极限温度下辐射杂散测试装置的制作方法

本申请涉及电磁兼容，特别是涉及一种极限温度下辐射杂散测试装置。

背景技术：

1、辐射杂散测试是电磁兼容性测试的一部分，用于评估无线通信设备或发射设备在其工作频率范围外产生的非预期工作频率的电磁辐射，即杂散。辐射杂散测试是无线通信设备或发射设备必不可少的一项测试。

2、现有技术在对通讯产品进行辐射杂散测试时，如现有技术cn111010242a辐射杂散测试设备和系统、辐射杂散测试方法(公开日为2020年4月14日)，通过设置暗室本体以及内置在暗室本体内的旋转组件和多个接收天线，终端设备位于旋转组件上，旋转组件用于驱动终端设备进行旋转，每个接收天线用于接收终端设备在不同旋转角下发射的预设频段的射频信号；射频开关模块，分别与多个接收天线连接，用于选择导通任一接收天线所在的射频通路；频谱仪，与射频开关模块连接，用于对多个接收天线接收的多个射频信号进行频谱分析以获取终端设备的辐射杂散数据，可以测得终端设备在360度全方向的辐射杂散数据。

3、然而，现有技术中的方案仅仅适用于常温下(15-35℃)进行，随着技术的发展，需求的增多，在具体场景中，如汽车配件，汽车自动驾驶需采集信号以生成准确的行车路况，当汽车在极限温度(-40～70℃)下行驶，对于待测样品(汽车配件终端设备)在极限温度下辐射杂散测试并没有适配的方式。

4、因此，寻找适配的极限温度下辐射杂散测试装置，是本领域技术人员亟待解决的技术问题。

技术实现思路

1、基于此，为了解决现有技术中提到的难以测试极限温度下待测样品的辐射杂散的问题，有必要提出一种极限温度下辐射杂散测试装置，能够测试极限温度下的辐射杂散，且本申请提供的方案成本低，操作便捷。

2、在其中一种实现方式中，本申请提供一种极限温度下辐射杂散测试装置，包括：暗室；及架体组件，设置在所述暗室中；

3、旋转组件，设置在所述架体组件上，通过移动所述架体组件以移动所述旋转组件，所述旋转组件包括旋转部及支撑部，所述旋转部用于承托待测样品，当所述旋转部旋转时以带动放置在所述旋转部上的所述待测样品旋转；

4、保温箱，设置在所述架体组件上，所述旋转部嵌入所述保温箱内部，以使所述旋转部相对所述保温箱旋转；

5、温控组件，用于生成冷/热气并通过气管向所述保温箱输送冷/热气以调控所述保温箱内的温度；以使所述待测样品处于预设温度下；

6、接收天线，设置在所述暗室内，用于接收所述待测样品在所述预设温度下发射的射频信号；

7、射频开关组件，所述射频开关组件与所述接收天线电连接，用于导通所述接收天线的射频通路；

8、当所述待测样品处于所述预设温度下，通过所述旋转部使所述待测样品旋转360°且所述接收天线接收待测样品在旋转360°时发射的射频信号；

9、频谱仪，所述频谱仪与所述射频开关组件电连接，用于接收所述接收天线接收到的射频信号，并用于分析接收到的多个所述射频信号以得到所述待测样品的辐射杂散数据。

10、在其中一种实现方式中，极限温度下辐射杂散测试装置还包括：检测组件，用于检测所述待测样品的旋转角度以使得所述待测样品旋转一周360°。

11、在其中一种实现方式中，所述旋转部包括转台及转轴，所述转台与所述转轴可拆卸连接，所述保温箱的底壳开设有第一通孔，所述转轴贯穿所述第一通孔后所述转轴的一端伸入所述保温箱，伸入所述保温箱的所述转轴的一端与所述转台连接，所述转轴的另一端与所述支撑部连接。

12、在其中一种实现方式中，所述支撑部内设置有驱动源，所述驱动源用于驱动所述转轴旋转以使得所述待测样品旋转。

13、在其中一种实现方式中，所述转轴套设有托盘，所述托盘设置在所述保温箱外并靠近所述底壳，所述托盘朝向所述底壳一侧设置有容置槽，所述容置槽用于承接外壳凝水，所述外壳凝水为由于所述保温箱内的与所述保温箱外温度差所造成的外壳凝水，所述转台、所述转轴、所述托盘三者同轴设置。

14、在其中一种实现方式中，所述容置槽内填充有软质吸水件，所述软质吸水件的形状与所述容置槽适配，以使所述软质吸水件贴合所述容置槽内壁及贴合所述底壳的外部，所述软质吸水件用于吸收所述外壳凝水。

15、在其中一种实现方式中，所述转台的周侧与所述保温箱的侧壁之间存在第一间隙，所述转台的底部与所述底壳之间存在第二间隙，所述转轴贯穿所述第一通孔后所述转轴的外壁与所述底壳存在第三间隙，所述托盘的侧壁与所述底壳的之间存在第四间隙；当所述转轴转动时以带动所述转台及所述托盘旋转；

