一种电子元件测试进料装置的制作方法

本技术涉及电子元件测试设备，特别涉及一种电子元件测试进料装置。

背景技术：

1、电子元件加工成型后，需对电子元件成品进行测试，以鉴定电子元件成品的品质，以电阻元件为例，会根据测试结果将电阻元件成品分成多个档次，并对其进行分类，筛选出合格成品，剔除掉次品。

2、专利号：201922377276.2，公开了一种电子元件成品测试仪的进料装置，振动盘与滑道之间软连接，可阻挡振动传递至滑道上，从而保证了测试仪器平稳工作，提高对电子元件测试的精准度。

3、然而采用振动盘对电阻元件进行上料，由于电阻元件的体型相对较小，进而在采用振动对其进行上料时，极易将其振掉，同时由于在软连接带处缺少相对应的阻挡，进而进一步增大了电阻元件掉落的可能，从而增大了电阻元件在检测过程中的损耗，降低了装置的使用效果。

技术实现思路

1、本实用新型的目的在于至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提供一种电子元件测试进料装置，能够解决背景技术的问题。

2、为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种电子元件测试进料装置，包括工作台，所述工作台的表面固定连接有测试仪器，工作台的表面固定连接有截面呈凸形的聚料盒，聚料盒的表面开设有两个聚料槽，聚料槽的内部设置有两组进料机构，两组进料机构的结构均相同；

3、进料机构包括升降块，升降块的表面与聚料盒的内部滑动连接，聚料槽的内壁开设有贯穿聚料盒表面的排料口，测试仪器的表面固定连接有呈y形的料流框架，料流框架的两端分别与两个排料口相互连通。

4、优选的，所述升降块的上侧呈倾斜设置，且升降块的上侧为圆弧形。

5、优选的，所述升降块的表面固定连接有橡胶垫，橡胶垫的表面与聚料盒的内部滑动连接。

6、优选的，两个所述升降块的底部均固定连接有齿板，两个齿板的表面同样均与聚料盒的内部滑动连接，聚料盒的表面固定连接有电机，电机的输出端固定连接有摆动杆，摆动杆远离电机的一端转动连接有转轴，一个齿板的表面固定连接有固定框，转轴的表面与固定框的内壁滑动连接。

7、优选的，所述聚料盒的内部转动连接有转动杆，转动杆的表面固定连接有齿轮，齿轮位于两个齿板之间，且两个齿板均与齿轮的表面啮合连接。

8、优选的，两个所述聚料槽的内壁均呈相互倾斜状。

9、优选的，所述料流框架呈倾斜设置。

10、与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

11、(1)、该电子元件测试进料装置，通过进料机构的设置，使装置不再采用振动盘上料的方式进行进料，从而避免了子啊对电子元件进行输送时，较大的震动，将电子元件从软连接带上震掉的情况，从而降低了电子元件在测试过程中发生的损耗，同时不再采用振动盘上料，进而避免了较大噪音的产生，从而保证了测试车间的舒适性，提高了装置的使用效果，具有较高的推广价值。

12、(2)、该电子元件测试进料装置，通过橡胶垫的设置，能够对升降块与聚料盒之间的间隙进行填充，从而避免了电阻元件进入升降块与聚料盒之间的间隙，导致升降块在聚料盒中进行滑动时，将电阻元件破坏的情况，进而避免了电阻元件不必要的损坏，进而提高了装置的使用效果。

技术特征：

1.一种电子元件测试进料装置，包括工作台(1)，其特征在于：所述工作台(1)的表面固定连接有测试仪器(2)，工作台(1)的表面固定连接有截面呈凸形的聚料盒(4)，聚料盒(4)的表面开设有两个聚料槽(5)，聚料槽(5)的内部设置有两组进料机构，两组进料机构的结构均相同；

2.根据权利要求1所述的一种电子元件测试进料装置，其特征在于：所述升降块(7)的上侧呈倾斜设置，且升降块(7)的上侧为圆弧形。

3.根据权利要求1所述的一种电子元件测试进料装置，其特征在于：所述升降块(7)的表面固定连接有橡胶垫(15)，橡胶垫(15)的表面与聚料盒(4)的内部滑动连接。

4.根据权利要求1所述的一种电子元件测试进料装置，其特征在于：两个所述升降块(7)的底部均固定连接有齿板(9)，两个齿板(9)的表面同样均与聚料盒(4)的内部滑动连接，聚料盒(4)的表面固定连接有电机(8)，电机(8)的输出端固定连接有摆动杆(14)，摆动杆(14)远离电机(8)的一端转动连接有转轴(13)，一个齿板(9)的表面固定连接有固定框(12)，转轴(13)的表面与固定框(12)的内壁滑动连接。

5.根据权利要求4所述的一种电子元件测试进料装置，其特征在于：所述聚料盒(4)的内部转动连接有转动杆(10)，转动杆(10)的表面固定连接有齿轮(11)，齿轮(11)位于两个齿板(9)之间，且两个齿板(9)均与齿轮(11)的表面啮合连接。

6.根据权利要求1所述的一种电子元件测试进料装置，其特征在于：两个所述聚料槽(5)的内壁均呈相互倾斜状。

7.根据权利要求1所述的一种电子元件测试进料装置，其特征在于：所述料流框架(3)呈倾斜设置。

技术总结本技术公开了一种电子元件测试进料装置，涉及电子元件测试设备技术领域，该电子元件测试进料装置，包括工作台，所述工作台的表面固定连接有测试仪器，工作台的表面固定连接有截面呈凸形的聚料盒，聚料盒的表面开设有两个聚料槽，聚料槽的内部设置有两组进料机构，两组进料机构的结构均相同，通过进料机构的设置，使装置不再采用振动盘上料的方式进行进料，从而避免了子啊对电子元件进行输送时，较大的震动，将电子元件从软连接带上震掉的情况，从而降低了电子元件在测试过程中发生的损耗，同时不再采用振动盘上料，进而避免了较大噪音的产生，从而保证了测试车间的舒适性，提高了装置的使用效果，具有较高的推广价值。技术研发人员：韩勇,张磊,薛新义,段学威,李红山受保护的技术使用者：许昌钠日电子有限公司技术研发日：20231204技术公布日：2024/7/18