一种超声信号缺陷检测方法、装置、系统以及存储介质与流程

本发明主要涉及缺陷检测，具体涉及一种超声信号缺陷检测方法、装置、系统以及存储介质。

背景技术：

1、目前，对于无损检测中超声的缺陷检测还比较单一，没有更进一步精确计算缺陷的长度，且在超声检测中超声波探头扫描区域的识别准确率也较低。现有技术通常只对无损检测中超声检测的缺陷位置数据进行检测，而无法更进一步的对超声检测中超声波探头扫描的区域进行判断，也无法更进一步的对缺陷长度进行计算。

技术实现思路

1、本发明所要解决的技术问题是针对现有技术的不足，提供一种超声信号缺陷检测方法、装置、系统以及存储介质。

2、本发明解决上述技术问题的技术方案如下：一种超声信号缺陷检测方法，包括如下步骤：

3、导入多个原始超声信号数据以及与各个所述原始超声信号数据对应的位置点二维坐标；

4、从所有所述原始超声信号数据中筛选出多个异常超声信号数据；

5、根据所有所述异常超声信号数据对应的位置点二维坐标从所有所述异常超声信号数据中筛选出多个缺陷超声信号数据；

6、对所有所述缺陷超声信号数据以及所有所述缺陷超声信号数据对应的位置点二维坐标进行缺陷长度分析，得到的缺陷长度作为超声信号缺陷检测结果。

7、本发明解决上述技术问题的另一技术方案如下：一种超声信号缺陷检测装置，包括：

8、导入模块，用于导入多个原始超声信号数据以及与各个所述原始超声信号数据对应的位置点二维坐标；

9、第一筛选模块，用于从所有所述原始超声信号数据中筛选出多个异常超声信号数据；

10、第二筛选模块，用于根据所有所述异常超声信号数据对应的位置点二维坐标从所有所述异常超声信号数据中筛选出多个缺陷超声信号数据；

11、检测结果获得模块，用于对所有所述缺陷超声信号数据以及所有所述缺陷超声信号数据对应的位置点二维坐标进行缺陷长度分析，得到的缺陷长度作为超声信号缺陷检测结果。

12、基于上述一种超声信号缺陷检测方法，本发明还提供一种超声信号缺陷检测系统。

13、本发明解决上述技术问题的另一技术方案如下：一种超声信号缺陷检测系统，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，当所述处理器执行所述计算机程序时，实现如上所述的超声信号缺陷检测方法。

14、基于上述一种超声信号缺陷检测方法，本发明还提供一种计算机可读存储介质。

15、本发明解决上述技术问题的另一技术方案如下：一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，当所述计算机程序被处理器执行时，实现如上所述的超声信号缺陷检测方法。

16、本发明的有益效果是：通过从原始超声信号数据中筛选出异常超声信号数据，根据位置点二维坐标从异常超声信号数据中筛选出缺陷超声信号数据，对缺陷超声信号数据以及位置点二维坐标的缺陷长度分析得到超声信号缺陷检测结果，能够精确的计算缺陷长度，提高了无损检测中超声信号检测的准确率，提高了缺陷检测的效率。

技术特征：

1.一种超声信号缺陷检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

2.根据权利要求1所述的超声信号缺陷检测方法，其特征在于，所述原始超声信号数据包括始波值、底波值以及反射波值，

3.根据权利要求1所述的超声信号缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所有所述异常超声信号数据对应的位置点二维坐标从所有所述异常超声信号数据中筛选出多个缺陷超声信号数据的过程包括：

4.根据权利要求1所述的超声信号缺陷检测方法，其特征在于，所述对所有所述缺陷超声信号数据以及所有所述缺陷超声信号数据对应的位置点二维坐标进行缺陷长度分析，得到的缺陷长度作为超声信号缺陷检测结果的过程包括：

5.根据权利要求4所述的超声信号缺陷检测方法，其特征在于，所述缺陷超声信号数据包括波形波峰所需时间以及工件底部声压值，

6.一种超声信号缺陷检测装置，其特征在于，包括：

7.根据权利要求6所述的超声信号缺陷检测装置，其特征在于，所述原始超声信号数据包括始波值、底波值以及反射波值，

8.根据权利要求6所述的超声信号缺陷检测装置，其特征在于，所述第二筛选模块具体用于：

9.一种超声信号缺陷检测系统，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，当所述处理器执行所述计算机程序时，实现如权利要求1至5任一项所述的超声信号缺陷检测方法。

10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，当所述计算机程序被处理器执行时，实现如权利要求1至5任一项所述的超声信号缺陷检测方法。

技术总结本发明提供一种超声信号缺陷检测方法、装置、系统以及存储介质，属于超声信号缺陷检测技术领域，方法包括：导入原始超声信号数据以及位置点二维坐标；从原始超声信号数据中筛选出异常超声信号数据；根据位置点二维坐标从异常超声信号数据中筛选出缺陷超声信号数据；对缺陷超声信号数据以及位置点二维坐标进行缺陷长度分析得到的缺陷长度作为超声信号缺陷检测结果。本发明能够精确的计算缺陷长度，提高了无损检测中超声信号检测的准确率，提高了缺陷检测的效率。技术研发人员：王维斌,杨玉锋,张强,冯文兴,戴联双,刘硕受保护的技术使用者：国家石油天然气管网集团有限公司技术研发日：技术公布日：2024/7/25