用于测试样品的球凹痕性能的技术的制作方法

背景技术：

1、球轴承(ball bearing)通常用于致动器组件中。例如，移动电话、便携计算机、数码相机、数码摄像机等中的相机模块，通常包括用于光学图像稳定(ois)的致动器组件，以减少由手抖动引起的分辨率损失或模糊。致动器组件通过响应于特定信号将透镜模块移动至目标位置来起作用。为了帮助确保透镜模块在移动期间的适当对准，许多致动器组件还包括有助于在期望方向上引导透镜模块的球轴承。球轴承通常由能够承受由相对较重的被移动部件施加在其上的力的坚固材料形成。致动器组件的其他部件由不同的材料形成，这些材料可能会受到与球轴承的相互作用的影响，例如，相机的透镜模块、壳体、导向杆等。不幸的是，致动器组件的球轴承可能导致损坏，例如，在这类其他部件的表面上的凹痕。这种损坏会导致噪音和影响性能，并缩短设备的使用寿命。因此，需要一种用于测试在致动器组件中使用的球轴承的性能特性的技术。

技术实现思路

1、根据本发明的一个实施方式，公开了一种球凹痕测试设备，其包括与触发器组件联接的致动器。触发器组件包括尖端，尖端包括第一端和相对的第二端，第一端限定圆角末端。尖端还包括触发杆，触发杆从尖端的第二端延伸至触发杆端部。

2、根据本发明的另一个实施方式，公开了一种用于测试样品的球凹痕性能的方法，其包括：将样品设置在测试设备的台上，并使包括具有圆角末端的尖端的触发器组件朝向样品移动，使得末端冲击样品一次或多次。

3、本发明的其他特征和方面在下面更详细地阐述。

技术特征：

1.一种球凹痕测试设备，包括与触发器组件联接的致动器，其中所述触发器组件包括尖端，所述尖端包括限定圆角末端的第一端和相对的第二端，并且其中所述尖端还包括触发杆，所述触发杆从所述尖端的所述第二端延伸至触发杆端部。

2.根据权利要求1所述的球凹痕测试设备，其中，所述设备还包括一个或多个配重，所述一个或多个配重能够可移除地附接至所述触发杆端部。

3.根据权利要求1所述的球凹痕测试设备，其中，所述圆角末端限定约5毫米或更小的曲率半径。

4.根据权利要求1所述的球凹痕测试设备，其中，所述圆角末端限定约500微米或更小的曲率半径。

5.根据权利要求1所述的球凹痕测试设备，其中，所述圆角末端包含金属、陶瓷、玻璃、聚合物组合物或其组合。

6.根据权利要求1所述的球凹痕测试设备，其中，所述尖端包括自所述圆角末端延伸的头部。

7.根据权利要求6所述的球凹痕测试设备，其中，所述头部具有圆锥形形状。

8.根据权利要求6所述的球凹痕测试设备，还包括自所述头部延伸的主体部。

9.根据权利要求1所述的球凹痕测试设备，其中，所述尖端能够可移除地附接至所述触发杆。

10.根据权利要求1所述的球凹痕测试设备，其中，控制系统被配置成通过所述致动器引发所述触发器组件移动。

11.根据权利要求1所述的球凹痕测试设备，其中，所述致动器被配置成使所述触发器组件远离台移动预定距离。

12.根据权利要求11所述的球凹痕测试设备，其中，所述致动器还被配置成在所述移动之后释放所述触发器组件，从而释放所述触发器组件。

13.根据权利要求1所述的球凹痕测试设备，还包括台致动器，所述台致动器被配置成在一个或多个方向上移动所述台。

14.一种用于测试样品的球凹痕性能的方法，所述方法包括：将样品设置在测试设备的台上，以及使包括具有圆角末端的尖端的触发器组件朝向所述样品移动，使得所述末端冲击所述样品一次或多次。

15.根据权利要求14所述的方法，还包括：在所述冲击之后检查所述样品的表面，以确定由所述冲击引起的所述表面中的任何凹痕的特性。

16.根据权利要求14所述的方法，其中，通过释放所述触发器组件使得所述触发器组件仅在重力的作用下朝向所述台自由下落，来引发所述触发器组件朝向所述台移动。

17.根据权利要求14所述的方法，还包括将一个或多个配重可移除地附接至所述触发器组件。

18.根据权利要求14所述的方法，其中，所述尖端冲击所述样品多次。

19.根据权利要求14所述的方法，其中，所述样品包含聚合物组合物。

20.根据权利要求19所述的方法，其中，所述聚合物组合物包含聚合物基质，所述聚合物基质包含热致性液晶聚合物。

技术总结提供了用于测试样品的球凹痕性能的方法。该方法包括：将样品设置在测试设备的台上，以及使包括具有圆角末端的尖端的触发器组件朝向样品移动，使得末端冲击样品一次或多次。致动器被配置成将触发器组件释放至预定位置。在移动之后，致动器被配置成释放触发器组件，使得触发器组件仅在重力的作用下朝向台自由下落。待测试的样品是聚合物组合物，聚合物组合物包含聚合物基质，聚合物基质包括热致性液晶聚合物。技术研发人员：金荣申,梁荣哲,崔修姬受保护的技术使用者：提克纳有限责任公司技术研发日：技术公布日：2024/7/25