16、所述第一间隙处形成第一气控关口，所述第三间隙处形成第二气控关口，所述第四间隙处形成第三气控关口；

17、所述第一间隙、所述第二间隙及所述第三间隙贯通以形成气流通道；

18、所述第二气控关口及所述第三气控关口均与所述软质吸水件贴合，通过所述软质吸水件防止气流外泄。

19、在其中一种实现方式中，所述架体组件包括四根立杆、载物台、四个滑轮，所述立杆的一端与所述载物台连接，所述立杆的另一端与所述保温箱连接；

20、所述载物台用于承载所述支撑部以承载所述旋转组件，所述载物台的底部与所述滑轮连接。

21、在其中一种实现方式中，所述保温箱的侧壁上开设有第二通孔，所述第二通孔与所述气管适配，所述保温箱与所述温控组件通过所述第二通孔及所述气管连接以向所述保温箱输送冷/热气。

22、根据本申请提供的极限温度下辐射杂散测试装置，与现有技术相比，有益效果在于：根据本实施例提供的极限温度下辐射杂散测试装置，能够测试极限温度下的辐射杂散情况，且本申请提供的方案成本低，操作便捷。详细的，现有技术cn111010242a辐射杂散测试设备和系统、辐射杂散测试方法是在常温下(15-35℃)进行测试，随着毫米波雷达的应用场景越来越广泛，也就需要测试毫米波雷达在极限温度下的杂散情况，由于暗室体积较大，若直接通过温控组件去调控暗室的温度，耗能较高，成本高；若将待测样品放置到保温箱中再将保温箱放置到转台上旋转的话，由于保温箱与温控组件有管道及线路连接，转台旋转不便，为此，本实施例中将旋转组件放置在架体组件上，将保温箱设置在架体组件顶部，旋转组件中的旋转部嵌入保温箱中，旋转部可在保温箱中旋转以旋转待测样品并通过接收天线来接收待测样品在预设温度下发射的射频信号。

技术特征：

1.极限温度下辐射杂散测试装置，其特征在于，包括：暗室；及

2.根据权利要求1所述的极限温度下辐射杂散测试装置，其特征在于，还包括：检测组件，用于检测所述待测样品的旋转角度以使得所述待测样品旋转一周360°。

3.根据权利要求1所述的极限温度下辐射杂散测试装置，其特征在于，所述旋转部包括转台及转轴，所述转台与所述转轴可拆卸连接，所述保温箱的底壳开设有第一通孔，所述转轴贯穿所述第一通孔后所述转轴的一端伸入所述保温箱，伸入所述保温箱的所述转轴的一端与所述转台连接，所述转轴的另一端与所述支撑部连接。

4.根据权利要求3所述的极限温度下辐射杂散测试装置，其特征在于，所述支撑部内设置有驱动源，所述驱动源用于驱动所述转轴旋转以使得所述待测样品旋转。

5.根据权利要求3所述的极限温度下辐射杂散测试装置，其特征在于，所述转轴套设有托盘，所述托盘设置在所述保温箱外并靠近所述底壳，所述托盘朝向所述底壳一侧设置有容置槽，所述容置槽用于承接外壳凝水，所述外壳凝水为由于所述保温箱内的与所述保温箱外温度差所造成的外壳凝水，所述转台、所述转轴、所述托盘三者同轴设置。

6.根据权利要求5所述的极限温度下辐射杂散测试装置，其特征在于，所述容置槽内填充有软质吸水件，所述软质吸水件的形状与所述容置槽适配，以使所述软质吸水件贴合所述容置槽内壁及贴合所述底壳的外部，所述软质吸水件用于吸收所述外壳凝水。

7.根据权利要求6所述的极限温度下辐射杂散测试装置，其特征在于，所述转台的周侧与所述保温箱的侧壁之间存在第一间隙，所述转台的底部与所述底壳之间存在第二间隙，所述转轴贯穿所述第一通孔后所述转轴的外壁与所述底壳存在第三间隙，所述托盘的侧壁与所述底壳的之间存在第四间隙；当所述转轴转动时以带动所述转台及所述托盘旋转；

8.根据权利要求1所述的极限温度下辐射杂散测试装置，其特征在于，所述架体组件包括四根立杆、载物台、四个滑轮，所述立杆的一端与所述载物台连接，所述立杆的另一端与所述保温箱连接；

9.根据权利要求1所述的极限温度下辐射杂散测试装置，其特征在于，所述保温箱的侧壁上开设有第二通孔，所述第二通孔与所述气管适配，所述保温箱与所述温控组件通过所述第二通孔及所述气管连接以向所述保温箱输送冷/热气。

技术总结本申请涉及电磁兼容技术领域，特别是涉及一种极限温度下辐射杂散测试装置，包括暗室、架体组件、旋转组件、保温箱、温控组件、接收天线、射频开关组件、频谱仪；将旋转组件设置在架体组件上，架体组件上设置有保温箱，将旋转组件中的旋转部嵌入保温箱，放置在旋转部上的待测样品能够跟随旋转，通过温控组件调节保温箱内的温度，旋转部可在保温箱中旋转以旋转待测样品并通过接收天线来接收待测样品在预设温度下发射的射频信号。本申请提供的装置成本低，操作便捷。技术研发人员：张卫民,魏延全,廖建明,涂浪,叶鸿基,蔡苗苗受保护的技术使用者：深圳东昇射频技术有限公司技术研发日：技术公布日：2024/7/25