一种寄存器的测试方法、装置、计算设备及存储介质与流程

本说明书涉及计算机应用，具体地说，涉及计算机应用下的存储器测试技术，更具体地说，涉及一种寄存器的测试方法、装置、计算设备及存储介质。

背景技术：

1、寄存器在片上系统(system on chip，soc)等系统中起着重要的作用。寄存器是一种高速的存储单元，用于暂时存储和访问数据，寄存器具有极快的读写速度，可以提供高效的数据访问和处理能力。

2、综上，寄存器处于正常状态是保障片上系统能够正常、高效运行的关键。因此，有必要提供一种寄存器的测试方法，以实现对寄存器的准确测试。

技术实现思路

1、本说明书实施例提供了一种寄存器的测试方法、装置、计算设备及存储介质，通过外部控制器、微控制器和dft扫描链的数据链路，对dft扫描链进行测试并读取测试值，并基于测试值确定异常的寄存器，实现了在对dft扫描链进行测试时，对异常寄存器进行定位的目的。

2、为实现上述技术目的，本说明书实施例提供了如下技术方案：

3、第一方面，本说明书的一个实施方式提供一种寄存器的测试方法，应用于外部控制器，所述外部控制器与待测系统建立有通信连接，所述待测系统包括微控制器和设计可测试性dft扫描链，所述微控制器与所述dft扫描链建立有通信连接，所述dft扫描链包括多个依次串接的寄存器，所述寄存器的测试方法包括：

4、响应于测试操作，向所述微控制器发送携带有测试信号的配置指令；所述配置指令，用于配置所述微控制器处于链扫描模式，指示所述微控制器向所述dft扫描链发送所述测试信号，读取各所述寄存器的测试值并返回；所述测试值为所述寄存器在接收所述测试信号后的寄存器值；

5、接收所述dft扫描链中各所述寄存器的测试值，根据接收到的所述测试值，确定异常的寄存器。

6、在本实施方式中，所述寄存器的测试方法通过微控制器向所述dft扫描链发送所述测试信号，读取各所述寄存器的测试值并返回，并根据接收到的所述测试值，确定异常的寄存器，实现了在对dft扫描链进行测试的过程中，确定异常寄存器的目的，有利于异常寄存器的定位与修复。在硅后问题分析时，也可以通过接收到的测试值帮助问题定位。

7、在一些实施方式中，所述配置指令具体用于配置所述微控制器处于链扫描模式，指示所述微控制器按照所述寄存器的顺序信息，依次向所述dft扫描链中的寄存器发送所述测试信号，并按照所述寄存器的顺序信息，依次读取所述dft扫描链中的寄存器的测试值；

8、所述顺序信息包括所述寄存器在所述dft扫描链中的串接顺序。

9、以dft扫描链131中包括四个依次串接的寄存器为例，这四个寄存器按照串接先后顺序分别为寄存器0、寄存器1、寄存器2和寄存器3；那么在测试信息为“0000”时，每位测试信息按照顺序依次输入给寄存器0、1、2、3，在读取测试值时，也按照顺序依次读取寄存器0、1、2、3的测试值，如此，可以使得测试信息的每位数据与测试值的每位数据一一对应，有利于简化根据测试值确定异常存储器的过程。

10、在一些实施方式中，所述接收所述dft扫描链中各所述寄存器的测试值，根据接收到的所述测试值，确定异常的寄存器包括：

11、接收测试值向量，所述测试值向量包括按照所述顺序信息排列的所述测试值；

12、根据所述测试值向量中，异常测试值在所述测试值向量中的位置，确定异常的寄存器。

13、通过该方法确定异常测试值，进而确定异常的寄存器具有简便、易行的特点。

14、在一些实施方式中，所述测试值向量包括第一向量和第二向量；所述测试信号包括初始化信号和第一信号；所述初始化信号包括n个第一值数据，所述第一信号包括n个第二值数据；所述第一值数据与所述第二值数据不同；n等于所述dft扫描链中的寄存器数量；

15、所述配置指令具体用于，配置所述微控制器处于链扫描模式，按照所述寄存器的顺序信息，依次将所述初始化信号中的n个第一值数据写入所述dft扫描链中的寄存器，并按照所述寄存器的顺序信息，依次读取所述dft扫描链中的寄存器的测试值，以获得所述第一向量；所述第一向量中，取值为第二值的测试值为所述异常测试值；

16、按照所述寄存器的顺序信息，依次将所述第一信号中的n个第二值数据写入所述dft扫描链中的寄存器，并按照所述寄存器的顺序信息，依次读取所述dft扫描链中的寄存器的测试值，以获得所述第二向量；所述第二向量中，取值为第一值的测试值为所述异常测试值。

17、在本实施方式中，将初始化信号发送给dft扫描链131的目的是将dft扫描链131中的各寄存器的值进行初始化，以使dft扫描链131中的值为确定的已知值。之后对dft扫描链131进行第一次读取，以获得第一向量，根据第一向量可以进行一次异常测试值的确定。

18、之后，将第一信号输入给dft扫描链，并进行第二次读取获得第二向量，根据第二向量可以进行第二次异常测试值的确定，通过两次异常测试值的确定，可以避免单次链扫描可能造成的测试误差。

19、在一些实施方式中，所述待测系统包括多个硬件模块，每个所述硬件模块中包括一个所述dft扫描链，所述dft扫描链包括多个dft扫描子链，多个所述dft扫描子链依次串接。

