一种提高大规模集成电路系统验证效率的方法与流程

本发明属于芯片验证，具体涉及一种提高大规模集成电路系统验证效率的方法。

背景技术：

1、随着工艺技术以及应用领域的不断发展，芯片的复杂度不断提高，相对应的，对于仿真验证工作的要求也在不断提高，不但需要进行仿真验证的功能点越来越繁复，而且验证周期的要求越来越严格。

2、现有的芯片设计流程中，分为前端设计(逻辑设计)和后端设计(物理设计)两个阶段。前端设计主要是以通过硬件描述语言(如verilog)来实现芯片的逻辑功能，而代码描述的正确性主要是通过对这些代码(或是由这些代码生成的网表)的仿真验证来实现的。在标准的仿真验证流程中，需要确保前端设计涉及到的逻辑功能的功能点都通过构造相应的仿真场景，证实前段设计逻辑功能的正确性。

3、随着芯片规模越来越大，芯片内集成的模块越来越多，验证用例的调试周期也越来越长，但实际中对芯片验证周期要求较短。asic(application specific intergratedcircuits，即专用集成电路)代码集成后，项目会根据方案的优化、硬件问题而不断的修改代码，尤其是时钟、管脚复用等共用部分，这部分跟产品需求关系很大，验证发现问题多、需求变化多，这样会导致asic硬件代码被频繁地修改，代码修改后对其他部分有没有影响、代码修改点是否正确，这些都是项目管理人员、开发人员想尽快知道的。而且，代码修改后每次都需要重新编译整个硬件代码，整个硬件代码包含的内容较多，包括dut(芯片设计asic代码)部分、验证平台部分和验证用例部分，特别是dut部分，硬件代码量大，编译时间长，每次都需要将所有硬件代码重新编译将导致硬件编译时间较长，影响大规模集成电路系统的验证效率。进而，上述这些需要验证人员对相关代码开展回归验证和针对性的功能点调试，如果验证人员频繁地去回归验证这些验证用例要花费很多时间，甚至有些修改会导致验证平台修改或者验证用例的调整，需要每个验证同事去了解修改点才能进行相关修改，这些工作会占用系统验证人员的大量时间，系统验证整体进度会大大延迟。而且，经常性地打断验证人员调试用例的进度去做这些回归和调试，对整体的验证进度影响很大，如果不去开展相关工作，管理人员、方案人员和开发人员无法知道新修改内容是否有问题、是否需要调整。

技术实现思路

1、本发明的目的在于提供一种提高大规模集成电路系统验证效率的方法，用以解决在代码修改后重新编译所有硬件代码使得编译时间长从而导致电路系统芯片验证进度慢的问题。

2、为解决上述技术问题，本发明提供了一种提高大规模集成电路系统验证效率的方法，在验证用例调试通过后对其进行回归验证，回归验证过程中第一次编译时对dut部分、以及验证平台和验证用例部分的硬件代码均进行编译，从第二次编译开始的后续编译过程仅对验证平台和验证用例部分的硬件代码进行编译。

3、进一步地，所述验证平台满足的条件包括如下条件中的至少一个条件：

4、条件一：验证平台的公共文件中定义有公共内容，所述公共内容包括系统中每个模块基地址、中断号和dma通道号；

5、条件二：验证平台提供有公用函数，所述公用函数包括打印函数、用例功能正确函数、用例功能错误函数、用例运行结束函数、dma相关函数和中断相关函数；

6、条件三：验证平台中设置有超时机制，所述超时机制用于在验证用例运行时间超过设定超时时间后强制关闭运行该验证用例的程序。

7、进一步地，所述验证用例满足的条件包括如下条件中的至少一个条件：

8、条件一：验证用例要调用验证平台的公共文件中所定义的公共内容；

9、条件二：验证用例中加入有判断机制，所述判断机制用于对验证用例的回归验证结果进行判断，且对验证结果不通过的错误结果进行分类；

10、条件三：验证用例中也设置有超时机制，且验证用例中超时机制设置的超时时间会覆盖验证平台中超时机制设置的超时时间。

11、进一步地，回归验证过程中，对验证用例进行仿真并对仿真结果进行仿真波形展示，若仿真结果表示存在错误则重启动该验证用例的仿真并开启下载波形，否则继续对其他验证用例进行仿真以及仿真结果的仿真波形展示。

