述的显示面板检测方法，其特征在于，所述根据所述差值判断所述显示面板的最外侧像素单元是否存在异常，包括：

4.如权利要求1所述的显示面板检测方法，其特征在于，所述目标像素单元为最靠近所述检测区域的边缘，且与所述边缘延伸方向相同的一排像素单元。

5.一种显示面板检测装置，所述显示面板包括：

6.如权利要求5所述的显示面板检测装置，其特征在于，所述判断模块包括：

7.如权利要求6所述的显示面板检测装置，其特征在于，所述第一判断子模块包括：

8.如权利要求5所述的显示面板检测装置，其特征在于，所述目标像素单元为最靠近所述检测区域的边缘，且与所述边缘延伸方向相同的一排像素单元。

9.一种电子设备，其特征在于，包括处理器和存储器，所述存储器上存储有可在所述处理器上运行的程序或指令，所述程序或指令被所述处理器执行时实现如权利要求1至4任一项所述的显示面板检测方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储程序或指令，所述程序或指令被处理器执行时实现如权利要求1至4任一项所述的显示面板检测方法的步骤。

技术总结本申请提供一种显示面板检测方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：在显示面板点亮时，获取显示区中检测区域的图像；其中，检测区域为点亮区域的轮廓内区域；计算图像中目标像素单元的长度；其中，目标像素单元为与检测区域的边缘延伸方向相同的一排像素单元，且目标像素单元中的至少部分像素单元位于弧角区；将目标像素单元的长度与标准长度进行比较，并判断显示面板的最外侧像素单元是否存在异常。本申请提供的显示面板检测方法可以实现对显示面板的最外侧像素单元的检测，避免显示面板的最外侧像素单元出现漏检，具有检测准确度高、精度高的优点。技术研发人员：徐浩冉,曲毅,常星,刘亚伟,张欢欢,蔺兴栋,王晓伟,王会,任志鹏受保护的技术使用者：昆山国显光电有限公司技术研发日：技术公布日：2024/6/2