一种显示芯片测试系统及方法与流程

本公开的实施例涉及芯片测试，具体地，涉及一种显示芯片测试系统及方法。

背景技术：

1、在显示驱动ic设计中，对图像处理中需要设计扫描算法，该扫描算法用于控制和处理显示屏上的像素点。它定义了如何将输入信号转换为可在显示屏幕上显示的图像。

2、设计的扫描算法是否可以解决预设的问题或者是实现预定的需求，需要进行扫描算法测试。在传统的测试方法中，一般是选用显示屏及进行对应的硬件驱动设计，对显示屏进行点亮进行测试。

3、但是传统的测试方法对显示屏幕的选择及硬件设计有较高的难度，而且成本较高，周期也较长。

技术实现思路

1、本文中描述的实施例提供了一种显示芯片测试系统及方法，旨在解决现有测试方法难度高、周期长以及成本高的问题。

2、根据本公开的第一方面，提供了一种显示芯片测试系统，包括：fpga以及led阵列；

3、其中，所述led阵列包括一组排列有序的led；

4、所述fpga用于将待测试扫描算法数据转换为存储模块的数据信息，并将所述数据信息存储到存储模块中；其中，所述存储模块包括多个存储单元，每个存储单元与所述led阵列中的一个led一一对应；

5、所述fpga还用于读取所述存储模块所存储的数据信息，基于各个存储单元中的数据信息控制对应的led点亮。

6、可选地，所述fpga包括寄存器阵列和扫描模块；

7、其中，所述扫描模块用于将待测试扫描算法数据转换为所述寄存器阵列的数据信息，并将所述数据信息存储到所述寄存器阵列中；所述寄存器阵列包括多个寄存器，每个寄存器与所述led阵列中的一个led一一对应；

8、所述扫描模块还用于读取所述寄存器阵列的数据信息，基于各个寄存器中的数据信息控制对应的led点亮。

9、可选地，所述led的正极与所述fpga的输入输出端相连，所述led的负极与地相连。

10、可选地，所述led的正极与所述fpga的输入输出端相连，所述led的负极与预设电压提供端相连。

11、可选地，所述预设电压为可调节数值的负压。

12、可选地，所述待测试扫描算法数据为基于sram的像素结构类型的显示芯片的扫描算法；或被动类型的扫描算法。

13、根据本公开的第二方面，提供了一种显示芯片测试方法，所述方法包括：

14、配置存储模块中每个存储单元和led阵列中的led的对应关系；

15、将待测试扫描算法数据转换为存储模块的数据信息，并将所述数据信息存储到存储模块中；其中，所述存储模块包括多个存储单元，每个存储单元与所述led阵列中的led一一对应；

16、读取所述存储模块所存储的数据信息，基于所述数据信息控制对应的led点亮。

17、可选地，所述读取所述存储模块所存储的数据信息，基于所述数据信息控制对应的led的点亮包括：

18、所述存储模块所存储的数据信息中，不同数值对应不同的亮度级别，基于所述数据信息的数值控制对应的led的亮度。

19、可选地，所述将待测试扫描算法数据转换为存储模块的数据信息，并将所述数据信息存储到存储模块中包括：

20、基于所述待测试扫描算法中的帧率参数确定led的刷新速率，依据所述led的刷新速率更新存储模块所存储的数据信息。

21、可选地，所述将待测试扫描算法数据转换为存储模块的数据信息，并将所述数据信息存储到存储模块中包括：

22、基于所述待测试扫描算法中的扫描方式确定每次需要点亮的led的坐标数据，依据所述led的坐标数据更新对应存储单元的数据信息。

23、本公开所提供的显示芯片测试系统，通过fpga将待测试扫描算法数据转换为存储模块的数据信息，并将数据信息存储到存储模块中；其中，所述存储模块包括多个存储单元，每个存储单元与所述led阵列中的一个led一一对应。通过读取所述存储模块所存储的数据信息，基于各个存储单元中的数据信息控制对应的led点亮。这样，就可以基于led阵列的点亮对所述待测试扫描算法进行测试。该测试方案简单、易于实现，并且具有成本低、周期短的技术优点。

24、此外，本公开还提供了一种具有上述技术优点的显示芯片测试方法。

技术特征：

1.一种显示芯片测试系统，其特征在于，包括：fpga以及led阵列；

2.根据权利要求1所述的显示芯片测试系统，其特征在于，所述fpga包括寄存器阵列和扫描模块；

3.根据权利要求2所述的显示芯片测试系统，其特征在于，所述led的正极与所述fpga的输入输出端相连，所述led的负极与地相连。

4.根据权利要求2所述的显示芯片测试系统，其特征在于，所述led的正极与所述fpga的输入输出端相连，所述led的负极与预设电压提供端相连。

5.根据权利要求4所述的显示芯片测试系统，其特征在于，所述预设电压为可调节数值的负压。

6.根据权利要求1至5任一项所述的显示芯片测试系统，其特征在于，所述待测试扫描算法数据为基于sram的像素结构类型的显示芯片的扫描算法；或被动类型的扫描算法。

7.一种显示芯片测试方法，其特征在于，所述方法包括：

8.根据权利要求7所述的显示芯片测试方法，其特征在于，所述读取所述存储模块所存储的数据信息，基于所述数据信息控制对应的led的点亮包括：

9.根据权利要求7或8所述的显示芯片测试方法，其特征在于，所述将待测试扫描算法数据转换为存储模块的数据信息，并将所述数据信息存储到存储模块中包括：

10.根据权利要求7或8所述的显示芯片测试方法，其特征在于，所述将待测试扫描算法数据转换为存储模块的数据信息，并将所述数据信息存储到存储模块中包括：

技术总结本公开的实施例提供一种显示芯片测试系统，包括：FPGA以及LED阵列；其中，所述LED阵列包括一组排列有序的LED；所述FPGA用于将待测试扫描算法数据转换为存储模块的数据信息，并将所述数据信息存储到存储模块中；其中，所述存储模块包括多个存储单元，每个存储单元与所述LED阵列中的一个LED一一对应；FPGA还用于读取所述存储模块所存储的数据信息，基于各个存储单元中的数据信息控制对应的LED点亮，以基于LED阵列的点亮对待测试扫描算法进行测试。该测试方案简单、易于实现，并且具有成本低、周期短的特点。此外，本公开的实施例还提供了一种具有上述技术效果的显示芯片测试方法。技术研发人员：黄丽,庞伟区,朱凯嵩,张珂受保护的技术使用者：深圳市思坦科技有限公司技术研发日：技术公布日：2024/6/5