一种存储芯片测试装置的制作方法

本技术涉及存储芯片测试设备，具体为一种存储芯片测试装置。

背景技术：

1、存储芯片是嵌入式系统芯片的概念在存储行业的具体应用，因此无论是还是存储芯片都是通过在单一芯片中嵌入软件，实现多功能和高性能，以及对多种协议、多种硬件和不同应用的支持，在存储芯片的生产完成后，需要经过测试装置检测存储芯片能否正常使用。

2、目前的，在存储芯片测试装置的使用过程中，由于现有的存储芯片测试装置的结构简单，在存储芯片卡入存储芯片测试装置内后不便于取出，使得存储芯片测试耗时长，降低了存储芯片测试装置的使用效率，同时存储芯片属于电子产品，而存储芯片测试装置不便于对工作环境进行除尘，导致存储芯片测试装置中的重要零部件易粘附灰尘，不便于使用，为此我们提出了一种存储芯片测试装置。

技术实现思路

1、本实用新型的目的在于提供一种存储芯片测试装置，以解决上述背景技术中提出了现有的存储芯片测试装置的结构简单，在存储芯片卡入存储芯片测试装置内后不便于取出，使得存储芯片测试耗时长，降低了存储芯片测试装置的使用效率，同时存储芯片属于电子产品，而存储芯片测试装置不便于对工作环境进行除尘，导致存储芯片测试装置中的重要零部件易粘附灰尘，不便于使用的问题。

2、为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种存储芯片测试装置，包括底座、凹槽、壳体和气缸，所述凹槽开在所述底座的顶部中间，所述壳体固定连接在所述底座的顶部，所述气缸固定连接在所述壳体的顶部中间，且所述气缸的输出端贯穿所述壳体的顶部中间，并延伸至所述壳体的内腔，所述底座的底部左右两侧固定连接有垫板，所述底座的内腔底部右侧固定连接有第一箱体，所述第一箱体的内侧壁中间之间固定连接有过滤组块，所述第一箱体的右侧壁上侧插接有传输管，且所述传输管贯穿所述底座的内腔顶部右侧，并延伸至所述壳体的内腔，所述传输管的末端固定连接有扩展罩，且所述扩展罩固定连接有在所述壳体的内腔右侧壁，所述底座的内腔底部中间固定连接有抽风机，且所述抽风机的输出端插接有第一导管，且所述第一导管插接在所述第一箱体的左侧壁下侧，所述抽风机的输入端插接有第二导管，且所述第二导管插接在所述底座的内腔底部中间，所述凹槽的内腔底部固定连接有第一直线电机，所述第一直线电机的输出端固定连接有支撑板，所述支撑板的顶部左侧固定连接有纳物台，所述支撑板的顶部右侧固定连接有测试装置本体，所述壳体的前侧壁左下侧铰接有感应门，所述气缸的输出端固定连接有第二直线电机，所述第二直线电机的输出端固定连接有第二箱体，所述第二箱体的底部中间固定连接有压块，所述压块的底部开有安装槽，所述安装槽的内腔顶部固定连接有真空吸盘，所述第二箱体的内腔底部右侧固定连接有真空泵，所述真空泵的输出端插接有连接管，且所述连接管贯穿所述第二箱体的内腔底部中间和所述压块的顶部中间之间，并插接在所述真空吸盘的连接端。

3、作为上述技术方案的进一步描述：

4、所述底座的内腔底部左侧固定连接有独立电池，所述独立电池为锂电池。

5、作为上述技术方案的进一步描述：

6、所述壳体的左侧壁开有通孔，所述通孔的内侧壁左右两侧固定连接有防尘网。

7、作为上述技术方案的进一步描述：

8、所述壳体的前侧壁左上侧镶嵌有观察窗，所述观察窗采用钢化玻璃材质制成。

9、作为上述技术方案的进一步描述：

10、所述壳体的前侧壁右下侧固定连接有控制面板，所述控制面板与抽风机、第一直线电机、测试装置本体、感应门、第二直线电机和真空泵电性连接。

11、作为上述技术方案的进一步描述：

12、所述压块的底部固定连接有缓冲垫，所述缓冲垫采用硅胶材质制成。

13、与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

14、1、该存储芯片测试装置，通过设有的气缸带动第二箱体向下移动，驱使压块接触测试装置本体中的存储芯片，然后通过真空泵配合连接管驱使真空吸盘对存储芯片吸附，并通过第二直线电机带动第二箱体向左移动至纳物台的上方，驱使存储芯片能够放置在纳物台上，接着通过第一直线电机带动支撑板通过感应门移动出壳体外，使得存储芯片测试装置在存储芯片卡入存储芯片测试装置内后便于取出，缩短了存储芯片测试时长，提高了存储芯片测试装置的使用效率。

