试料测定装置、试料测定方法以及试料测定程序与流程

本发明例如涉及在进行细胞培养时进行试料的测定的试料测定装置、试料测定方法以及试料测定程序。

背景技术：

1、现有的细胞培养分析装置具备：基体；固定在设于基体的贯通孔部分的传感器；和与传感器连接并用于取出信号的引线。

2、例如，在专利文献1中，公开了在浸渍于液体细胞培养基的状态下进行培养基内的细胞培养环境的测定的传感器。

3、在专利文献2中，公开了具备用于在培养基配置传感器的升降机构(升降机)的结构。

4、在专利文献3中，公开了在培养基内浸渍传感器来分析容器内的培养基中所含的细胞的装置以及方法。

5、先行技术文献

6、专利文献

7、专利文献1：美国专利申请公开第2014/0186876号说明书

8、专利文献2：美国专利申请公开第2016/0077083号说明书

9、专利文献3：美国专利第7638321号说明书

技术实现思路

1、但在上述现有的传感器、装置以及方法中，有以下所示那样的问题点。

2、一般，细胞培养通过在包含多个凹陷部分(孔：well)的孔盘(well plate)中注入培养基来进行，因此，注入到1个1个的孔中的培养基的量有时会产生偏差。因而，在使传感器浸渍于培养基的状态下进行细胞培养时，因培养基的忘记放入、培养基的量的偏差等，从而传感器的包含测定电极的部分未充分浸渍，有可能产生测定错误。

3、此外，细胞培养由于在高温高湿环境下进行，因此，霉菌等杂质(污染物)有可能附着于传感器而给测定结果带来坏的影响。

4、因此，在上述现有的结构中，并不是考虑了传感器的浸渍不良、霉菌等污染物产生的结构，难以正确地检测因传感器浸渍不良、污染物产生等而导致的测定错误的产生。

5、本发明的课题在于，提供能为了进行正确的测定而检测因传感器浸渍不良、污染物产生等导致的测定错误的产生的试料测定装置、试料测定方法以及试料测定程序。

6、本发明所涉及的试料测定装置具备电压施加部、电流测定部、浓度测定部、对极端子电压测定部和测定错误检测部。电压施加部对在将至少包含作用极、对极以及参考极在内的电极部浸渍于试料的状态下施加电压的试料测定传感器的电极部施加电压。电流测定部测定由于对电极部施加的电压而流过试料测定传感器的电流值。浓度测定部基于电流测定部中的测定结果来算出试料中所含的分析物的浓度。对极端子电压测定部在由电压施加部施加电压的状态下测定电极部中所含的对极的端子电压。测定错误检测部基于对极端子电压测定部中测定的对极的端子电压来检测测定错误。

7、(发明效果)

8、根据本发明所涉及的试料测定装置，能为了进行正确的测定而检测因传感器浸渍不良、污染物产生等导致的测定错误的产生。

技术特征：

1.一种试料测定装置，具备：

2.根据权利要求1所述的试料测定装置，其中，

3.根据权利要求2所述的试料测定装置，其中，

4.根据权利要求3所述的试料测定装置，其中，

5.根据权利要求1～4中任一项所述的试料测定装置，其中，

6.根据权利要求5所述的试料测定装置，其中，

7.根据权利要求6所述的试料测定装置，其中，

8.根据权利要求7所述的试料测定装置，其中，

9.根据权利要求1～8中任一项所述的试料测定装置，其中，

10.根据权利要求1～9中任一项所述的试料测定装置，其中，

11.根据权利要求10所述的试料测定装置，其中，

12.根据权利要求10或11所述的试料测定装置，其中，

13.根据权利要求10～12中任一项所述的试料测定装置，其中，

14.一种试料测定方法，具备：

15.一种试料测定程序，使计算机执行试料测定方法，所述试料测定方法具备：

技术总结细胞培养分析装置(1)具备电压施加部(11a)、电流测定部(11b)、电压测定部(11c)、解析部(42)。电压施加部(11a)在将包含作用极、对极、参考极在内的检测部(31a)浸渍于培养基(X)的状态下对传感器(30)的检测部(31a)施加电压。电流测定部(11b)测定由于对检测部(31a)施加的电压而流过传感器(30)的电流值。解析部(42)基于电流测定部(11b)的测定结果来算出培养基中所含的葡萄糖等的浓度。电压测定部(11c)在电压施加部(11a)施加电压的状态下测定检测部(31a)中所含的对极的端子电压。解析部(42)基于电压测定部(11c)中测定的对极的端子电压来检测测定错误。技术研发人员：池谷生一郎,藤田纯孝,福本悟史受保护的技术使用者：普和希控股公司技术研发日：技术公布日：2024/7/11