20、在本实施方式中，通过将一个硬件模块中的多个dft扫描子链串接为一个长链(即dft扫描链)，可以在一次链扫描测试过程中对多个dft扫描子链进行测试，有利于简化寄存器的测试方法，同时也可减少对微控制器的资源占用，无需要求微控制器针对每个dft扫描子链都发送一次第二配置指令。

21、在一些实施方式中，所述配置指令还用于，配置目标dft扫描链进入测试模式；所述目标dft扫描链为多个所述dft扫描链中的一个；

22、所述配置指令指示所述微控制器向所述dft扫描链发送所述测试信号，读取各所述寄存器的测试值并返回具体用于：指示所述微控制器向所述目标dft扫描链发送所述测试信号，读取所述目标dft扫描链中各所述寄存器的测试值并返回。

23、在本实施方式中，通过将多个dft扫描链中的一个作为目标dft扫描链，可以满足在对目标dft扫描链进行测试时，其他dft扫描链中的值不变的测试需求，保证了链扫描测试的正常进行。

24、第二方面，本说明书的一个实施方式提供一种寄存器的测试装置，应用于外部控制器，所述外部控制器与待测系统建立有通信连接，所述待测系统包括微控制器和设计可测试性dft扫描链，所述微控制器与所述dft扫描链建立有通信连接，所述dft扫描链包括多个依次串接的寄存器，所述寄存器的测试方法包括：

25、指令发送模块，用于响应于测试操作，向所述微控制器发送携带有测试信号的配置指令；所述配置指令，用于配置所述微控制器处于链扫描模式，指示所述微控制器向所述dft扫描链发送所述测试信号，读取各所述寄存器的测试值并返回；所述测试值为所述寄存器在接收所述测试信号后的寄存器值；

26、寄存器确定模块，用于接收所述dft扫描链中各所述寄存器的测试值，根据接收到的所述测试值，确定异常的寄存器。

27、第三方面，本说明书实施例提供了一种电子设备，包括：外部控制器和待测系统，所述外部控制器与所述待测系统建立有通信连接，所述待测系统包括微控制器和dft扫描链，所述微控制器与所述dft扫描链建立有通信连接，所述dft扫描链包括多个依次串接的寄存器；其中，

28、所述外部控制器被配置为：响应于测试操作，向所述微控制器发送携带有测试信号的配置指令；所述配置指令，用于配置所述微控制器处于链扫描模式，指示所述微控制器向所述dft扫描链发送所述测试信号，读取各所述寄存器的测试值并返回；所述测试值为所述寄存器在接收所述测试信号后的寄存器值，接收所述dft扫描链中各所述寄存器的测试值，根据接收到的所述测试值，确定异常的寄存器。

29、在一些实施方式中，所述外部控制器与所述微控制器通过联合测试行为组织jtag总线连接。

30、在一些实施方式中，所述配置指令具体用于指示所述微控制器按照所述寄存器的顺序信息，依次向所述dft扫描链中的寄存器发送所述测试信号，并按照所述寄存器的顺序信息，依次读取所述dft扫描链中的寄存器的测试值；

31、所述顺序信息包括所述寄存器在所述dft扫描链中的串接顺序。

32、在一些实施方式中，所述外部控制器接收所述dft扫描链中各所述寄存器的测试值，根据接收到的所述测试值，确定异常的寄存器具体用于：

33、接收测试值向量，所述测试值向量包括按照所述顺序信息排列的所述测试值；

34、根据所述测试值向量中，异常测试值在所述测试值向量中的位置，确定异常的寄存器。

35、在一些实施方式中，所述测试值向量包括第一向量和第二向量；所述测试信号包括初始化信号和第一信号；所述初始化信号包括n个第一值数据，所述第一信号包括n个第二值数据；所述第一值数据与所述第二值数据不同；n等于所述dft扫描链中的寄存器数量；

36、所述配置指令具体用于，配置所述微控制器处于链扫描模式，按照所述寄存器的顺序信息，依次将所述初始化信号中的n个第一值数据写入所述dft扫描链中的寄存器，并按照所述寄存器的顺序信息，依次读取所述dft扫描链中的寄存器的测试值，以获得所述第一向量；所述第一向量中，取值为第二值的测试值为所述异常测试值；

37、按照所述寄存器的顺序信息，依次将所述第一信号中的n个第二值数据写入所述dft扫描链中的寄存器，并按照所述寄存器的顺序信息，依次读取所述dft扫描链中的寄存器的测试值，以获得所述第二向量；所述第二向量中，取值为第一值的测试值为所述异常测试值。

38、第四方面，本说明书实施例提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器运行时，实现如上述的寄存器的测试方法。

39、第五方面，本说明书实施例提供了一种计算机程序产品或计算机程序，所述计算机程序产品包括计算机程序，所述计算机程序存储在计算机可读存储介质中；所述计算机设备的处理器从所述计算机可读存储介质读取所述计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述的寄存器的测试方法的步骤。

40、从上述技术方案可以看出，本说明书实施例提供的寄存器的测试方法通过外部控制器向所述微控制器发送携带有测试信号的配置指令，指示微控制器向所述dft扫描链发送所述测试信号，读取各所述寄存器的测试值并返回，并根据接收到的所述测试值，确定异常的寄存器，实现了在对dft扫描链进行测试的过程中，确定异常寄存器的目的，有利于异常寄存器的定位与修复。