一种用于测量光学元件透过率的设备的制作方法

本技术属于光学元件检测，具体涉及一种用于测量光学元件透过率的设备。

背景技术：

1、光学透过率检测仪是检测各类平面光学元件的透光率的设备，是为满足生产光电产品的制程阶段的品质检验而出现的一种检测仪器。可用于棱镜、镀膜镜、胶合镜、以及滤光片等平面光学元件的检测。其通常包括有发光元件、被测器件、收光元件和检测装置，其中发光元件发出的光穿过被测器件后，被收光元件所接收，收光元件将接收的光进行光电转换后，将电信号送入到检测装置，检测装置根据收光元件接收的光量以及发光元件最初发出的光量确定被测器件的光透过率。加之现在的光学镜片通常需要进行镀膜，以改变镜片反射和透射等光学性能。

2、目前在光学透过率设备在对光学元件进行测量时，由于缺少可以对光学元件夹持的机构，导致在测量过程中因误触而导致光学元件发生偏移，从而透光的效率发生偏差。

技术实现思路

1、本实用新型要解决的技术问题是克服现有的缺陷，提供一种用于测量光学元件透过率的设备，以解决上述背景技术中提出的目前在光学透过率设备在对光学元件进行测量时，由于缺少可以对光学元件夹持的机构，导致在测量过程中因误触而导致光学元件发生偏移，从而透光的效率发生偏差的问题。

2、为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种用于测量光学元件透过率的设备，包括透过率设备本体，所述透过率设备本体内部的两侧均对称设置有滑槽，所述滑槽顶部内部滑动连接有滑块，所述滑块顶部固定连接有夹持块，所述滑块一侧固定连接有滑杆，所述滑杆一侧固定连接有限位板，所述滑杆外侧设置有弹簧，所述滑杆滑动连接于透过率设备本体的内部，所述透过率设备本体顶部一侧转动连接有转动手柄，所述转动手柄内部的上端设置有升降柱，所述升降柱一侧的上端固定连接有检测端，所述转动手柄内部一侧转动连接有转轴，所述转轴外侧的另一端固定连接有第一锥齿，所述转动手柄内部转动连接有螺杆，所述螺杆外侧的下端固定连接有第二锥齿，所述螺杆外侧的上端螺纹连接于升降柱的内部。

3、优选的，所述透过率设备本体一侧依次从左到右分别设置有显示屏、电源开关和控制按钮，所述透过率设备本体另一侧固定连接有接线端，所述透过率设备本体顶部固定连接有测试孔。

4、优选的，所述透过率设备本体底部四角处均固定连接有吸盘。

5、优选的，所述夹持块一侧固定连接有防滑垫。

6、优选的，所述弹簧一端固定连接于滑块的一侧，另一端固定连接于滑槽的内部一侧。

7、优选的，所述限位板一侧固定连接有把手。

8、优选的，所述转轴一端固定连接有转盘。

9、优选的，所述升降柱通过限位块与转动手柄滑动连接，所述第一锥齿的外侧和第二锥齿的外侧之间为啮合连接。

10、与现有技术相比，本实用新型提供了一种用于测量光学元件透过率的设备，具备以下有益效果：

11、1、本实用新型通过在测量光学元件透过率的设备顶部设有夹持块，从而在对光学元件进行透过率测量时，通过拉动透过率设备本体两端设置的把手，使夹持块在滑杆和把手的拉扯下，向两端相对的位置进行移动，然后便可将所需测量透过率的样本放置测试孔的顶部，松开把手后，夹持块和滑块便在滑杆的复位作用下向样本进行移动，即时便可将样本进行夹持固定，夹持块在夹持样本的一端设有防滑垫，防滑垫可以增加夹持过程中稳定性，从而有效的避免样本在测量过程中因误触而导致透光的效率发生偏差；

12、2、本实用新型通过设置转动手柄和升降柱，在测量样本透过率的设备使用时，通过转动转动手柄一侧设有的转盘，使得转轴一端设置的第一锥齿和螺杆外侧设有的第二锥齿之间进行啮合转动，升降柱便可以在转盘的转动下进行升降移动，进而便可对调整光学元件透过率测量的高度进行调节，以提高测量光学元件透过率的工作效率。

