一种存储芯片的测试系统的制作方法

本技术涉及芯片检测领域，更具体地，涉及一种存储芯片的测试系统。

背景技术：

1、目前现行的检测存储芯片方式，大多是利用多个检测装置，逐一地对各个存储芯片，逐一进行预定的各种检测，如此检测的方式，需要耗费大量的时间。另外，现有存储芯片检测的设备，大多是以人工的方式，进行存储芯片的插接及卸除。因此，需要大量的人力并耗费大量的时间，才可完成大量的存储芯片的检测作业。

技术实现思路

1、本实用新型的目的在于克服现有技术的不足，提供一种存储芯片的测试系统，可以提高芯片检测效率。

2、本实用新型的目的是通过以下方案实现的：

3、一种存储芯片的测试系统，包括：

4、多个检测装置、控制装置及移载装置，控制装置电性连接多个检测装置，移载装置电性连接控制装置；所述检测装置设置有检测结果信息输出端且与控制装置的第一输入端连接，所述检测装置设置有完成信号输出端且与控制装置的第二输入端连接，所述控制装置设置有检测信息输出端且与检测装置的输入端连接；所述控制装置设置有移载信号输出端且与移载装置的输入端连接；

5、还包括参数储存装置，在参数储存装置储存有多个检测作业参数，且参数储存装置电性连接控制装置；移载装置在控制装置的控制下用于将多个存储芯片安装于多个检测装置上，或将安装于各个检测装置上的存储芯片卸除。

6、进一步地，还包括：输入装置，输入装置电性连接控制装置；输入装置用于提供使用者操作，而对应产生输入信号，控制装置则依据输入信号，读取参数储存装置所储存的检测作业参数，形成检测信息后通过设置的所述检测信息输出端输出控制检测装置。

7、进一步地，还包括：显示装置，显示装置电性连接控制装置，在显示装置上能够显示参数储存装置所储存的多个检测作业参数。

8、进一步地，所述检测装置设置有侦测单元一，侦测单元一能够与控制装置发出的测试信号建立通信连接，用于侦测相对应的检测装置上是否设置有存储芯片。

9、进一步地，还包括：承载装置，控制装置电性连接承载装置，承载装置用于承载待检测的多个存储芯片，且承载装置设有侦测单元二，侦测单元二能够与控制装置发出的确认信号通信连接，用于侦测承载装置是否设置有存储芯片，并产生侦测结果信息后输出到控制装置。

10、进一步地，所述参数储存装置设置于控制装置中或者设为独立储存装置。

11、进一步地，所述控制装置包括计算机设备或微处理器。

12、进一步地，所述检测装置设置有电子卡扣和电插接槽，各个电子卡扣辅助存储芯片稳定地固定设置于检测装置的电插接槽中。

13、进一步地，所述电子卡扣电性连接控制装置，而控制装置能够控制电子卡扣的动作。

14、进一步地，所述移载装置包括机械手臂。

15、本实用新型的有益效果：

16、本实用新型的系统，相比传统依赖人工的方式，可以提高芯片检测效率。

技术特征：

1.一种存储芯片的测试系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的存储芯片的测试系统，其特征在于，还包括：

3.根据权利要求1所述的存储芯片的测试系统，其特征在于，还包括：

4.根据权利要求1所述的存储芯片的测试系统，其特征在于，所述检测装置设置有侦测单元一，侦测单元一能够与控制装置发出的测试信号建立通信连接，用于侦测相对应的检测装置上是否设置有存储芯片。

5.根据权利要求1所述的存储芯片的测试系统，其特征在于，还包括：承载装置，控制装置电性连接承载装置，承载装置用于承载待检测的多个存储芯片，且承载装置设有侦测单元二，侦测单元二能够与控制装置发出的确认信号通信连接，用于侦测承载装置是否设置有存储芯片，并产生侦测结果信息后输出到控制装置。

6.根据权利要求1所述的存储芯片的测试系统，其特征在于，所述参数储存装置设置于控制装置中或者设为独立储存装置。

7.根据权利要求1所述的存储芯片的测试系统，其特征在于，所述控制装置包括计算机设备或微处理器。

8.根据权利要求1所述的存储芯片的测试系统，其特征在于，所述检测装置设置有电子卡扣和电插接槽，各个电子卡扣辅助存储芯片稳定地固定设置于检测装置的电插接槽中。

9.根据权利要求8所述的存储芯片的测试系统，其特征在于，所述电子卡扣电性连接控制装置，而控制装置能够控制电子卡扣的动作。

10.根据权利要求1所述的存储芯片的测试系统，其特征在于，所述移载装置包括机械手臂。

技术总结本技术公开了一种存储芯片的测试系统，属于芯片测试领域，包括：多个检测装置、控制装置及移载装置，控制装置电性连接多个检测装置，移载装置电性连接控制装置；检测装置设置检测结果信息输出端且与控制装置的第一输入端连接，检测装置设置完成信号输出端且与控制装置的第二输入端连接，控制装置设置检测信息输出端且与检测装置的输入端连接；控制装置设置移载信号输出端且与移载装置的输入端连接；包括参数储存装置，在参数储存装置储存有多个检测作业参数，且参数储存装置电性连接控制装置；移载装置在控制装置的控制下用于将多个存储芯片安装于多个检测装置上，或将安装于各个检测装置上的存储芯片卸除；本技术可以提高芯片检测效率。技术研发人员：谢杰志受保护的技术使用者：成都芯金邦科技有限公司技术研发日：20231227技术公布日：2024/7/29