一种闪存性能的检测方法、装置、设备及介质与流程

本技术涉及闪存，尤其是一种闪存性能的检测方法、装置、设备及介质。

背景技术：

1、闪存是一种非易失性存储器，它可以将数据存储在晶体管中，一旦存储在晶体管中，即使电源关闭，数据仍然会保留。闪存的应用比较广泛，通常用于移动设备、存储卡、usb闪存驱动器、ssd和嵌入式系统等领域。nand flash闪存是一种类型的闪存，它使用nand逻辑门实现数据存储和擦除，nand flash闪存通常用于需要高容量存储的设备，例如usb闪存驱动器和ssd。

2、闪存在使用过程中可能会受到多种因素的影响，例如磨损、温度、电压等，这些因素可能会导致闪存性能的变化。此外，闪存的生产过程中也可能会存在一些问题，例如芯片质量、生产工艺等，这些问题可能会影响闪存的性能。因此，为了保证闪存的性能和可靠性，需要对闪存进行性能检测，性能检测可以帮助了解闪存的相关指标，从而确保闪存的正常工作和数据的安全性。

3、相关技术中，在对闪存进行性能检测时，往往关注的只是其数据处理时效性方面的情况，对于数据准确性方面分析较少；且并没有考虑到闪存实际工作环境、场景的复杂性，检测结果的参考价值较低，难以得到有效、通用的信息。

4、综上，相关技术中存在的问题亟需得到解决。

技术实现思路

1、本技术的目的在于至少一定程度上解决相关技术中存在的技术问题之一。

2、为此，本技术实施例的一个目的在于提供一种闪存性能的检测方法。

3、本技术实施例的另一个目的在于提供闪存性能的检测装置。

4、为了达到上述技术目的，本技术实施例所采取的技术方案包括：

5、第一方面，本技术实施例提供了一种闪存性能的检测方法，包括以下步骤：

6、获取针对待测闪存产品设置的场景信息；所述场景信息用于限定进行检测时所使用的测试场景；

7、根据所述场景信息，在多个所述测试场景下对所述待测闪存产品进行测试，得到每个所述测试场景下对应的第一错误比特数；

8、根据对应的测试场景，将所述第一错误比特数和预先设置的错误比特门限值进行比较；

9、根据比较结果，确定所述待测闪存产品在各个所述测试场景下对应的性能检测结果。

10、另外，根据本技术上述实施例的闪存性能的检测方法，还可以具有以下附加的技术特征：

11、进一步地，在本技术的一个实施例中，所述测试场景包括高温写低温读场景、低温写高温读场景、高温写高温读场景、低温写低温读场景、数据保持场景、读干扰场景和回流焊场景。

12、进一步地，在本技术的一个实施例中，所述高温写低温读场景、所述低温写高温读场景、所述高温写高温读场景、所述低温写低温读场景中，高温环境对应的温度范围为70至90摄氏度，低温环境对应的温度范围为-30至-10摄氏度。

13、进一步地，在本技术的一个实施例中，所述根据比较结果，确定所述待测闪存产品在各个所述测试场景下对应的性能检测结果，包括：

14、若所述第一错误比特数大于或者等于所述错误比特门限值，则确定所述待测闪存产品在测试场景下对应的性能检测结果为存在性能问题；

15、或者，若所述第一错误比特数小于所述错误比特门限值，则确定所述待测闪存产品在测试场景下对应的性能检测结果为不存在性能问题。

16、进一步地，在本技术的一个实施例中，所述错误比特门限值通过以下步骤设置：

17、获取通过实验测定的目标纠错裕度参数以及所述待测闪存产品对应的纠错能力参数；

18、根据所述纠错能力参数和所述目标纠错裕度参数的差值，计算得到错误比特门限值。

19、进一步地，在本技术的一个实施例中，所述目标纠错裕度参数通过以下步骤得到：

20、获取批量的样本闪存产品以及所述样本闪存产品对应的性能标签，所述性能标签用于表征所述样本闪存产品为良品或者所述样本闪存产品为不良品；

21、在给定的测试场景下，对各个所述样本闪存产品进行测试，得到每个所述样本闪存产品对应的第二错误比特数；

22、初始化纠错裕度参数，根据所述纠错裕度参数，确定各个所述样本闪存产品对应的性能预测结果；所述性能预测结果用于表征预测的所述样本闪存产品为良品或者所述样本闪存产品为不良品；

23、根据所述性能预测结果和所述性能标签的差异，对所述纠错裕度参数进行更新，并返回所述根据所述纠错裕度参数，确定各个所述样本闪存产品对应的性能预测结果的步骤，直至所述性能预测结果和所述性能标签之间的差异情况满足预定要求，得到目标纠错裕度参数。

24、进一步地，在本技术的一个实施例中，所述根据所述性能预测结果和所述性能标签的差异，对所述纠错裕度参数进行更新，包括：

25、若多个所述样本闪存产品对应的性能标签为良品且性能预测结果为不良品，则提高所述纠错裕度参数；

26、或者，若多个所述样本闪存产品对应的性能标签为不良品且性能预测结果为良品，则降低所述纠错裕度参数。

27、第二方面，本技术实施例提供了一种闪存性能的检测装置，包括：

28、获取单元，用于获取针对待测闪存产品设置的场景信息；所述场景信息用于限定进行检测时所使用的测试场景；

29、测试单元，用于根据所述场景信息，在多个所述测试场景下对所述待测闪存产品进行测试，得到每个所述测试场景下对应的第一错误比特数；

30、比较单元，用于根据对应的测试场景，将所述第一错误比特数和预先设置的错误比特门限值进行比较；

31、处理单元，用于根据比较结果，确定所述待测闪存产品在各个所述测试场景下对应的性能检测结果。

32、第三方面，本技术实施例提供了一种电子设备，包括：

33、至少一个处理器；

34、至少一个存储器，用于存储至少一个程序；

35、当所述至少一个程序被所述至少一个处理器执行时，使得所述至少一个处理器实现第一方面所述的闪存性能的检测方法。

36、第四方面，本技术实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其中存储有处理器可执行的程序，所述处理器可执行的程序在由处理器执行时用于实现第一方面所述的闪存性能的检测方法。

37、本技术的优点和有益效果将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本技术的实践了解到：

38、本技术实施例中提供一种闪存性能的检测方法、装置、设备及介质，获取针对待测闪存产品设置的场景信息；所述场景信息用于限定进行检测时所使用的测试场景；根据所述场景信息，在多个所述测试场景下对所述待测闪存产品进行测试，得到每个所述测试场景下对应的第一错误比特数；根据对应的测试场景，将所述第一错误比特数和预先设置的错误比特门限值进行比较；根据比较结果，确定所述待测闪存产品在各个所述测试场景下对应的性能检测结果。本技术的技术方案能够有效实现对闪存产品在各类应用场景下保持数据准确率的性能检测，有利于方便用户选用合适的闪存产品，助力闪存产品的研发和迭代，适用于各类应用场景，方法的通用性较好。