坏点校正方法及装置、设备、存储介质与流程

本申请实施例涉及图像处理，涉及但不限于一种坏点校正方法及装置、设备、存储介质。

背景技术：

1、在图像处理领域，图像的获取通常是通过拍摄装置的图像传感器采集得到，坏点，是指图像传感器中，某些像素位置的感光单元由于生产工艺或外界环境影响造成损坏，导致其在成像时无法正确反映光线信息，从而在图像上形成明显的异常亮点或暗点。当采集图像中存在坏点时，坏点可能表现为像素的异常亮度、颜色或缺失，使得图像在视觉上显得不连贯或失真，无法准确显示出拍摄对象的实际纹理，影响图像质量。

技术实现思路

1、有鉴于此，本申请实施例提供的坏点校正方法及装置、设备、存储介质，能够对待处理图像中的坏点进行校正，保留了坏点区域的纹理细节，提高了图像质量。本申请实施例提供的坏点校正方法及装置、设备、存储介质是这样实现的：

2、本申请实施例提供的坏点校正方法，包括：

3、获取待处理图像中坏点的像素位置；

4、根据目标尺寸的滑动窗口，遍历所述待处理图像中目标扫描区域的多个像素位置，获取多个对照区域，所述多个像素位置不包括所述坏点的像素位置，所述多个对照区域与所述多个像素位置一一对应；

5、分别计算每个对照区域与参考区域的区域相似度，所述参考区域为以所述坏点为中心且尺寸为所述目标尺寸的区域；

6、根据目标对照区域的中心像素，调整所述坏点的像素值，所述目标对照区域为所述多个对照区域中区域相似度大于或等于相似度阈值的对照区域。

7、在一些实施例中，在所述根据目标尺寸的滑动窗口，遍历所述待处理图像中目标扫描区域的多个像素位置，获取多个对照区域前，所述方法还包括：

8、获取所述待处理图像中检测区域对应的梯度数据，所述梯度数据包括所述检测区域的各个像素与周边像素的像素差值；

9、根据所述梯度数据，确定所述检测区域中的目标像素，所述目标像素的梯度值大于或等于预设梯度阈值；

10、根据所述目标像素与所述检测区域中全部像素的占比，确定所述目标尺寸，所述占比越高，所述目标尺寸越大。

11、在一些实施例中，所述根据目标对照区域的中心像素，调整所述坏点的像素值，包括：

12、调整所述坏点的像素值为所述目标对照区域的中心像素的像素值。

13、在一些实施例中，所述根据目标对照区域的中心像素，调整所述坏点的像素值，包括：

14、根据所述目标对照区域和所述参考区域像素的像素值，得到调整比例；

15、根据所述调整比例和所述中心像素的像素值，获取目标像素值；

16、调整所述坏点的像素值为所述目标像素值。

17、在一些实施例中，所述目标扫描区域为以所述坏点为中心且尺寸大于所述参考区域的区域，所述目标扫描区域的尺寸与所述参考区域的尺寸的比值大于或等于预设阈值。

18、在一些实施例中，所述待处理图像为rgb图像，所述坏点为所述rgb图像中目标通道中存在的坏点，所述目标通道为r通道、g通道和b通道的至少一个通道。

19、在一些实施例中，所述多个对照区域中的任一对照区域与所述参考区域之间的公共像素位置的数量小于预设的数量阈值。

20、本申请实施例提供的坏点校正装置，包括：

21、检测模块，用于获取待处理图像中坏点的像素位置；

22、扫描模块，用于根据目标尺寸的滑动窗口，遍历所述待处理图像中目标扫描区域的多个像素位置，获取多个对照区域，所述多个像素位置不包括所述坏点的像素位置，所述多个对照区域与所述多个像素位置一一对应；

23、校正模块，用于分别计算每个对照区域与参考区域的区域相似度，所述参考区域为以所述坏点为中心且尺寸为所述目标尺寸的区域；根据目标对照区域的中心像素，调整所述坏点的像素值，所述目标对照区域为所述多个对照区域中区域相似度大于或等于相似度阈值的对照区域。

24、本申请实施例提供的计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现本申请实施例所述的方法。

25、本申请实施例提供的计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现本申请实施例提供的所述的方法。

26、本申请实施例所提供的坏点校正方法、装置、计算机设备和计算机可读存储介质，至少包括以下有益效果：

27、在获取待处理图像中坏点的像素位置后，通过目标尺寸的滑动窗口遍历目标扫描区域的方式，可以快速获取多个对照区域，避免对待处理图像全局扫描，提高了处理效率。

28、通过比较以坏点为中心且尺寸为目标尺寸的参考区域与每个对照区域之间的区域相似度，能够获取目标扫描区域中纹理细节与坏点所在的参考区域最相近的目标对照区域。并依据目标对照区域的中心像素，调整坏点的像素值。这样提高了坏点校正的准确性，使校正后的坏点区域更接近真实的图像纹理细节。

技术特征：

1.一种坏点校正方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述根据目标尺寸的滑动窗口，遍历所述待处理图像中目标扫描区域的多个像素位置，获取多个对照区域前，所述方法还包括：

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据目标对照区域的中心像素，调整所述坏点的像素值，包括：

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据目标对照区域的中心像素，调整所述坏点的像素值，包括：

5.根据权利要求1-4任一所述的方法，其特征在于，所述目标扫描区域为以所述坏点为中心且尺寸大于所述参考区域的区域，所述目标扫描区域的尺寸与所述参考区域的尺寸的比值大于或等于预设阈值。

6.根据权利要求1-4任一所述的方法，其特征在于，所述待处理图像为rgb图像，所述坏点为所述rgb图像中目标通道中存在的坏点，所述目标通道为r通道、g通道和b通道的至少一个通道。

7.根据权利要求1-4任一所述的方法，其特征在于，所述多个对照区域中的任一对照区域与所述参考区域之间的公共像素位置的数量小于预设的数量阈值。

8.一种坏点校正装置，其特征在于，包括：

9.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现权利要求1至7任一项所述方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的方法。

技术总结本申请实施例公开了一种坏点校正方法及装置、设备、存储介质，上述方法包括：获取待处理图像中坏点的像素位置；根据目标尺寸的滑动窗口，遍历待处理图像中目标扫描区域的多个像素位置，获取多个对照区域，多个像素位置不包括坏点的像素位置，多个对照区域与多个像素位置一一对应；分别计算每个对照区域与参考区域的区域相似度，参考区域为以坏点为中心且尺寸为目标尺寸的区域；根据目标对照区域的中心像素，调整坏点的像素值，目标对照区域为多个对照区域中区域相似度大于或等于相似度阈值的对照区域。能够对待处理图像中的坏点进行校正，保留了坏点区域的纹理细节，提高了图像质量。技术研发人员：费旭东受保护的技术使用者：西安闻泰电子科技有限公司技术研发日：技术公布日：2024/7/29