一种稳定性好的内存芯片测试治具的制作方法

本技术涉及芯片测试领域，具体为一种稳定性好的内存芯片测试治具。

背景技术：

1、pcb即印制线路板，简称印制板，是电子工业的重要部件之一，几乎所有电子设备，只要有集成电路等电子元件的，为了使各个元件之间的电气互连，都需要使用印制板，印制线路板通常是由板体和焊接在板体上的若干内存芯片组成；

2、现有技术公告号为cn214409204u公开了一种内存芯片测试治具，包括芯片测试主板、用于固定芯片测试主板的主板固定夹具以及用于压紧待测内存芯片的若干芯片夹扣。芯片测试主板包括主板本体和设在主板本体一侧的金手指部，主板本体固定在主板固定夹具内，金手指部向外伸出主板固定夹具。主板本体的至少一面沿长度方向间隔设置有若干块芯片探针，主板固定夹具在每一块芯片探针对应的位置上开设有用于容置待测试内存芯片的容置槽。芯片夹扣的一端与主板固定夹具铰接，另一端通过锁扣件与主板固定夹具扣合连接等技术方案。本实用新型的治具可同时对多个内存芯片进行测试，空间设计合理，芯片夹扣打开时省力，操作简单，芯片夹扣关闭时扣合稳定，稳固性强，内存芯片的取出和放入方便等技术方案；

3、上述现有技术中有明显的有益效果，但仍存在不足：

4、现有技术中，在芯片夹扣合上时，锁扣片会进入锁扣槽内部，并通过末端卡钩与锁扣槽之间的配合实现卡接，但是，频繁的通过末端卡钩与锁扣槽扣合，可能会使得末端卡钩的尖角处被磨成圆角，从而导致末端卡钩无法有效与锁扣槽扣合的问题；

5、为此提出了一种稳定性好的内存芯片测试治具。

技术实现思路

1、针对现有技术的不足，本实用新型提供一种稳定性好的内存芯片测试治具，以至少解决背景技术提出的问题之一。

2、为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种稳定性好的内存芯片测试治具，包括主板，所述主板的上表面铰接有夹扣，所述夹扣的一侧铰接有扣片，所述主板的一侧开设有与扣片相对应的扣槽，所述扣片的一侧开设有台阶槽，所述台阶槽的内壁滑动连接有齿条，所述扣片的一侧开设有与台阶槽相连通的空腔，且空腔的内壁转动连接有与扣槽配合使用的卡接组件，所述扣片的一侧固定连接有用于限位齿条的限位组件。

3、优选地，所述卡接组件包括位于空腔内壁转动连接的齿轮，所述齿轮的两端均固定连接有连接柱，两个所述连接柱远离齿轮的一端均固定连接有阻挡杆，所述阻挡杆的一侧固定连接有连接杆，连接杆可以增加阻挡杆的稳定性，所述扣片的一侧开设有与空腔相连通的矩形槽，连接柱、阻挡杆、连接杆和齿轮，四者之间可以配合将阻挡杆以及连接杆向着矩形槽的方向，向空腔外部移动。

4、优选地，两个所述连接柱均位于靠近齿轮外壁的位置固定连接，该设计避免了卡接组件被驱动时，阻挡杆以及连接杆无法有效向外移动的情况。

5、优选地，两个所述阻挡杆均通过螺栓与连接杆固定连接，该设计可以使得使用者能够观察连接杆的使用情况以及在需要更换时，对连接杆进行更换。

6、优选地，所述限位组件包括位于扣片一侧固定连接的固定柱，所述固定柱的一侧开设有弧形槽，该设计可以避免限位杆在齿块的带动下，限位杆可能会被弧形槽卡位的情况，所述弧形槽的内壁转动连接有弹簧转轴，弹簧转轴可以使得限位杆被齿块带动时，可以更好的复位，所述弹簧转轴的一端固定连接有限位杆，所述限位杆的形状为弧形，所述齿条的一侧固定连接有多个齿块，齿块可以通过和限位杆以及弹簧转轴之间的配合，实现对齿条的限位，且限位杆的一端与齿块的一端相贴合，该设计可以使得限位杆更加有效的对齿块进行阻挡。