12、进一步地，调试验证用例和回归验证验证用例在不同的服务器上进行。

13、进一步地，若进行回归验证过程中出现运行错误，则对运行错误的原因进行分析，若原因在于验证用例本身则需对验证用例进行修改，若原因在于硬件代码则需对硬件代码进行修改。

14、进一步地，按照设定的汇总周期将验证用例的回归验证结果进行汇总，并以表格的形式进行展示。

15、进一步地，以并行方式对所有调试通过的验证用例进行回归验证。

16、进一步地，对进行回归验证的服务器的运行状态进行监控，根据服务器运行状态来增加或减少进行并行的进程个数。

17、进一步地，在调试验证用例过程中若发现硬件代码存在问题，则根据问题的严重程度选择是否切换硬件代码版本：若问题较为严重则切换硬件代码版本至最新版本，否则继续使用原本硬件代码版本。

18、其有益效果为：本发明为改进型发明创造，本发明在针对调试通过的验证用例进行回归验证的过程中，不再如现有技术一般每次都需要对所有的硬件代码进行重新编译，而是考虑到硬件代码中的dut部分是相同的，且代码量较大，所以从第二次编译开始，后续编译过程不再对dut部分进行编译，仅对验证平台和验证用例部分的硬件代码重新进行编译，以大大缩短硬件代码编译时间，提升芯片验证进度，缩短验证周期。

技术特征：

1.一种提高大规模集成电路系统验证效率的方法，其特征在于，在验证用例调试通过后对其进行回归验证，回归验证过程中第一次编译时对dut部分、以及验证平台和验证用例部分的硬件代码均进行编译，从第二次编译开始的后续编译过程仅对验证平台和验证用例部分的硬件代码进行编译。

2.根据权利要求1所述的提高大规模集成电路系统验证效率的方法，其特征在于，所述验证平台满足的条件包括如下条件中的至少一个条件：

3.根据权利要求2所述的提高大规模集成电路系统验证效率的方法，其特征在于，所述验证用例满足的条件包括如下条件中的至少一个条件：

4.根据权利要求1所述的提高大规模集成电路系统验证效率的方法，其特征在于，回归验证过程中，对验证用例进行仿真并对仿真结果进行仿真波形展示，若仿真结果表示存在错误则重启动该验证用例的仿真并开启下载波形，否则继续对其他验证用例进行仿真以及仿真结果的仿真波形展示。

5.根据权利要求1所述的提高大规模集成电路系统验证效率的方法，其特征在于，调试验证用例和回归验证验证用例在不同的服务器上进行。

6.根据权利要求1所述的提高大规模集成电路系统验证效率的方法，其特征在于，若进行回归验证过程中出现运行错误，则对运行错误的原因进行分析，若原因在于验证用例本身则需对验证用例进行修改，若原因在于硬件代码则需对硬件代码进行修改。

7.根据权利要求1所述的提高大规模集成电路系统验证效率的方法，其特征在于，按照设定的汇总周期将验证用例的回归验证结果进行汇总，并以表格的形式进行展示。

8.根据权利要求1所述的提高大规模集成电路系统验证效率的方法，其特征在于，以并行方式对所有调试通过的验证用例进行回归验证。

9.根据权利要求8所述的提高大规模集成电路系统验证效率的方法，其特征在于，对进行回归验证的服务器的运行状态进行监控，根据服务器运行状态来增加或减少进行并行的进程个数。

10.根据权利要求1～9任一项所述的提高大规模集成电路系统验证效率的方法，其特征在于，在调试验证用例过程中若发现硬件代码存在问题，则根据问题的严重程度选择是否切换硬件代码版本：若问题较为严重则切换硬件代码版本至最新版本，否则继续使用原本硬件代码版本。

技术总结本发明属于芯片仿真验证技术领域，具体涉及一种提高大规模集成电路系统验证效率的方法。本发明在验证用例调试通过后对其进行回归验证，回归验证过程中第一次编译时对DUT部分、以及验证平台和验证用例部分的硬件代码均进行编译，从第二次编译开始的后续编译过程仅对验证平台和验证用例部分的硬件代码进行编译。本发明可以大大缩短硬件代码编译时间，提升芯片验证进度，缩短验证周期。技术研发人员：杨兴坤,武小强受保护的技术使用者：深圳智微电子科技股份有限公司技术研发日：技术公布日：2024/7/29