15、2、该存储芯片测试装置，通过设有的壳体对测试装置本体的上部空间进行覆盖，驱使测试装置本体处于密封空间中，然后通过抽风机配合第一导管抽取第一箱体内部空气，并配合传输管驱使扩展罩引导壳体内部的空气进入第一箱体中的过滤组块进行净化，完成除尘，使得存储芯片测试装置便于对工作环境进行除尘，避免了存储芯片测试装置中的重要零部件粘附灰尘，便于使用。

技术特征：

1.一种存储芯片测试装置，其特征在于：包括底座(100)、凹槽(200)、壳体(300)和气缸(400)，所述凹槽(200)开在所述底座(100)的顶部中间，所述壳体(300)固定连接在所述底座(100)的顶部，所述气缸(400)固定连接在所述壳体(300)的顶部中间，且所述气缸(400)的输出端贯穿所述壳体(300)的顶部中间，并延伸至所述壳体(300)的内腔，所述底座(100)的底部左右两侧固定连接有垫板(110)，所述底座(100)的内腔底部右侧固定连接有第一箱体(130)，所述第一箱体(130)的内侧壁中间之间固定连接有过滤组块(140)，所述第一箱体(130)的右侧壁上侧插接有传输管(150)，且所述传输管(150)贯穿所述底座(100)的内腔顶部右侧，并延伸至所述壳体(300)的内腔，所述传输管(150)的末端固定连接有扩展罩(160)，且所述扩展罩(160)固定连接有在所述壳体(300)的内腔右侧壁，所述底座(100)的内腔底部中间固定连接有抽风机(170)，且所述抽风机(170)的输出端插接有第一导管(180)，且所述第一导管(180)插接在所述第一箱体(130)的左侧壁下侧，所述抽风机(170)的输入端插接有第二导管(190)，且所述第二导管(190)插接在所述底座(100)的内腔底部中间，所述凹槽(200)的内腔底部固定连接有第一直线电机(210)，所述第一直线电机(210)的输出端固定连接有支撑板(220)，所述支撑板(220)的顶部左侧固定连接有纳物台(230)，所述支撑板(220)的顶部右侧固定连接有测试装置本体(240)，所述壳体(300)的前侧壁左下侧铰接有感应门(340)，所述气缸(400)的输出端固定连接有第二直线电机(410)，所述第二直线电机(410)的输出端固定连接有第二箱体(420)，所述第二箱体(420)的底部中间固定连接有压块(430)，所述压块(430)的底部开有安装槽(440)，所述安装槽(440)的内腔顶部固定连接有真空吸盘(450)，所述第二箱体(420)的内腔底部右侧固定连接有真空泵(470)，所述真空泵(470)的输出端插接有连接管(480)，且所述连接管(480)贯穿所述第二箱体(420)的内腔底部中间和所述压块(430)的顶部中间之间，并插接在所述真空吸盘(450)的连接端。

2.根据权利要求1所述的一种存储芯片测试装置，其特征在于：所述底座(100)的内腔底部左侧固定连接有独立电池(120)，所述独立电池(120)为锂电池。

3.根据权利要求1所述的一种存储芯片测试装置，其特征在于：所述壳体(300)的左侧壁开有通孔(310)，所述通孔(310)的内侧壁左右两侧固定连接有防尘网(320)。

4.根据权利要求1所述的一种存储芯片测试装置，其特征在于：所述壳体(300)的前侧壁左上侧镶嵌有观察窗(330)，所述观察窗(330)采用钢化玻璃材质制成。

5.根据权利要求1所述的一种存储芯片测试装置，其特征在于：所述壳体(300)的前侧壁右下侧固定连接有控制面板(350)，所述控制面板(350)与抽风机(170)、第一直线电机(210)、测试装置本体(240)、感应门(340)、第二直线电机(410)和真空泵(470)电性连接。

6.根据权利要求1所述的一种存储芯片测试装置，其特征在于：所述压块(430)的底部固定连接有缓冲垫(460)，所述缓冲垫(460)采用硅胶材质制成。

技术总结本技术公开了存储芯片测试设备领域的一种存储芯片测试装置，包括底座、凹槽、壳体和气缸，所述凹槽开在所述底座的顶部中间，所述壳体固定连接在所述底座的顶部，所述气缸固定连接在所述壳体的顶部中间，且所述气缸的输出端贯穿所述壳体的顶部中间，并延伸至所述壳体的内腔，所述底座的底部左右两侧固定连接有垫板，所述底座的内腔底部右侧固定连接有第一箱体，所述第一箱体的内侧壁中间之间固定连接有过滤组块，该存储芯片测试装置，存储芯片卡入存储芯片测试装置内后便于取出，缩短了存储芯片测试时长，提高了存储芯片测试装置的使用效率，便于对工作环境进行除尘，避免了存储芯片测试装置中的重要零部件粘附灰尘，便于使用。技术研发人员：董育均,吉净,许琪,龚国栋,刘斌受保护的技术使用者：湖南酷牛存储科技有限公司技术研发日：20230719技术公布日：2024/1/22