7、优选地，所述齿条的一端固定连接有把手，该设计可以使得使用者更加方便地移动齿条，且把手的外壁套设有橡胶套，该设计可以增加使用者使用齿条时地舒适感。

8、优选地，所述齿块的形状为直角梯形，该设计可以减少齿块在齿条带动下可能会对台阶槽造成磨损的情况。

9、与现有技术对比，本实用新型具备以下有益效果：

10、1、本实用新型通过设置卡接组件，在需要使用卡接组件时，将齿条沿着台阶槽的内部滑动一定距离，会驱动卡接组件，这时，可以通过扣槽、阻挡杆和移动杆，三者之间的配合实现对扣片的扣合。

11、2、本实用新型通过设置限位组件，当齿条沿着台阶槽的内部滑动一定距离时，限位块、弹簧转轴、齿块，三者之间通过配合可以实现对齿块以及齿条的限位。

技术特征：

1.一种稳定性好的内存芯片测试治具，包括主板(1)，所述主板(1)的上表面铰接有夹扣(2)，所述夹扣(2)的一侧铰接有扣片(3)，所述主板(1)的一侧开设有与扣片(3)相对应的扣槽(4)，其特征在于，所述扣片(3)的一侧开设有台阶槽(5)，所述台阶槽(5)的内壁滑动连接有齿条(6)，所述扣片(3)的一侧开设有与台阶槽(5)相连通的空腔(7)，且空腔(7)的内壁转动连接有与扣槽(4)配合使用的卡接组件，所述扣片(3)的一侧固定连接有用于限位齿条(6)的限位组件。

2.根据权利要求1所述的一种稳定性好的内存芯片测试治具，其特征在于，所述卡接组件包括位于空腔(7)内壁转动连接的齿轮(8)，所述齿轮(8)的两端均固定连接有连接柱(9)，两个所述连接柱(9)远离齿轮(8)的一端均固定连接有阻挡杆(10)，所述阻挡杆(10)的一侧固定连接有连接杆(11)，所述扣片(3)的一侧开设有与空腔(7)相连通的矩形槽(20)。

3.根据权利要求2所述的一种稳定性好的内存芯片测试治具，其特征在于，两个所述连接柱(9)均靠近齿轮(8)外壁的位置固定连接。

4.根据权利要求2所述的一种稳定性好的内存芯片测试治具，其特征在于，两个所述阻挡杆(10)均通过螺栓(19)与连接杆(11)固定连接。

5.根据权利要求1所述的一种稳定性好的内存芯片测试治具，其特征在于，所述限位组件包括位于扣片(3)一侧固定连接的固定柱(12)，所述固定柱(12)的一侧开设有弧形槽(13)，所述弧形槽(13)的内壁转动连接有弹簧转轴(14)，所述弹簧转轴的一端固定连接有限位杆(15)，所述限位杆(15)的形状为弧形，所述齿条(6)的一侧固定连接有多个齿块(16)，且限位杆(15)的一端与齿块(16)的一侧相贴合。

6.根据权利要求1所述的一种稳定性好的内存芯片测试治具，其特征在于，所述齿条(6)的一端固定连接有把手(17)，且把手(17)的外壁套设有橡胶套(18)。

7.根据权利要求5所述的一种稳定性好的内存芯片测试治具，其特征在于，所述齿块(16)的形状为直角梯形。

技术总结本技术涉及芯片测试领域，且公开了一种稳定性好的内存芯片测试治具，包括主板，主板的上表面铰接有夹扣，夹扣的一侧铰接有扣片，主板的一侧开设有与扣片相对应的扣槽，扣片的一侧开设有台阶槽，台阶槽的内壁滑动连接有齿条，扣片的一侧开设有与台阶槽相连通的空腔，且空腔的内壁转动连接有与扣槽配合使用的卡接组件，本技术通过设置卡接组件，在需要将阻挡杆以及连接杆移动至空腔外时，首先，将齿条沿着台阶孔的内部滑动，当齿条滑动一定距离时，齿条上的凸块会与齿轮的外壁接触并带动齿轮转动，从而使得齿轮带动连接柱移动，这时，连接柱会带动阻挡杆以及连接杆向着矩形槽的方向，移动至空腔外。技术研发人员：杨灿敏,刘云伟受保护的技术使用者：启芯半导体（深圳）有限公司技术研发日：20231207技术公布日：2024/7/25