13、3、本实用新型通过设置吸盘，位于透过率设备本体底部设有吸盘，吸盘将吸附于工作台面，可以增加测量光学元件透过率的设备在使用期间的稳定性。

14、该装置中未涉及部分均与现有技术相同或可采用现有技术加以实现，本实用新型结构科学合理，使用安全方便，为人们提供了很大的帮助。

技术特征：

1.一种用于测量光学元件透过率的设备，包括透过率设备本体(1)，其特征在于：所述透过率设备本体(1)内部的两侧均对称设置有滑槽(6)，所述滑槽(6)顶部内部滑动连接有滑块(8)，所述滑块(8)顶部固定连接有夹持块(7)，所述滑块(8)一侧固定连接有滑杆(10)，所述滑杆(10)一侧固定连接有限位板(12)，所述滑杆(10)外侧设置有弹簧(11)，所述滑杆(10)滑动连接于透过率设备本体(1)的内部，所述透过率设备本体(1)顶部一侧转动连接有转动手柄(16)，所述转动手柄(16)内部的上端设置有升降柱(17)，所述升降柱(17)一侧的上端固定连接有检测端(18)，所述转动手柄(16)内部一侧转动连接有转轴(19)，所述转轴(19)外侧的另一端固定连接有第一锥齿(21)，所述转动手柄(16)内部转动连接有螺杆(22)，所述螺杆(22)外侧的下端固定连接有第二锥齿(23)，所述螺杆(22)外侧的上端螺纹连接于升降柱(17)的内部。

2.根据权利要求1所述的一种用于测量光学元件透过率的设备，其特征在于：所述透过率设备本体(1)一侧依次从左到右分别设置有显示屏(2)、电源开关(3)和控制按钮(4)，所述透过率设备本体(1)另一侧固定连接有接线端(14)，所述透过率设备本体(1)顶部固定连接有测试孔(15)。

3.根据权利要求1所述的一种用于测量光学元件透过率的设备，其特征在于：所述透过率设备本体(1)底部四角处均固定连接有吸盘(5)。

4.根据权利要求1所述的一种用于测量光学元件透过率的设备，其特征在于：所述夹持块(7)一侧固定连接有防滑垫(9)。

5.根据权利要求1所述的一种用于测量光学元件透过率的设备，其特征在于：所述弹簧(11)一端固定连接于滑块(8)的一侧，另一端固定连接于滑槽(6)的内部一侧。

6.根据权利要求1所述的一种用于测量光学元件透过率的设备，其特征在于：所述限位板(12)一侧固定连接有把手(13)。

7.根据权利要求1所述的一种用于测量光学元件透过率的设备，其特征在于：所述转轴(19)一端固定连接有转盘(20)。

8.根据权利要求1所述的一种用于测量光学元件透过率的设备，其特征在于：所述升降柱(17)通过限位块(24)与转动手柄(16)滑动连接，所述第一锥齿(21)的外侧和第二锥齿(23)的外侧之间为啮合连接。

技术总结本技术公开了一种用于测量光学元件透过率的设备，包括透过率设备本体，所述透过率设备本体内部的两侧均对称设置有滑槽，所述滑槽顶部内部滑动连接有滑块，所述滑块顶部固定连接有夹持块，所述滑块一侧固定连接有滑杆，所述滑杆一侧固定连接有限位板，所述滑杆外侧设置有弹簧，将所需测量透过率的样本放置测试孔的顶部，松开把手后，夹持块和滑块便在滑杆的复位作用下向样本进行移动，即时便可将样本进行夹持固定，夹持块在夹持样本的一端设有防滑垫，防滑垫可以增加夹持过程中稳定性，从而有效的避免样本在测量过程中因误触而导致透光的效率发生偏差。技术研发人员：于信,倪小龙,董喆,白素平,闫钰锋,董艾嘉,李雯钰受保护的技术使用者：长春光客科技有限公司技术研发日：20231020技术公布日：2024/7/25