一种固态硬盘的老化测试系统的制作方法

本申请涉及硬盘测试，具体涉及一种固态硬盘的老化测试系统。

背景技术：

1、固态硬盘(solid state disk或solid state drive，简称ssd)，又称固态驱动器，是用固态电子存储芯片阵列制成的硬盘。固态硬盘采用闪存作为存储介质，读取速度相对机械硬盘更快，闪存中半导体介质有其自身的物理参数，例如编程次数、擦除次数、编程时间、擦除时间、读取时间、温度对性能的影响、闪存大小等，如上介质信息的物理参数直接影响数据存储的性能和完整性，为确保固态硬盘存储可靠，需要对固态硬盘进行一定程度的老化测试。

2、现有技术中，固态硬盘老化测试通常采用的方案是将固态硬盘放入温控箱中，再通过转接板将固态硬盘连接至电脑的硬盘接口，这种方式每次只能测试一个固态硬盘，针对需要测试多个固态硬盘的场景而言，需要操作人员手动上电下电，操作繁琐，效率较低。

技术实现思路

1、本申请旨在解决现有固态硬盘老化测试方式存在效率低的问题，提出一种固态硬盘的老化测试系统。

2、本申请解决上述技术问题所采用的技术方案是：

3、一种固态硬盘的老化测试系统，包括温控箱、上位机、至少一个下位机、至少一个pci-e转接卡和多个minisas转接卡，所述pcie转接卡包括一个pci-e接口和多个minisas接口，所述minisas转接卡包括一个minisas接口和一个固态硬盘接口，所述上位机分别与下位机和温控箱通信连接，所述pci-e转接卡的pci-e接口与下位机的pci-e接口连接，所述pci-e转接卡的minisas接口通过sff-8643连接线与对应的minisas转接卡的minisas接口连接，所述minisas转接卡的固态硬盘接口与待测固态硬盘连接，所述待测固态硬盘放置于温控箱中。

4、进一步地，所述固态硬盘接口为m.2接口、u.2接口或sata接口。

5、本申请的有益效果是：本申请所述的固态硬盘的老化测试系统，一次上电之后无需用户再进行下电和上电操作，即可同时对多个固态硬盘进行老化测试，简化了操作人员的操作，提高了固态硬盘的老化测试效率。

技术特征：

1.一种固态硬盘的老化测试系统，其特征在于，包括温控箱、上位机、至少一个下位机、至少一个pci-e转接卡和多个minisas转接卡，所述pci-e转接卡包括一个pci-e接口和多个minisas接口，所述minisas转接卡包括一个minisas接口和一个固态硬盘接口，所述上位机分别与下位机和温控箱通信连接，所述pci-e转接卡的pci-e接口与下位机的pci-e接口连接，所述pci-e转接卡的minisas接口通过sff-8643连接线与对应的minisas转接卡的minisas接口连接，所述minisas转接卡的固态硬盘接口与待测固态硬盘连接，所述待测固态硬盘放置于温控箱中。

2.根据权利要求1所述的固态硬盘的老化测试系统，其特征在于，所述固态硬盘接口为m.2接口、u.2接口或sata接口。

技术总结本申请涉及硬盘测试技术领域，公开了一种固态硬盘的老化测试系统，旨在解决现有终固态硬盘老化测试方式存在效率低的问题，方案主要包括：一种固态硬盘的老化测试系统，包括温控箱、上位机、至少一个下位机、至少一个PCI‑E转接卡和多个MiniSAS转接卡，所述上位机分别与下位机和温控箱通信连接，所述PCI‑E转接卡的PCI‑E接口与下位机的PCI‑E接口连接，所述PCI‑E转接卡的MiniSAS接口通过SFF‑8643连接线与对应的MiniSAS转接卡的MiniSAS接口连接，所述MiniSAS转接卡的固态硬盘接口与待测固态硬盘连接，所述待测固态硬盘放置于温控箱中。本申请提高了固态硬盘的老化测试效率，适用于多个固态硬盘同时进行老化测试。技术研发人员：刘垚,吴强,丁双朋,徐浩瀚,邓先富,钱自进,梁晓旭受保护的技术使用者：四川爱联科技股份有限公司技术研发日：20231008技术公布日：2024/6/5